标准解读

《GB/T 18502-2018 临界电流测量 银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223氧化物超导体的直流临界电流》与《GB/T 18502-2001 银或银合金包套铋系氧化物超导体直流临界电流的测定》相比,主要存在以下几点差异:

  1. 适用范围明确化:2018版标准特别指出了适用于测量银和/或银合金包套的Bi-2212和Bi-2223两种特定类型的氧化物超导体材料的直流临界电流,而2001版标准则较为宽泛,仅提及了银或银合金包套的铋系氧化物超导体。

  2. 技术内容更新:鉴于超导材料研究和技术的进步,2018版标准在测量方法、样品制备、测试环境控制等方面可能包含了更精确、更先进的技术要求和指导原则,以适应新材料特性的准确评估。

  3. 测试精度提升:新标准可能引入了更严格的数据处理和误差分析要求,旨在提高临界电流测量的准确性和可重复性。这包括对测试设备的校准、测量条件的标准化以及数据统计分析方法的改进。

  4. 安全与环保要求:随着对实验室安全和环境保护意识的增强,2018版标准可能加入了新的安全操作规程和环保要求,确保超导材料测试过程中的人员安全和环境友好。

  5. 术语和定义更新:为适应学科发展,新标准可能对相关术语和定义进行了修订或补充,以更好地反映当前超导领域的共识和理解。

  6. 国际接轨:考虑到国际标准的发展,2018版标准可能在制定时参考了更多的国际标准或先进国家的标准实践,增强了中国标准与国际标准的一致性和互认性。

  7. 标准结构优化:为了便于使用者理解和执行,新标准在结构布局、章节划分上可能有所调整,使之更加清晰、逻辑性更强。


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....

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  • 正在执行有效
  • 2018-03-15 颁布
  • 2018-07-01 实施
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文档简介

ICS7704001

H21..

中华人民共和国国家标准

GB/T18502—2018/IEC61788-32006

代替:

GB/T18502—2001

临界电流测量

银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223

氧化物超导体的直流临界电流

Criticalcurrentmeasurement—DCcriticalcurrentofAg-and/orAg

alloy-sheathedBi-2212andBi-2223oxidesuperconductors

(IEC61788-3:2006,Superconductivity—Part3:Criticalcurrentmeasurement—

DCcriticalcurrentofAg-and/orAgalloy-sheathedBi-2212

andBi-2223oxidesuperconductors,IDT)

2018-03-15发布2018-07-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T18502—2018/IEC61788-32006

:

目次

前言

…………………………Ⅰ

引言

…………………………Ⅱ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

原理

4………………………2

要求

5………………………2

装置

6………………………3

测量骨架材料

6.1………………………3

测量骨架结构

6.2………………………3

测量装置

6.3……………3

样品准备

7…………………3

反应热处理

7.1…………………………3

测试样品的安装

7.2……………………4

测试步骤

8…………………4

测试方法的精密度与精确度

9……………5

临界电流

9.1……………5

温度

9.2…………………5

磁场

9.3…………………5

样品支撑结构

9.4………………………5

样品保护

9.5……………6

结果计算

10…………………6

临界电流判据

10.1………………………6

n值可选

10.2-()…………………………6

测试报告

11…………………6

被测样品说明

11.1………………………6

临界电流值I的测试报告

11.2(c)………………………7

测试条件报告

11.3………………………7

附录资料性附录与本标准第章相关的附加说明

A()1-10……………8

附录资料性附录高温氧化物超导体临界电流的磁滞

B()……………13

参考文献

……………………15

GB/T18502—2018/IEC61788-32006

:

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准代替银或银合金包套铋系氧化物超导体直流临界电流的测定与

GB/T18502—2001《》,

相比主要技术变化如下

GB/T18502—2001:

本标准是等同采用而是与同期建

———IEC61788-3:2006,GB/T18502—2001IEC61788-3:2000

立的只对后者有一定程度的参考与借鉴

,;

