X射线荧光分析

1X荧光成分分析xrayFluorescenceSpectroscope(XRF)

2某些物质被一定波长的光照射时，会在一定时间内发射出波长比入射光长的光，如果这个时间比较短，这种光就称为荧光。荧光由一种能发荧光的矿物

萤石(fluosrite)而得名。除了紫外光和可见光可能激发荧光外，其它的光如红外光、X射线也可能激发出荧光，因此除紫外荧光或可见荧光外，还有红外荧光、X射线荧光等。31方法特点

2分析原理

3仪器构成

4WDS-XRF

5EDS-XRF

6定量分析第二部分.X荧光成分分析41方法特点（1）第二部分.X荧光成分分析

XRF是一种最有效的无损成分分析手段之一。优点：(1)速度快，一般测定一种元素(定量)需10－100秒；(2)可检测固态、粉末、液态样品，以及晶质、非 晶质等样品的化学成分；(3)非破坏性测试，不损伤样品(但对于某些高分子 物质，如有机物，则会引起颜色变化)；(4)是一种物理分析方法，分析元素范围F9－U92， 分析的浓度范围1ppm－100%；51方法特点（2）第二部分.X荧光成分分析优点：(5)制样简单，板状样品把被照射面加工成平面即可，粉末样品经粉碎、压片即可；(6)系表面分析，一般测定深度为0.1mm范围，另外也是表面整体分析，即分析整个照射面范围内的元素种类和含量；61方法特点(3)第二部分.X荧光成分分析缺点：(1)难以作绝对分析，因此定量分析时需参照标准物质进行；(2)原子序数低的元素，其检出限及测定误差都相对较大。71方法特点（4）第二部分.X荧光成分分析仪器外观：依据光源系统的不同、探测方式的不同，仪器的大小、形状有一定差异。81方法特点（5）第二部分.X荧光成分分析光源：X射线光源：白色X射线。即具有各种波长的X射线，可分析前面所列范围的所有元素。放射性同位素光源：放射出的射线亦在X射线范围，但能量是固定的。因此只能分析部分元素。仪器的体积可以很小，最新型的相当于一个计算器的大小。同步辐射光源：光源的能量更大，对后续的二次射线检测很有利，所以分析精度更高，但仪器造价很昂贵。92分析原理（1）第二部分.X荧光成分分析102分析原理（2）第二部分.X荧光成分分析113仪器构成（1）第二部分.X荧光成分分析波长色散型XRF：WAVELENGTHDISPERSIVEXRF(WDS-XRF)通过分析样品在入射X射线作用下产生的二次X射线(荧光射线)的波长，来定性或定量分析样品的元素组成及含量。能量色散型XRF:

ENERGY-DISPERSIVEXRF（EDS－XRF）通过分析样品在入射X射线作用下产生的二次X射线(荧光射线)的能量，来定性或定量分析样品的元素组成及含量。

124WDS-XRF第二部分.X荧光成分分析

AnalyzingProcedure:135定量分析（1）第二部分.X荧光成分分析

定量分析的基本原理是测定出样品所产生的2次X射线的强度，然后与标准样品所产生的2次X射线的强度比较，从而确定出样品中某种元素的含量。

首先用一系列标准样品中某元素工作峰的强度作一条工作曲线。

然后把实际样品中对应该元素所产生的2次X射线的强度投影到工作曲线上，即可得到样品中该元素的含量。146定量分析（2）第二部分.X荧光成分分析一般对于5－95％之间的定量效果最好。95％以上的往往效果不是很好。在于标准物质选取的困难。156定量分析（3）第二部分.X荧光成分分析选线系一般对Nd60号以前的元素用Kα线作工作峰，Cd48号以后的元素用Lα或Lβ线作工作峰，而Cd48－Nd60之间的元素则用Kα或Lα、Lβ均可。测定方式定时计数法：测定在一定时间间隔内的总计数；定数计时法：测定达到一定计数值所需要的时间166定量分析（4）第二部分.X荧光成分分析标准样品的选择

所谓标准物质是指已确切知道其中某种元素的含量(化学分析数值)。