导体半导体绝缘粉末电阻率测试方法

导体/半导体/绝缘粉末电阻率测试方法粉末按照导电程度可以和固体材料一样，划分为导体粉末、半导体粉末、绝缘粉末三种性质，这些性质决定了不同的测量仪器和测量方法一.导体粉末电阻率测试方法-四端法测量导体电阻率的方法是通过一对引线强制电流流过样品，用另一对引线测量其电压降来决定已知几何尺寸的样品的电阻。虽然，测量电阻率使用的具体方法决定于样品的大小和形状。但是所有的方法都需要使用灵敏的电压表和电流源或微欧姆计来进行测量，因为要测量的电阻一般都非常小。根据样品的横截面积和电压表引线之间的距离计算出电阻率：其中：ρ=以厘米-欧姆为单位的电阻率；V=电压表测量的电压；I=电流源电流；A=以厘米2为单位的样品的横截面积(w×t)；L=以厘米为单位的电压表引线之间的距离。为了补偿热电动势的影响，在正向测试电流之下得到一个电压读数，再在负向测试电流之下得到另一个电压读数。将这两个电压读数的绝对值进行平均，并将其用在公式的VI中。大多数材料都具有很大的温度系数，所以一定要将样品保持在已知的温度之下进行测试。二.半导体粉末电阻率测试方法-四探针法常用于锂电池材料和其他半导体类似性质的粉末分析，四探针法用在非常薄的样品，例如晶圆片和导电涂层上。图2是四点铜线探针用于电阻率测量的配置图。电流从两个外部的探针加入，而电压降则在两个内部的探针之间测量。表面电阻率的计算公式为：其中：σ=以欧姆/□为单位的表面电阻率，V=电压表测得的电压，I=电流源电流。注意，表面电阻率的单位表达为欧姆，以区别于测量出的电阻(V/I)。对于极薄或极厚的样品，在粉末测试过程中，样品的压缩厚度一般要控制小于4mm为佳，并采用最大压力压实粉末，直至样品样品不可压为止.三.绝缘粉末电阻率测试方法—两探针法在绝缘粉末的测试过程中，绝缘粉末一般都是高阻特性，采用高电压，微电流测试，通过大电压对样品的激励从而测试出数据，一般来说，测试的样品量控制在1-5克量足够，少量的样品量能在有限的压力下，将样品压实，从而可以获得稳定数据.FT-8400系列智能绝缘粉末电阻率测试仪详情介绍（智能型）FT-8400Seriesofintelligentinsulationpowderresistivitytesterdetails功能概述：Functionaloverview大量程电阻测量范围、最大测量到10的16次方Ω.采用高精度集成电路模块；智能一体化结构设计，整体大方，USB，232通讯接口，高精直流恒压源，两电极法和三环电极法测量模式并存，全程采用PC软件操作，自动测试过程数据曲线及图谱分析报表生成，存储，打印工作原理：放置于固体模具中的粉末样品收到压力的变化，从而体积被压缩，在压缩的过程中，实时测量粉末样品受到压力后，体积变化过程中电阻，电阻率，的变化，直至压实至稳定体积状态；即空隙率很小接近于零.解决粉体样品无法压片成型或压片后取出测量带来的人为误差.应用说明：粉体受到压缩直至平稳时，粉体空隙率非常小，压实密度接近于真密度状态，则此时测试出来的粉末电导率为接近于理论值.描述了绝缘粉体在压缩体积变化过程中，电性能的变化趋势.描述绝缘粉体压缩后压力减少过程中粉体因自身特性内聚力反弹形变或恢复过程变化曲线图谱.适用范围：Scopeofapplication应用于：塑料粉末，涂料，树脂粉末，化工粉末，橡胶粉等具有类似性质之绝缘粉体颗粒物料的测