标准解读

《GB/T 26225-2010 信息技术 移动存储 闪存盘通用规范》是由中国国家标准化管理委员会发布的一项国家标准,旨在为闪存盘的设计、生产、测试及使用提供一套统一的技术要求与方法。该标准适用于基于USB接口的闪存存储设备。

根据此标准,闪存盘需满足一定的物理特性要求,包括但不限于尺寸、重量以及外壳材料等;同时,在电气性能方面也有明确的规定,比如工作电压范围、电流消耗限制等。此外,还详细定义了数据传输速率的要求,并对读写速度进行了分类说明。

对于环境适应性,《GB/T 26225-2010》同样给出了具体指导,涵盖温度、湿度等多个维度,确保产品能够在各种条件下稳定运行。安全性也是考量的重点之一,包括电磁兼容性(EMC)、静电放电抗扰度等方面都有严格规定。

在可靠性测试部分,标准列出了多种测试项目,如插拔寿命试验、高低温循环测试等,以验证产品的长期使用性能。另外,还特别强调了标签信息的重要性,要求厂商必须在外包装或产品本身上清晰标注容量大小、型号等关键参数。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2011-01-14 颁布
  • 2011-05-01 实施
©正版授权
GB/T 26225-2010信息技术移动存储闪存盘通用规范_第1页
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文档简介

ICS3524040

L63..

中华人民共和国国家标准

GB/T26225—2010

信息技术移动存储

闪存盘通用规范

Informationtechnology—Mobilestorage—

Generalspecificationofflashdisk

2011-01-14发布2011-05-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T26225—2010

目次

前言…………………………

范围………………………

11

规范性引用文件…………………………

21

术语和定义………………

32

要求………………………

42

试验方法…………………

54

检验规则…………………

66

标志包装运输和贮存…………………

7、、8

附录规范性附录故障的分类及判据………………

A()9

GB/T26225—2010

前言

本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出

本标准由全国信息技术标准化技术委员会归口

本标准起草单位中国电子技术标准化研究所普天信息技术研究院联想北京有限公司方正科

:、、()、

技集团股份有限公司北京华旗资讯数码科技有限公司深圳市朗科科技有限公司集团股份有限

、、、TCL

公司常州市音成电子有限公司北京大恒创新技术有限公司重庆禾兴江源科技有限公司上海华虹集

、、、、

成电路有限责任公司北京纽曼理想数码科技有限公司武汉天喻信息产业股份有限公司浙江欣成达

、、、

光电科技有限公司

本标准主要起草人王立建张力张宇宏李高强熊国平任建强唐怀飞李诺秦柏江卫强

:、、、、、、、、、、

谢春生严小平杨宇光熊安艺徐中强刘昌魁石磊王涛王元成

、、、、、、、、。

GB/T26225—2010

信息技术移动存储

闪存盘通用规范

1范围

本标准规定了闪存盘的术语和定义要求试验方法检验规则标志包装运输和贮存等相关

、、、、、、

内容

本标准适用于闪存盘以下简称产品其他包含闪存盘功能模块的设备也可参考

(“”),。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款凡是注日期的引用文件其随后所有

。,

的修改单不包括勘误的内容或修订版均不适用于本标准然而鼓励根据本标准达成协议的各方研究

(),,

是否可使用这些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本适用于本标准

。,。

包装储运图示标志

GB/T191—2000(eqvISO780:1997)

电工电子产品环境试验概述和指南

GB/T242.1—2008(IEC60068-1:1988,IDT)

电工电子产品环境试验术语

GB/T2422—1995(IEC60068-5-2:1990,EQV)

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验低温

GB/T2423.1—20082:A:(IEC60068-2-

1:2007,IDT)

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验高温

GB/T2423.2—20082:B:(IEC60068-2-

2:2007,IDT)

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验恒定湿热试验

GB/T2423.3—20062:Cab:

(IEC60068-2-78:2001,IDT)

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验和导则冲击

GB/T2423.5—19955:Ea:(idt

IEC60068-2-27:1987)

电工电子产品环境试验第二部分试验方法试验和导则碰撞

GB/T2423.6—1995:Eb:(idt

IEC60068-2-29:1987)

电工电子产品环境试验第二部分试验方法试验自由跌落

GB/T2423.8—1995:Ed:(idt

IEC60068-2-32:1990)

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验振动正弦

GB/T2423.10—20082:Fc:()

(IEC60068-2-6:1995,IDT)

计数抽样检验程序第部分按接收质量限检索的逐批检验抽样

GB/T2828.1—20031:(AQL)

计划

(ISO2859-1:1999,IDT)

周期检验计数抽样程序及表适用于对过程稳定性的检验

GB/T2829—2002

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