标准解读

《GB/T 13179-1991 硅(锂)X射线探测器系统》是中国的一项国家标准，发布于1991年，主要规定了硅(锂)X射线探测器系统的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和储存要求。该标准适用于以硅锂 drift detector（Si(Li) drift detector）为核心元件的X射线能谱仪中的探测器系统。下面是对该标准内容的具体展开：

  1. 范围：明确了标准适用的产品类型，即硅锂X射线探测器系统，用于高分辨率的能量测量，特别是在材料分析、元素识别等领域。

  2. 引用标准：列出了实施该标准时需要参考的其他相关国家标准或国际标准，确保各项技术指标和测试方法的一致性和准确性。

  3. 术语和定义：对标准中使用的专业术语进行了定义，帮助读者准确理解相关内容，如硅锂漂移探测器的工作原理、分辨率等基本概念。

  4. 分类与型号：根据探测器的性能、结构等特点进行分类，并规定了相应的型号命名规则，便于用户识别和选择适用的探测器系统。

  5. 技术要求：

    • 性能要求：包括能量分辨率、检测效率、稳定性、线性范围等关键性能指标，这些指标直接关系到探测器的测量精度和可靠性。
    • 机械与结构要求：涉及探测器的尺寸、材质、密封性等，确保其在使用过程中的稳定性和耐用性。
    • 电气要求：规定了供电条件、信号输出格式及接口标准，保证与外部设备的兼容性。

  6. 试验方法：详细说明了如何进行各项性能指标的测试，包括测试环境、测试仪器、测试步骤和数据处理方法，确保测试结果的可重复性和准确性。

  7. 检验规则：规定了产品的出厂检验和型式检验项目、抽样方案和合格判定准则，用以验证产品是否满足标准要求。

  8. 标志、包装、运输和储存：对产品的标识信息、包装材料、防护措施、运输条件以及储存环境提出具体要求，以保护产品在流通和存储过程中的安全和性能不变。


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  • 被代替
  • 已被新标准代替，建议下载现行标准GB/T 13179-2008
  • 1991-04-11 颁布
  • 1992-05-01 实施
©正版授权
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文档简介

UDC539.12.074.2F88中华人民共和国国家标准CB/T13179－91硅(锂)X射线探测器系统Si(Li)X-raydetectorsystem1991-04-11发布1992-05-01实施国家技术监督局发布

中华人民共和国国家标准GB/T13179-91硅(锂)X射线探测器系统Si（Li）X-raydetectorsystem主题内客与适用范围本标准规定了硅(锂)X射线探测器系统的产品分类、技术要求、试验方法和检测规则等.本标准适用于带有液氮存容器的室内用硅(锂)X射线探测器系统，但不适用于扫描电镜的、便携式或非液氮冷却硅(锂)X射线探测器系统。2引用标准GB8992硅(锂)X射线探测器系统测试方法GB10257核核仪器与核辐射探测器质量检验规则3术语、符号3.1峰尾比P。：peak-to-tailratio任的X射线谱线中K。峰最高计数道计数与对应能量为1keV处附近平均计数的比值。3.2R:能量分辨率、4产品分类1产品的标记产品标记由产品型号及特征代号组成。产品型号为GL-顺序号半导体X射线探测器系统硅（锂）漂移型型号后的特征代号由三组数字组成，其顺序及含义为：XXX一XXX表示冷室和端帽形式表示灵敏面积-表示能量分辨率4.2产品规格产品规格按灵敏面积及能量分辨率划分见表1.国家

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