光电综合设计

光电综合设计任课教师：黄衍堂1034963930@选题1、光纤传感技术：半导体吸收型光纤温度传感器2、光电法外形尺寸检测：光电扫描检测法，CCD自扫描检测法。3、位移量检测：激光干涉位移检测，光栅线位移检测、光栅角位移检测、激光测距4、外观检测：基于面阵CCD成像的表面粗糙度检测、内表面疵病检测，形状检测。5、光电温度检测技术，6、光电图像检测、红外诊断与红外热成像技术，红外检测网络与物联网技术7、红外传感与检测技术8、通过双光栅激光衍射，实现微振动位移、频率的测量9、激光位频实验10、M-Z光纤干涉仪及光纤传感实验11、采用光纤测温技术，实现聚光太阳能技术中GaAs芯片温度分布的实时测量及芯片的保护装置设计；12、采用荧光寿命光纤测温技术实现轨道变压器绕组温度的测量；13、电力开关柜的无线测温方案；14、采用荧光寿命的光纤测温技术，实现油浸变压器绕组温度的实时测量；15、长距激光测距仪。16、光学电流互感器技术17、光学电压互感器技术8、光电传感技术在石油与化工行业的应用：分布式光纤温度和压传感器，井下油气水光谱分析仪。9、光电传感技术在生物、医院、生化领域的应用：光纤体压计、光纤血流计，液芯光纤温度传感器10、光电传感器在环境保护与监测中的应用：气体传感技术及其应用，光纤荧光气体传感

2.半导体激光发散角的测定侧横场发散角例如,不同激励电流下正横场发散角的变化3.半导体激光器偏振度的测量偏振片I∥=60uW例如,由P=（I∥-I⊥）/（I∥+I⊥）计算可得偏振度为94.5%I⊥=1.7uW4.半导体激光器的光谱特性测试（1）调节激光器前面的准直透镜，使激光束在光学多道分析仪的入射狭缝附近会聚，然后调节激光器的水平方位、高低和仰俯，使激光束平行于光学平台的台面，且使激光束从入射狭缝的中心位置附近射入光谱仪。（2）观察电流较小时半导体激光器的自发辐射光谱。（3）观察电流较大时半导体激光器的激光光谱，并测量线宽。He-Ne激光器模式分析实验共焦球面扫描干涉仪的基本工作原理

当L改变λ/4，则干涉仪改变一个干涉级，我们定义相邻两个干涉级之间所允许透射光的频差为干涉仪的自由光谱范围：由于反射镜的反射率相当高，注入腔内的光束将在腔内多次反射形成多光束，从多光束干涉的角度来看，入射光束中那些满足干涉相长条件的光谱成分才能透过干涉仪。当光束正入射时，干涉相长的条件为：不同横模间的频率差

相邻两个纵模的频率间隔由光学谐振腔理论可知，稳定腔的输出频率为：

纵模、横模的分布

K序K+1序常见的横模光斑图

半导体泵浦激光原理实验半导体泵浦固体激光器结构图

808nmLD:输出波长808nmNd:YVO4晶体:尺寸3*3*1mm

输出波长1064nmKTP倍频晶体:尺寸2*2*5mm

输出波长5324nm输出镜:R=50mm

对808nm,1064nm高反对532nm增透仪器参数半导体激光泵浦固体激光器原理图(端泵浦方式)光路调节过程1．将808nmLD固定在二维调节架上，将He-Ne632.8nm红光通过白屏小孔聚到折射率梯度透镜上。让He-Ne632.8nm光和小孔及808nmLD在同一轴线上。2．将安装了Nd:YVO4晶体的二维调节架放上，将He-Ne光通过晶体并将返回的光点通过小孔。3．在Nd:YVO4晶体和输出镜之间插入KTP倍频晶体，将He-Ne

光通过晶体并将返回的光点通过小孔。调节固定在四维调节架上的输出镜使返回的光点通过小孔。对于有一定曲率的输出镜，会有几个光斑，应区分出从球心返回的光斑。5．接通电源，调节多圈电位器(200-400mA),调节输出镜，LD

调节架。优化光路,获得532nm倍频绿激光。注意事项1．实验中激光器输出的光能量高、功率密度大，应避免直射到眼睛。特别是532nm绿光，切勿用眼睛直视激光器的轴向输出光束，以免视网膜受到永久性的伤害。2．避免用手接触激光器的输出镜，晶体的镀膜面。激光器应注意开关步骤，先检查多圈电位器是否处于最小处，再打开电源开关，逐步调整电位器，使电流逐渐增大，激光器出光。实验完成后，调整电位器，直到电流为零，再关闭电源。4.功率计量程设置在200mW档。实验项目

调节光路，获得532nm倍频激光。