标准解读

GB/T 14849.10-2016 是一项中国国家标准,专注于工业硅化学分析领域,特别是针对工业硅中汞含量的测定方法。该标准详细规定了使用原子荧光光谱法来测定工业硅样品中汞元素含量的具体操作步骤、所需设备、试剂选择、样品处理、测定条件、计算方法以及质量控制等方面的要求。

标准适用范围

本标准适用于各类工业硅产品中汞含量的定量分析,通过原子荧光光谱技术,能够准确、灵敏地检测出极低浓度的汞,对于监控和控制工业硅生产过程中的汞污染具有重要意义。

主要内容概览

  1. 术语和定义:明确了与测定相关的专业术语,确保读者对标准中的表述有共同的理解基础。

  2. 原理:阐述了原子荧光光谱法的基本原理,即样品在特定条件下经过消化处理后,汞元素转化为挥发性形态,随后在原子化器中形成基态原子,这些原子吸收特定波长的光后被激发至高能态,当它们返回到基态时会发射出荧光,荧光强度与样品中汞的含量成正比,从而实现定量分析。

  3. 试剂与材料:详细列出了实验所需的各种化学试剂、标准溶液及其配制方法,以及实验所用到的器皿材质要求,以确保分析结果的准确性和重复性。

  4. 仪器设备:描述了执行测定所必需的原子荧光光谱仪及其他辅助设备的性能指标和校准要求。

  5. 样品的采集与预处理:规范了样品的取样方法、保存条件及前处理步骤,包括必要的消解过程,以释放出待测的汞元素。

  6. 测定步骤:详细说明了从样品消化到荧光信号测量的全过程,包括标准曲线的制作、样品测定的具体操作流程及注意事项。

  7. 计算方法:提供了根据荧光强度与标准曲线的关系,计算样品中汞含量的数学公式和步骤。

  8. 精密度与准确度:通过重复性和再现性试验数据,设定了测定结果的允许偏差范围,确保不同实验室间结果的一致性。

  9. 试验报告:规定了试验报告应包含的信息内容,如样品信息、测定方法、结果数据及必要的试验条件说明等。

实施意义

该标准的实施有助于统一和提升我国工业硅中汞含量测定的技术水平,为产品质量控制、环境保护和国际贸易提供了科学依据。它不仅促进了工业硅生产的环保化进程,还为相关企业、检测机构和监管部门提供了可靠的技术指导。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2016-08-29 颁布
  • 2017-07-01 实施
©正版授权
GB/T 14849.10-2016工业硅化学分析方法第10部分:汞含量的测定原子荧光光谱法_第1页
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文档简介

ICS7712010

H12..

中华人民共和国国家标准

GB/T1484910—2016

.

工业硅化学分析方法

第10部分汞含量的测定

:

原子荧光光谱法

Methodsforchemicalanalysisofsiliconmetal—

Part10Determinationofmercurcontent—

:y

Atomicfluorescencespectrometrymethod

2016-08-29发布2017-07-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T1484910—2016

.

前言

工业硅化学分析方法分为个部分

GB/T14849《》11:

第部分铁含量的测定二氮杂菲分光光度法

———1:1,10-;

第部分铝含量的测定铬天青分光光度法

———2:-S;

第部分钙含量的测定

———3:;

第部分杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

———4:;

第部分杂质元素含量的测定射线荧光光谱法

———5:X;

第部分碳含量的测定红外吸收法

———6:;

第部分磷含量的测定磷钼蓝分光光度法

———7:;

第部分铜含量的测定原子吸收光谱法

———8:;

第部分钛含量的测定二安替吡啉甲烷分光光度法

———9:;

第部分汞含量的测定原子荧光光谱法

———10:;

第部分铬含量的测定二苯碳酰二肼分光光度法

———11:。

本部分为的第部分

GB/T1484910。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本部分由中国有色金属工业协会提出

本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口

(SAC/TC243)。

本部分负责起草单位昆明冶金研究院北京有色金属研究总院北京矿冶研究总院

:、、。

本部分参加起草单位云南永昌硅业股份有限公司通标标准技术服务天津有限公司云南祥云

:、()、

飞龙再生科技股份有限公司云南出入境检验检疫局广州有色金属研究院

、、。

本部分主要起草人刘英波罗舜杨毅陈殿耿王立唐飞杨琛段坤艳滕亚君周杰杨海岸

:、、、、、、、、、、、

赵德平刘维理陈映纯蒯丽君程堆强麦丽碧

、、、、、。

GB/T1484910—2016

.

工业硅化学分析方法

第10部分汞含量的测定

:

原子荧光光谱法

1范围

的本部分规定了工业硅中汞含量的测定方法

GB/T14849。

本部分适用于工业硅中汞含量的测定测定范围

,:0.000010%~0.0010%。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

分析实验室用水规格和试验方法

GB/T6682

数值修约规则与极限数值的表示及判定

GB/T8170

3方法提要

试样用硝酸氢氟酸冷溶解在硝酸介质中汞离子被硼氢化钾还原成汞的原子蒸气用氩气导入石

、,,

英炉原子化器中于原子荧光光谱仪上测量汞的荧光强度以基体匹配校正法进行测定

,,。

4试剂

除非另有说明本部分所用试剂均为符合国家标准或行业标准的优级纯试剂所用水为符合

,,

规定的一级水

GB/T6682。

41硅粉

.(≥99.99%)。

42氯化汞

.(≥99.95%)。

43氢氟酸ρ

.(1.19g/mL)。

44硝酸ρ

.(1.42g/mL)。

45硝酸

.(5+95)。

46硼氢化钾溶液称取氢氧化钾溶于约水中加入硼氢化钾并使其溶

.(2g/L):0.20g,50mL,0.20g

解用水稀至摇匀用时现配

,100mL,,。

47重铬酸钾溶液称取重铬酸钾溶于约水中加入硝酸用水

.(0.5g/L):1.0g,100mL,100mL(4.4),

稀释至摇匀

2000mL,。

48重铬酸钾溶液称取重铬酸钾溶于水中用水稀释至摇匀

.(50g/L):10.0g,100mL,200mL,。

49汞标准

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