标准解读
《YS/T 581.16-2008 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第16部分:X射线荧光光谱分析法测定元素含量》是一项针对氟化铝中元素含量检测的标准,采用X射线荧光光谱技术作为主要手段。该标准详细规定了使用此技术对氟化铝样品进行预处理、制备试样以及通过仪器设置参数来获取准确的元素含量数据的方法流程。
根据标准要求,在实验开始前需要准备好符合规格的氟化铝样品,并对其进行适当的研磨与混合以确保均匀性。接下来,将处理好的样品制成适合X射线荧光光谱仪测量的形式,比如压片或熔融玻璃片。选择合适的样品制备方式对于保证测试结果的准确性至关重要。
在进行X射线荧光光谱分析时,需按照标准提供的条件调整设备参数,包括但不限于激发源类型(如铑靶)、电压电流设置等,以获得最佳的信号响应。同时,还应考虑到基体效应及可能存在的重叠干扰等问题,采取适当措施加以校正,比如使用经验系数法或者基本参数法来进行定量分析。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2008-03-12 颁布
- 2008-09-01 实施



文档简介
犐犆犛77.120.10
犎30
中华人民共和国有色金属行业标准
犢犛/犜581.16—2008
氟化铝化学分析方法和物理性能
测定方法第16部分:犡射线荧光
光谱分析法测定元素含量
犆犺犲犿犻犮犪犾犪狀犪犾狔狊犻狊犿犲狋犺狅犱狊犪狀犱犱犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀
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20080312发布20080901实施
国家发展和改革委员会发布
书
犢犛/犜581.16—2008
前言
YS/T581《氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法》共分为16部分:
———第1部分:重量法测定湿存水含量;
———第2部分:烧减量的测定;
———第3部分:蒸馏硝酸钍容量法测定氟含量;
———第4部分:EDTA容量法测定铝含量;
———第5部分:火焰原子吸收光谱法测定钠含量;
———第6部分:钼蓝分光光度法测定二氧化硅含量;
———第7部分:邻二氮杂菲分光光度法测定三氧化二铁含量;
———第8部分:硫酸钡重量法测定硫酸根含量;
———第9部分:钼蓝分光光度法测定五氧化二磷含量;
———第10部分:X射线荧光光谱分析法测定硫含量;
———第11部分:试样的制备和贮存;
———第12部分:粒度分布的测定筛分法;
———第13部分:安息角的测定;
———第14部分:松装密度的测定;
———第15部分:游离氧化铝含量的测定;
———第16部分:X射线荧光光谱分析法测定元素含量。
本部分为第16部分。
本部分附录A为资料性附录。
本部分由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口。
本部分由中国铝业股份有限公司郑州研究院、中国有色金属工业标准计量质量研究所负责起草。
本部分由多氟多化工有限公司、内蒙古霍煤鸿骏铝电有限责任公司、福建省南平铝业有限公司参加
起草。
本部分主要起草人:张爱芬、张树朝、马慧侠、席欢、薛旭金、李志辉、施继琴。
Ⅰ
书
犢犛/犜581.16—2008
氟化铝化学分析方法和物理性能
测定方法第16部分:犡射线荧光
光谱分析法测定元素含量
1范围
2-
本部分规定了氟化铝中氟、铝、钠、硅、铁、硫、磷含量(以F、Al、Na、SiO2、Fe2O3、SO4、P2O5表示)
的测定方法。
本部分适用于氟化铝中氟、铝、钠、硅、铁、硫、磷含量的测定。测定范围见表1。
表1
组分测量范围/%组分测量范围/%
F50.00~68.00Fe2O30.010~0.50
2-
Al25.00~36.00SO40.10~2.00
Na0.020~10.00P2O50.0020~0.30
SiO20.010~0.60
2方法原理
试料用无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂熔融,加少量溴化锂(或碘化铵)作脱模剂。在熔样机中
熔融,制成玻璃样片。用X射线荧光光谱仪进行测量。用理论α系数或基本参数法校正元素间的吸收
增强效应。
3试剂
3.1无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂[Li2B4O7(67%)+LiBO2(33%)]:在700℃下灼烧2h,置于干
燥器中保存。
3.2脱膜剂:溴化锂饱和溶液或碘化铵溶液(300g/L)。
3.3监控样品:监控样品应是稳定的玻璃片,含有所有校准元素,其含量应使其计数率的统计误差小于
或等于校准元素的计数率统计误差。
4仪器
4.1铂金合金坩埚(95%Pt+5%Au)。
4.2铂金合金铸模(95%Pt+5%Au):铸模材料底厚度约1mm,使其不易变形。
注:熔样器皿铸型模可合二为一。若试样在坩埚中熔融后直接成型,则要求坩埚底面内壁平
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