集成电路开短路测试

1、摘要本次设计针对测试集成电路的开短路。作品设计以AT89S52，两个CD4051, 一 个待测芯片MC34063为主，用AT89S52来控制CD4051输入引脚从而使得输出其中 一个引脚，此引脚用来连接被侧的其中一个引脚。34063芯片测试仪基本功能是集 成电路的开短路测试、基准电压测试、集成电路等级评定；自动分装时能够与机械 手系统通信；用数码显示基准电压和集成电路等级评定结果。在评定集成电路等级 时，第一种测试仪只需分辨合格与不合格。芯片的测试分两次。在芯片制造完成后必须对圆片上的芯片（小片）进行测 试。测试后进行切割。测试合格的芯片才能进行封装。封装完成后的芯片还要进行 第二次测试。当已

2、经封装的芯片被测出故障，厂商应当拆掉封装进行测试，找出故 障原因。这时候的故障可能是由于焊接等过程中的静电等原因造成的。关键词：一片 AT89S52；两片 CD4051； 一片 MC34063 TOC o 1-5 h z 目录一、选题意义2二、原理分析2三、总体设计3四、详细设计31、硬件设计3（1）恒电流电路设计（2）判决电路设计控制电路设计选通电路设计2、软件设计5五、系统实现 81、硬件原理图六、 测试97、总结9八、参考文献10集成电路开短路测试选题的意义对集成电路厂家来说，开短路测试(open short test )是集成电路生产商必须 具备的一项关键技术，关系到企业的生存；对消费

3、者使用者来说，开短路测试关系 到一个项目的生产效率，在很大程度上决定着工作的质量。原理分析集成电路开短路测试分为开路测试(open short to VDD)和短路测试(open short to VSS)。一般来说，芯片的每个引脚都有泄放或保护电路是两个首尾相连的二极管， 一端接VDD，一端接VSS，信号是从两个二极管的接点进来测试时测试时，先把芯片 的VDD引脚接0伏(或接地)，再给每个芯片引脚供给一个100uA到500uA从测试机 到芯片的电流，电流会经上端二极管流向VDD(0伏)，然后测引脚的电压，正常的 值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右，我们一般设上限为1.5伏，下限为 0.

4、2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是 open_short_to_VDD 测试.open_short_to_VSS测试的原理基本相同.同样把先VDD接0伏，然后再给一 个芯片到测试的电流，电流由VSS经下端二级管流向测试机.然后测引脚的电压，同 样正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右，只是电压方向相反，上限还是 为1.5伏，下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为 shortfail.这就是 open_short_to_VSS 测试.总体设计判决电路恒流源电路控制电路选通电路详细设计（一）硬件设计1.恒电

5、流电路设计pc 12rlkllTup.u侦QO5V电压源通过电路产生2.5V电压，供电流源使用。电流源是通过Q1和Q2 两个PNP管基极共联以及三个电阻按右上图所示连接而成，该电流源主要用于提供 100mA到500mA的电流用于测试输入，其中C4电容主要是在瞬间断电起到缓冲作 用2.判决电路设计比较电路上端接2.5V，通过电阻的分压作用在芯片LM358AM的2号引脚产生 1.5V的电压，在5号引脚产生0.2V的电压；将3和6号引脚电位与他们比较，以 此来选通二极管D1或D2，当3和6号引脚电位高于1.5V或低于0.2V时二极管其 中一个导通，介于两电位之间时两个二极管全部截止，其中3和6号引脚

6、电位等于 所 U3选通引脚电位。控制电路设计Fl (I T2 ?1 I T2EX判Pl -I EFl.yN5 TI? kiTfciT ajtETW.?rz.th1PJ.IAQj-.tiaIFMLl】miMAIJ3CI伐01*1 Uhi.4Jtl EF=iP3.2 RUfTATMfllll IjtCLl 心 产山E ntw 赤如?控制电路主要通过对AT89S52编程控制U2和U3的6, 9, 10, 11号引脚实 现；右上图是AT89S52的复位电路。选通电路设计J&ilS IlIiBIMndiii hJAbJI I I ；.g| Id J址ss IJi ijXtil 0 ITttii 2n：t

7、il5 3a ：!I 唔职vrr wcjca路也里 1JtJUS3岛KIYTEnorveerwUKSWCLjYDJIM2 底虹i选通电路主要用于选择被测芯片的引脚，芯片U2选通的引脚通过其3号引脚 将被测引脚点置0，芯片U3选通的引脚置于与其3号引脚相同的电平，之后通过 发光二极管来显示两引脚是开路或短路，还是正常。（二）软件设计#include#include#define uint unsigned int#define uchar unsigned charsbit P1_0 =P0; /定义 p1.0 口sbit P1_1 =P1;/定义 P1.1 口void deplay(uint

8、z)延时(uint x,y;for(x=z;x0;x-)for(y=110;y0;y-);开路测试void open_short_to_VDD()(uint i,j;P2=0 x34;i=P2&0 x0f;j=(P2&0 xf0)4;for(i=3;i=6;i+)(if(j=i) continue:P2=(j4) |i;if(Pl_0)Pl_l =l;else Pl_l =0;deplay(700);void open_short_to_VSS ()/短路测试uint i, j;P2=0 x23;i=P2&0 x0f;j=(P2&0 xf0)4;for(i=3;i=6;i+)continue;

9、P2=(j4) |i;deplay (700);void short_out_to_PIN()/对各引脚测短路(uint i, j;P2=0 x32;i=P2&0 x0f;j=(P2&0 xf0)4;for(i=3:i=6;i+)for(j=3;j=6;j+)if (j=i) continue:P2=(j4) |i;deplay(1000);main()(while(1)(open_short_to_VDD();deplay(700);open_short_to_VSS();deplay(700);short_out_to_PIN();五.系统设计1、硬件原理图K.测试眼前最亮的黄灯亮了说明芯

10、片没问题，后面的红灯亮指示的电源7.总结本次设计最终实现测试芯片开短路的功能，能够测试八个引脚的芯片的好 坏，当一个芯片好使时，除电源等以外的另一个灯会隔几秒连续亮两下，如果引脚 出现开短路时则指示灯一直熄灭，除电源灯在设计期间，查阅了大量有关单片机系统设计的相关中文、英文资料，分析 了很多芯片的功能及应用，初步掌握了单片机与一些传感器的用法。通过查阅资料，不但做到了温故而知新，而且使自己所学的知识更加系统化，并在一定程度上提高了收集和筛选信息的能力。在查阅英文资料的同时，也提高了英语的应用能八、参考文献杨素行.模拟电子技术基础简明教程.清华大学电子学教研组编，高等教 育出版社，第三版2005年12月杨光友，朱宏辉.单片微型计算机原理及接口技术.北京.第1版.中国水 利水电出版社，2002： P23P25先锋工作室.单片机程序设计实例.北京.第1版.清华大学出版社，2003： P125P134李