标准解读
《GB/T 13179-2008 硅(锂)X射线探测器系统》相比《GB/T 13179-1991 硅(锂)X射线探测器系统》,主要在以下几个方面进行了更新和调整:
-
技术指标的提升:新版标准对硅(锂)X射线探测器的性能指标提出了更严格的要求,包括能量分辨率、检测效率、稳定性和响应时间等,以适应技术进步和应用需求的提高。
-
测试方法的改进:详细规定了更为科学和精确的测试方法,用于验证探测器的各项性能指标,确保测试结果的可靠性和可重复性。这些改进有助于统一行业测试标准,提升产品对比的公正性。
-
兼容性与互换性要求:增加了关于探测器与其他X射线仪器设备之间兼容性和互换性的规范,旨在促进不同厂家产品之间的通用性和集成能力,方便用户选择和替换。
-
安全规范的加强:考虑到使用安全的重要性,新标准强化了对探测器系统在操作、维护及废弃过程中的安全要求,加入了更多关于辐射防护、电气安全和环境适应性的条款。
-
环境保护要求:随着环保意识的增强,新标准加入了关于材料选择、制造过程及产品废弃处理时应遵循的环保原则,鼓励采用更环保的材料和技术,减少对环境的影响。
-
术语和定义的更新:为适应技术发展,新标准对相关专业术语进行了修订和补充,确保术语的准确性和时代性,便于行业内沟通和理解。
-
质量管理体系要求:强调了制造商应建立和完善质量管理体系,确保从设计、生产到售后服务的全过程符合标准要求,提高了对产品质量控制的关注度。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2008-07-02 颁布
- 2009-04-01 实施
文档简介
犐犆犛:27.120
犉88
中华人民共和国国家标准
犌犅/犜13179—2008
代替GB/T13179—1991
硅(锂)犡射线探测器系统
犛犻(犔犻)犡狉犪狔犱犲狋犲犮狋狅狉狊狔狊狋犲犿
20080702发布20090401实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
书
犌犅/犜13179—2008
目次
前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ
1范围!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
2规范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3术语和定义以及符号!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
4产品分类!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3
5技术要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5
6试验方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6
7检验规则!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!15
8标识、包装、运输、贮存!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!16
附录A(资料性附录)从X能量分辨率计算电噪声近似值的方法!!!!!!!!!!!!!!18
参考文献!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!19
图1端帽尺寸图!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4
图2总体外型结构图!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5
图3被测特性的基本测量系统!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!7
图4典型的噪声测量脉冲幅度谱!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8
图5用示波器和均方根电压表测噪声的测量系统!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!9
图6线性的测量和表示!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!13
图7温度效应的测量系统(以能谱仪为例)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!14
表1硅(锂)X射线探测器系统产品规格表!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4
表2(真空)冷室及端帽分类!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5
表3不同灵敏面积探测器的峰谷比要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6
表4参考条件和标准试验条件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6
表5测量常用放射源!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!10
表6检验项目分类及要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!16
表7抽样方案表!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!16
书
犌犅/犜13179—2008
前言
本标准参照了IEC60759:1983《半导体X射线能谱仪标准测试程序》。
本标准代替GB/T13179—1991《硅(锂)X射线探测器系统》。
本标准与GB/T13179—1991相比主要差异如下:
———增加了“硅(锂)X射线探测器系统”和“峰谷比”等19个术语以及“犆c”等12个符号(见本标准
第3章);
———产品的特征代号增加了两位表示灵敏体直径(见本标准的4.1);
———在表1“硅(锂)X射线探测器系统产品规格表”中,增加了一栏灵敏直径的条目(见本标准的
4.2);
———表1中的能量分辨率每档均降低5eV(见本标准的4.2);
———充实了试验方法的内容(见本标准第6章)。
本标准附录A为资料性附录。
本标准由中国核工业集团公司提出。
本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。
本标准起草单位:中核(北京)核仪器厂。
本标准主要起草人:殷国利。
本标准所替代标准的历次版本发布情况为:GB/T13179—1991。
Ⅰ
犌犅/犜13179—2008
硅(锂)犡射线探测器系统
1范围
本标准规定了硅(锂)X射线探测器系统的产品分类、技术要求、试验方法和检测规则等。
本标准适用于带有液氮贮存容器的室内用硅(锂)X射线探测器系统,但不适用于扫描电镜的、便携
式或非液氮冷却硅(锂)X射线探测器系统。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有
的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T4960.6核科学技术术语核仪器仪表
GB/T10257—2001核仪器和核辐射探测器质量检验规则
3术语和定义以及符号
3.1术语和定义
GB/T4960.6确立的以及下列术语和定义适用于本标准。
3.1.1
硅(锂)探测器犛犻(犔犻)犱犲狋犲犮狋狅狉
通常利用核辐射在半导体中产生的过剩自由电荷载流子的运动来探测入射辐射的探测器。
注:本标准中
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