标准解读
GB/T 17574.11-2006 是一项中国国家标准,专注于半导体器件和集成电路领域,特别是针对数字集成电路中的单电源集成电路电可擦可编程只读存储器(EEPROM)。此标准详细规定了这类存储器的空白产品(即未编程状态)的技术要求和测试方法。下面是该标准主要内容的概述:
标准范围
本标准适用于使用单一电源供电、集成有电可擦除功能的只读存储器(EEPROM)集成电路。这些器件的特点是可以多次编程与擦除数据,且在无电源供应的情况下能保持数据不丢失。标准主要针对的是空白的EEPROM产品,定义了它们的基本性能指标和检验规则。
技术要求
- 电气特性:规定了在指定的工作电压、温度范围内,EEPROM应满足的输入输出电压/电流水平、数据保存时间、读写周期时间等电气参数。
- 数据保留:明确了在特定条件下(如高温存储或室温下长时间放置),存储的数据必须保持不丢失的最短时间。
- 耐用性:规定了擦写循环次数的最小要求,确保在达到这一次数后,存储单元仍能保持正常读写功能。
- 编程与擦除特性:详细说明了编程和擦除操作的条件、时间和成功率要求。
- 封装与机械特性:包括引脚排列、封装形式、尺寸公差以及耐热、耐湿等物理要求。
测试方法
- 描述了如何对EEPROM的电气特性进行测试,包括测试环境、测试设备、测试步骤及判定准则。
- 数据保留测试方法,通常涉及在极端条件下加速老化实验来评估数据保存能力。
- 耐用性验证,通过连续擦写循环直至达到规定的次数,监测存储性能的变化。
- 对于编程与擦除特性的测试,规定了验证编程和擦除操作有效性的具体流程。
标识与包装
- 规定了产品标识信息的内容和格式,确保用户可以获取到关键的制造信息和产品规格。
- 包装要求确保产品在运输和储存过程中的安全,防止静电损害和其他物理损伤。
符合性评估
说明了产品需通过的检验程序和合格判定准则,确保所有出厂的EEPROM都符合本标准规定的要求。
此标准为制造商、采购商及质量监管部门提供了统一的评判基准,保障了电可擦可编程只读存储器产品的互换性和可靠性。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2006-12-05 颁布
- 2007-05-01 实施
文档简介
ICS31.200L56中华人民共和国国家标准GB/T17574.11-2006/IEC60748-2-11:1999QC790108半导体器件集成电路第2-11部分;数字集成电路单电源集成电路电可擦可编程只读存储器空白详细规范Semiconductordevices--IntegratedcircuitsPart2-11:DigitalintegratedcircuitsBlankdetailspecificationforsinglesupplyintegratedcircuitelectricallyerasableandprogrammableread-onlymemory(IEC60748-2-11:1999.IDT)2006-12-05发布2007-05-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会
中华人民共和国国家标准半导体器件集成电路第2-11部分:数字集成电路单电源集成电路电可擦可编程只读存储器空白详细规范GB/T17574.11-2006/IEC60748-2-11:1999中国标准出版社出版发行北京西城区复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045电话:01051299090.685220062007年3月第一版书号:155066·1-28947版权专有侵权必究举报电话:(010)68522006
GB/T17574.11-2006/IEC60748-2-11:1999系列国家标准《半导体器件:集成电路》中的数字集成电路部分分为如下几部分GB/T17574—1998《半导体器件集成电路:第2部分:数字集成电路》(idtIEC60748-2:1985)GB/T5965—2000《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第一篇双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列)空白详细规范》idtIEC60748-2-1:1991)GB/T17023—1997《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第二篇HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范》idtIEC60748-2-2:1992)GB/T17024—1997《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第三篇HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范》(idtIEC60748-2-3:1992)GB/T17572—1998《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第四篇CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范》idtIEC60748-2-4:1992)GB/T9424—1998《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第五篇CCMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范》idtIEC60748-2-5:1992)-GB/T7509—1987《半导体集成电路微处理器空白详细规范》(可供认证用)GB/T14119—1993《半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范》(可供认证用)GB/T6648-1986《半导体集成电路静态读/写存储器空白详细规范》(可供认证用)GB/T17574.9—2006《半导体器件集成电路第2-9部分:数字集成电路紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范》IEC60748-2-9:1994.IDT)GB/T17574.10—2003《半导体器件集成电路第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器集成电路空白详细规范》IEC60748-2-10:1994.IDT)GB/T17574.11—2006《半导体器件集成电路第2-11部分:数字集成电路单电源集成电路电可擦可编程只读存储器空白详细规范》(IEC60748-2-11:1999,IDT)(B/T17574.12《半导体器件集成电路第2-12部分:数字集成电路可编程器件(PLDs)空白详细规范》(IEC60748-2-12)(待转化)GB/T17574.20—2006《半导体器件集成电路第第2-20部分:数字集成电路低压集成电路族规范》IEC60748-2-20:2000.IDT)本规范等同采用IEC60748-2-11:1999(QC790108)《半导体器件集成电路第2-11部分:数字集成电路单电源电可擦可编程只读存储器空白详细规范》英文版。本规范按照GB/T1.1的要求编制国家标准,只对IEC原文作编辑性修改:删除IEC原文中的本规范由中华人民共和国信息产业部提出。本规范由全国半导体器件标准化技术委员会归口,本规范起草单位:中国电子科技集团公司第四十七研究所本规范主要起草人:施华莎
GB/T17574.11-2006/IEC60748-2-11:1999半导体器件集成电路第2-11部分:数字集成电路单电源集成电路电可擦可编程只读存储器空白详细规范引IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程,并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一.并且与下列标准一起使用。IEC60747-10/QC700000:19911半导体器件分立器件和集成电路第10部分:分立器件和集成电路总规范半导体器件集成电路IEC60748-11/QC790100:1990:第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)IEC60749:1984.修改单1(1991).修改单2(1993)要求的资料本页和后面括号内的数字与下列各项要求的资料相对应,这些资料应填入本规范相应的栏中详细规范的识别「17授权发布详细规范的国家标准机构名称L2详细规范的1ECQ编号。L3总规范和分规范的编号及版本号。【4详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的其他资料器件的识别【57主要功能和型号。【67典型结构(材料、主要工艺)和封装资料器件若具有若干种派生产品.则应指出其特性差异详细规范应给出包括以下内容的简短描述:-工艺(NM
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