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文档简介

1、7P管管制制图图表表(一一)管制图编号:0021产品名称:耦合器部门:生产部上管制线:VCL=P+3P(1-P)/n限制日期:2003.1.1-1.30工序:合盖仪表:网络分析仪中心线:CL=Pn/n 抽样方法:取样时间22天,品质特性:电性能指标检测人:罗金辉下管制线:LCL= P-3P(1-P)/n每天随机抽样1组,每组100件。序号12345678910111213141516171819202122测定人:WK检查数100100100100100100100100100100100100100100100100100100100100100100n =2200Pn32214032232

2、133313334322435284032293332342335Pn=677P32.021.040.032.023.021.033.031.033.034.032.024.035.028.040.032.029.033.032.034.023.035.0P =30.8VCL44.644.644.644.644.644.644.644.644.644.644.644.644.644.644.644.644.644.644.644.644.644.6柏柏拉拉图图分分析析LCL16.916.916.916.916.916.916.916.916.916.916.916.916.916.916.91

3、6.916.916.916.916.916.916.9不良种类耦合大1短路2隔离不够3驻波高4耦合小5其他7合计P30.830.830.830.830.830.830.830.830.830.830.830.830.830.830.830.830.830.830.830.830.830.8不良数402184533161677占不良比59%27%7.80%4.50%0.90%0.10%管管制制图图%统统计计 管制图显稳态,制程正常。 持续改进:在402台耦合度偏大的耦合器中,据本月不良记录分分析析有321台为5dB耦合器,需通知技术部对其进行原因分析,提出改善对策,减少下月此类不良数。0102030405060CLPUCLLCL40218453316159.30%86.00%93.00%97.58%98.90% 100.00%12345601002003004005006000.00%10.00%20.00%30.00%40.00%50.00%60.00%70.00%80.00%90.00%100.00%累计百分比不良数量77不良类别序号不良数占不良比 累计比驻波高140259.30%59.30%短路218427.00%86.00%隔离不够3537.83

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