材料现代研究方法(扫描电镜)

1、 扫描(somio)电子显微镜共四十五页共四十五页电子束与物质(wzh)的相互作用阴极发光轫致辐射X 射 线透射电子俄歇电子衍射电子二次电子反射电子吸收电子电子探针与能谱扫描电镜透射电镜俄歇电子谱仪入射电子束样 品共四十五页二次电子当样品原子的核外电子受入射电子激发获得了大于临界电离的能量后，便脱离原子核的束缚，变成自由电子，其中那些处在样品表层(biocng)而且能量大于材料逸出功的自由电子就可能从表面逸出成为真空中的自由电子，即二次电子。共四十五页背散射电子(dinz)背散射电子也称为初级背散射电子，是指受到固体样品(yngpn)原子的散射之后又被反射回来的部分入射电子。共四十五页吸收(x

2、shu)电子高能电子入射比较厚的样品后，其中部分电子随着与样品中原子核或核外电子发生非弹性散射的次数(csh)增多，其能量不断降低，直至耗尽。这部分电子既不能穿透样品，也无力逸出样品，只能留在样品内部，即被称为吸收电子。共四十五页原子在X射线、载能电子、离子或中性粒子的照射下，内层电子可能获得足够的能量(nngling)而电离，并留下空穴。此时原子处于不稳定的激发态。俄歇(Auger)效应(xioyng)一个能量较高态的电子填充该空位，同时发出特征X射线，即辐射跃迁。一个较高能量的电子跃迁到空位，同时另一个电子被激发发射，这是一无辐射跃迁过程，这一过程被称为Auger效应,被发射的电子称为Au

3、ger电子。共四十五页共四十五页扫描(somio)电子显微镜 工作原理和结构扫描电镜的特点：有很大的景深，是研究固体试样表面形貌的有力工具。放大倍数范围宽，对试样的观察研究非常方便。试样制备简单。可获得(hud)试样表面化学成分等信息，是对固体物质表层进行综合分析的仪器。共四十五页扫描电子显微镜 工作原理(yunl)和结构扫描电镜的工作原理透镜将电子束聚焦成非常细的电子束，照射在试样表面上，激发出各种物理信号(xnho)，由探测器接收，输送到阴极射线管成像。间接成像。共四十五页扫描(somio)电子显微镜 工作原理和结构入射电子试样闪烁体光电倍增管放大器显像管电子图像显示(xinsh)过程共四

4、十五页扫描电子显微镜 材料(cilio)研究中的应用失效分析中的应用 从金属的端口特性可以分析材料的断裂原因和过程。观察小试样 对细丝、薄片等小试样的端面以及试样的边缘(binyun)部分进 行扫描电镜观察非常方便。动态观察共四十五页试样(sh yn)制备 扫描电镜的试样制备有的试样表面不需要再加工，直接观察它的自然(zrn)状态。对于大的试样，无法放入扫描电镜内，需要切成小块放入。对于不易切割或不允许切割的样品，则需要用AC纸制作复型，在其上面喷上一层导电层（如金、银、铜等），放入扫描电镜内观察。共四十五页放大图像观察(gunch)的方法检测器显示(xinsh)方法扫描信号方法放大投影信号检

5、测器共四十五页面分析(fnx)扫描放大倍数原理扫描(somio)线圈共四十五页 表面凹凸(o t)与二次电子的产生共四十五页 表面凹凸与二次电子(dinz)的产生共四十五页 表面(biomin)凹凸与二次电子的产生共四十五页 表面(biomin)凹凸与二次电子的产生共四十五页 表面凹凸(o t)与二次电子的产生共四十五页 表面(biomin)凹凸与二次电子的产生共四十五页热障(rzhng)涂层断面扫描电镜照片共四十五页 1形貌(xn mo)衬度 倾角因素： 背散射电子产额 =Ib/Ip 随倾角增加而增加 方向因素： 2. 晶向衬度(二)背散射电子(dinz)像共四十五页 3成分衬度 背散射电子

