标准解读

《JJG 101-2004 接触式干涉仪》是中国国家计量检定规程之一,主要针对接触式干涉仪的检定方法和技术要求进行了规定。该标准适用于新制造、使用中以及修理后的接触式干涉仪的首次检定和后续检定。接触式干涉仪主要用于测量工件表面形状误差和平面度等几何量参数。

根据此标准,接触式干涉仪需要满足一定的技术条件才能被认为是合格的,包括但不限于仪器的基本参数如测量范围、分辨率、重复性等;同时对环境条件也有明确要求,比如温度控制在(20±2)℃范围内,并且相对湿度不超过75%。

检定过程中涉及到多个步骤,首先是外观检查,确保没有影响正常使用的缺陷;其次是性能测试,通过一系列实验来验证设备是否能够达到其标称的技术指标,例如通过标准块规或已知尺寸的标准件来进行精度校验;此外还需进行稳定性试验以评估长时间运行下的表现。

对于不同类型的接触式干涉仪,具体的操作流程可能会有所差异,但总体上都遵循上述基本原则。完成所有必要的检测后,如果发现有任何一项不符合规定,则需采取相应措施直至满足要求为止。整个过程由具备资质的专业人员执行,并记录详细的测试数据与结果供日后参考。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2004-09-21 颁布
  • 2005-03-21 实施
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JJG 101-2004接触式干涉仪_第1页
JJG 101-2004接触式干涉仪_第2页
JJG 101-2004接触式干涉仪_第3页
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文档简介

中华人民共和国国家计量检定规程

JJG101—2004

接触式干涉仪

Contact-typeInterferometers

2004-09-21发布2005-03-21实施

国家质量监督检验检疫总局发布

JJG101—2004

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接触式干涉仪检定规程췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍

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VerificationReulationof代替JJG101—1981췍

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Contact-typeInterferometers

本规程经国家质量监督检验检疫总局于年月日批准并自

20040921,

年月日起施行

20050321。

归口单位:全国几何量长度计量技术委员会

起草单位:上海市计量测试技术研究院

本规程委托全国几何量长度计量技术委员会负责解释

JJG101—2004

本规程起草人:

殷德华上海市计量测试技术研究院

()

张鸿顺上海市计量测试技术研究院

()

JJG101—2004

目录

范围……………………

1(1)

引用文献………………

2(1)

概述……………………

3(1)

计量性能要求…………

4(2)

干涉滤光片的特性…………………

4.1(2)

平面工作台带筋工作台球筋工作台的平面度………………

4.2、、(2)

带筋工作台中间筋球筋工作台测头的高出度…………………

4.3、(2)

平面工作台的可调性………………

4.4(2)

带筋工作台与测量轴线的垂直度…………………

4.5(2)

工作台工作面的粗糙度……………

4.6(2)

带筋工作台球筋工作台与辅助工作台的相对位置……………

4.7、(3)

测量力及其调整范围………………

4.8(3)

测量杆径向受力时的示值变化……………………

4.9(3)

干涉带的成像质量和调整的可靠性……………

4.10(3)

干涉带的对称性…………………

4.11(3)

测量重复性………………………

4.12(3)

仪器的示值误差…………………

4.13(3)

平行平晶的平面度和平行度……………………

4.14(3)

通用技术要求…………

5(3)

外观及各部分相互作用……………

5.1(3)

标识…………………

5.2(4)

计量器具控制…………

6(4)

检定条件……………

6.1(4)

检定项目……………

6.2(4)

检定方法……………

6.3(5)

检定结果的处理……………………

6.4(8)

检定周期……………

6.5(8)

附录测帽的技术要求及检定方法…………………

A(9)

附录主要配套检定工具及其技术要求……………

B(10)

附录检定证书及检定结果通知书内页格式………

C(12)

JJG101—2004

接触式干涉仪检定规程

1范围

本规程适用于接触式干涉仪的首次检定后续检定和使用中检验

、。

2引用文献

本规程引用下列文献

:

通用计量术语及定义

JJF1001—1998

测量不确定度评定与表示

JJF1059—1999

立式接触式干涉仪

JB/T8233—1999

光学计量仪器用测帽

JB/T9342—1999

使用本规程时应注意使用上述引用文献的现行有效版本

,。

3概述

接触式干涉仪是应用光波干涉原理采用比较法测量长度的仪器主要用于检定长

,。

度不大于的量块和其他工件的精密测量

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