增加了背场下测量银和或银合金包套和氧化物超导体的直流临界电流的

———,Bi-2212Bi-2223

规范

本标准使用翻译法等同采用超导电性第部分临界电流测量银和或银

IEC61788-3:2006《3:/

合金包套和氧化物超导体的直流临界电流

Bi-2212Bi-2223》。

与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下

:

电工术语超导电性

———GB/T13811—2003(eqvIEC60050-815:2000)

本标准做了下列编辑性修改

:

为与现有标准系列一致将标准名称改为临界电流测量银和或银合金包套和

———,《/Bi-2212

氧化物超导体的直流临界电流

Bi-2223》;

对个别条目中出现的编辑性错误做了修改

———IEC61788-3:2006。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本标准由中国科学院提出

本标准由全国超导标准化技术委员会归口

(SAC/TC265)。

本标准起草单位中国科学院电工研究所中国电力科学研究院西部超导材料科技股份有限公司

:、、、

西北有色金属研究院

本标准主要起草人张国民林良真靖立伟丘明闫果李成山

:、、、、、。

本标准所代替标准的历次版本发布情况为

:

———GB/T18502—2001。

GB/T18502—2018/IEC61788-32006

:

引言

年和发现一些钙钛矿型铜氧化物呈现超导电性其转变温度远高

1986,J.G.BednorzK.A.Mueller,

于金属超导体自此世界范围内便开始对高温氧化物超导体进行广泛的研发工作其应用研究涉及高

。,,

场磁体低损耗电能传输电子学和其他技术等方面[1]

、、。

高温氧化物超导体的制备技术对其应用极其重要在目前所发展的高温氧化物超导体中从制备

。,

成一定实用长度且具有良好超导特性的线带材方面来讲氧化物超导体和

(),BiSrCaCu(Bi-2212

的研制最为成功这些超导体可以用于绕制磁体[2]并可显著提高超导磁体的磁场强度[3]

Bi-2223)。,。

年夏开始开展铋系氧化物超导体的临界电流测试方法方面的工作年

1993,VAMAS-TWA16。1997

月制定了银包套与氧化物超导体临界电流测量方法准则的此

9,TWA16Bi-2212Bi-2223。VAMAS

项标准化预研工作是银包套与氧化物超导体直流临界电流测量方法标准制定的基础

Bi-2212Bi-2223。

本标准给出的测试方法旨在为超导技术领域工程技术人员提供合理共识的技术依据

、。

复合超导体如银包套的铋系氧化物超导体其临界电流依赖于多种因素在材料的测试和应用

,,。

中需要考虑这些因素磁场温度样品与磁场间的相对取向等测试条件根据具体的应用来确定在

,。、、。

允许的误差范围内可根据特定样品的情况来确定测试系统配置具体的临界电流判据可由具体的应

,。

用状况确定如果测试中发现结果不规律可以多测试一些试样

。,。

GB/T18502—2018/IEC61788-32006

:

临界电流测量

银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223

氧化物超导体的直流临界电流

1范围

本标准测试方法适用于具有一体化结构呈圆扁平或方形结构的单芯或多芯银和或银合金包套

,、/

与氧化物超导体短直样品直流临界电流的测量

Bi-2212Bi-2223。

本标准测试方法适用于临界电流小于n值大于的超导体测量可在有或无外加磁场的

500A、-5。

条件下进行在磁场环境中测试时磁场应垂直于样品的长度方向在带状样品的测试中磁场可垂直

。,。,

或平行于超导体较宽的一面如果是方形任何一面均可测试过程中被测样品浸泡在液氮或液氦

(,)。,

中本标准还给出了在通常测试中本实验方法所允许的偏差以及其他具体限定

。。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改版适用于本文件

。,()。

国际电工术语第部分超导电性

IEC60050-815:2000815:[Internationalelectrotechnicalvo-

cabulary(IEV)—Part815:Superconductivity]

3术语和定义

界定的术语和定义适用于本文件为了便于使用以下重复列出了

IEC60050-815:2000

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