6、产额与原子序数关系(gun x): 当Ep = 20keV以下，则 = -0.0254 + 0.016Z -1.86104Z2+8.3107Z3 当Z1、Z2原子序数(yunz xsh)相邻，则衬度很低 当Z1、Z2原子序数相差远，则衬度很高设有两平坦相邻区域，分别由Z1 和Z2 纯元素组成，且 Z2 Z1 则衬度 S 为检测信号强度 C = = 为背散射电子强度212SSS-212hhh-(二)背散射电子像共四十五页NiAl-Cr(Mo)背散射电子(dinz)像共四十五页TiAl样品(yngpn)的动态拉伸试验共四十五页扫描电镜/能谱分析(SEM/EDS）共四十五页液体氮（）检测器窗口平行光

7、管电子束样品EDX原理图射线锂漂移硅Si(Li)检测器当X射线光子进入检测器后，在Si(Li)晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量(nngling)是一定的，因此由一个X射线光子造成的电子空穴对的数目为N，入射X射线光子(gungz)的能量越高，N就越大。共四十五页脉冲(michng)整形器液体(yt)氮前置放大器 主放大器多道分析器（）检测器窗口平行光管电子束样品EDX原理图射线共四十五页共四十五页分析(fnx)化妆品粉末(fnm)共四十五页化妆品粉末(fnm)共四十五页Element Intensity Weight% AT% K-Value Z A FC 1.1

8、33 19.723 35.480 0.01100 0.95060 11.7174 1.00000O 0.355 2.647 3.575 0.00454 0.96658 3.74882 1.00000Mg 0.424 0.450 0.400 0.00255 1.00680 1.13331 0.96094Al 34.767 37.156 29.754 0.21355 1.03825 1.05859 0.98364Si 26.207 40.024 30.791 0.17323 1.00978 1.42168 1.00000 Total 100.000 100.000 0.40487Element I

9、ntensity Weight% AT% K-Value Z A FC 2.712 23.209 42.340 0.02685 0.94567 8.90120 1.00000O 0.480 2.096 2.871 0.00615 0.96099 3.45397 1.00000Al 53.687 41.112 33.387 0.32976 1.03079 1.18676 0.99238Si 20.081 21.257 16.585 0.13274 1.00224 1.55662 0.99953Fe 1.527 11.297 4.433 0.06892 1.07046 1.49102 1.0000

10、0Ni 0.091 1.029 0.384 0.00856 1.16191 1.00722 1.00000Total 100.000 100.000 0.57298定量分析金属(jnsh)断面共四十五页波谱(bp)分析WDX原理图入射电子(dinz)样品分光晶体检测器共四十五页波長（energy）分辨率EDX:140eVWDX:20eV共四十五页CrKCrKMnKFeKFeKCoKNiKCrKEDS峰的重叠共四十五页WDX峰的分离(fnl)FeKFeKCoKCrKNiKNiKCrK共四十五页稀土元素(yun s)谱线的重叠EDX共四十五页在EDX中峰的重叠(chngdi)PbPbPbBaBaT

11、iSbBa共四十五页波長(能量(nngling)分辨率的不同WDXEDX共四十五页用EPMA分析(fnx)植物样品的例被稻米吸收(xshu)的金属离子SEMAlYb La石川,1996共四十五页齿轮的疲劳(plo)损坏断面图共四十五页浸炭不良(bling)部不良(bling)件合格件疲劳断裂的原因：渗炭不合格共四十五页不良(bling)件合格(hg)件渗碳不合格的原因：Si的偏析共四十五页内容摘要扫描电子显微镜。X 射 线。样 品。一个能量较高态的电子填充该空位，同时发出特征X射线，即辐射跃迁。扫描电子显微镜 工作原理和结构。有很大的景深，是研究固体(gt)试样表面形貌的有力工具。扫描电子显微镜 工作原理和结构。扫描电子显微镜 材料研究中的应用。从金属的端口