电测技术手册课件

1、Kai Ping Elec & Eltek1Technical report电测技术手册制板涨缩对电测的影响及其应对电测技术手册(II)Kai Ping Elec & Eltek2Technical report电测技术手册一: 三公司的电测现状二: 制板涨缩对电测的影响1:制板涨缩对电测的影响因素2:制板的不同涨缩对电测产生的不同影响三: 针对制板涨缩的应对措施目 录Kai Ping Elec & Eltek3Technical report电测技术手册电 测 现 状Kai Ping Elec & Eltek4Technical report电测技术手册三公司

2、的制板分布: 以06.01.2005-06.30.2005为参考 HDI: 35% (45000sets/week左右) D/S-8L: 42.5%(49000sets/week左右) 8L+: 22.5%(30000sets/week左右)机器的占用率:HDI: 48%(12.5台) D/S-6L: 13%(3.4台) 8L+:39%(10.1台)假板的分布情况: HDI: 60% D/S-6L:7% 8L+:33%根据以上特点，我的分析对象为HDI和8L+的制板Kai Ping Elec & Eltek5Technical report电测技术手册制板涨缩对电测的影响Kai Pin

3、g Elec & Eltek6Technical report电测技术手册制板涨缩对电测的影响因素:电测:夹具上的测试针与测试板外层测试点的直接接触,测试机的测试系统通过测试针探测到的信息分析出制板的电气特性(导通和绝缘).因此外层测试点的质量影响着电测假板,所以分析重点在外层测试点之间的涨缩,而绿油菲林的补偿能体现外层测试点之间的涨缩,因此只要对绿油菲林的补偿进行分析就知道外层的涨缩情况.Kai Ping Elec & Eltek7Technical report电测技术手册外层测试点涨缩的具体体现:1:外层测试点与管位孔之间的距离变化;2:SS.CS面测试点的相对位置变化;

4、Kai Ping Elec & Eltek8Technical report电测技术手册制板的不同涨缩对电 测产生的不同影响Kai Ping Elec & Eltek9Technical report电测技术手册背景:对2005.2-2005.7的绿油SRF菲林进行分析,可以归纳出绿油菲林补偿六种形式, 以下是六种形式的菲林补偿及对电测的影响Kai Ping Elec & Eltek10Technical report电测技术手册产生原因:由于制板的均匀涨缩1: CS 、SS面长边加长(缩短)X mil、短边加长(缩短)Y mil(根据长边和短边的长度比例,使长边和短边

5、按比 例进行加长和缩短)Kai Ping Elec & Eltek11Technical report电测技术手册标准菲林尺寸对电测的影响:U6A167C的绿油菲林补偿补偿后的菲林尺寸在中心管位距不变的前下,SS. CS面的长加大3.5 mil宽加大4.0mil,如右图:补偿后set尺寸变化Kai Ping Elec & Eltek12Technical report电测技术手册在菲林框尺寸忽略的情况下,每个set的长增加了1.7mil,宽增加了1mil ,所以测试点与测试点改变的最大距离为1 +1.7 =1.97 mil,而制板的最小测试点为11mil,这样测试点的有效测试范

6、围变为11-1.97=9.03mil222Kai Ping Elec & Eltek13Technical report电测技术手册公司的电测能力为10mil,当测试点的有效测试范围在9-10mil时，测试难度系数增加0.5倍以上；当测试点的有效测试范围在8-9mil时测试难度系数增加2.5倍以上；当测试点的有效测试范围在6-8mil时，测试难度系数增加8倍以上;当测试点的有效测试范围在小于6mil时,批量测试不能顺利进行,只能进行飞针测试电测能力:10mil = 钻孔偏差2mil + 测试针偏差3mil + 人工对位偏差5mil Kai Ping Elec & Eltek14

7、Technical report电测技术手册测试难度系数分析：根据制板的最小测试点分析测试效率1：U6A167C的最小测试点为11 mil ,正常状态下 的UPH 为150以上；2：U6A316A的最小测试点为9.6mil,正常状态下的 UPH为85左右；3：P62241A的最小测试点为8mil,正常状态下的 UPH为46左右；4：U8B023D在制板质量影响的情况下，有效测试 点为7mil左右，其UPH在18左右。Kai Ping Elec & Eltek15Technical report电测技术手册为了能使电测正常进行，需保证测试点的有效测试范围在10mil以上，根据以上计算分析

8、，此板的单元涨缩应该控制在4*3.2范围之内同理：类似的制板在涨缩控制中必须保证：set内测试点的最小尺寸set内pad涨缩最大值=mil;当set内测试点的最小尺寸set内测试点涨缩最大值=12mil;(12mil以上的测试点是进行电测的理想值)菲林涨缩补偿对电测的影响可以忽略.Kai Ping Elec & Eltek16Technical report电测技术手册2: CS 、SS面整体宽边加长(缩小)X mil,短边不变 产生原因:由于制板的宽边均匀涨缩如:PE0153B宽边缩小5mil,长边不变,如下图标准菲林尺寸补偿后的菲林尺寸补偿后set尺寸变化Kai Ping Elec

9、 & Eltek17Technical report电测技术手册对电测的影响:在菲林框尺寸忽略的情况下,每个set的宽增加了2.5mil,所以pad-pad改变的最大距离为2.5mil,相当与pad的最大中心偏移了2.5/2=1.5mil,而制板的最小pad 为13mil,所以电测中pad的有效面积为13-2.5 = 10.5mil控制制板偏差在2 mil以内使有效测试pad 的范围在理想值13-1=12mil以上Kai Ping Elec & Eltek18Technical report电测技术手册3: SS面长边加长X mil,宽边加宽Y mil,CS面长边加长A mil

10、,宽边加宽B mil. (CS 、SS面分别根据长边和短边的长度,使长边和短边按比例进行加长或缩短)产生原因:SS 、CS面涨缩不一致 如:PI0021A的CS面长边缩小2.0mil,宽边加宽1.0mil,SS 面长边缩小1.0mil,宽边加宽1.0milKai Ping Elec & Eltek19Technical report电测技术手册 如:PI0021B的CS面宽边缩小2.5mil,长边加宽1.0mil,SS 面宽边缩小2.0mil,长边加宽1.0mil对电测的影响:补偿后的菲林标准菲林补偿后set尺寸变化pad坐标轴CS面Kai Ping Elec & Eltek2

11、0Technical report电测技术手册SS面补偿后的菲林标准菲林补偿后set尺寸变化pad坐标轴Kai Ping Elec & Eltek21Technical report电测技术手册对电测的影响0.5mil1.25mil1.35mil CS面0.5mil1.0mil1.12mil SS面此制板的最小pad为9mil,当发生涨缩时,pad的有效测试面积变为9 - 1.35 = 7.65mil (CS). 9 - 1.12 = 7.88 mil(SS)由于上下面涨缩大小不一致,它不仅影响测试pad的有效测试面积,而且还影响着对位的方向性,此种情况是最严重的一种. Pad的偏移程

12、度Kai Ping Elec & Eltek22Technical report电测技术手册注:当以上三种绿油菲林在补偿过程中是朝负值时,既在缩小了菲林尺寸时,对绿油窗的大小有轻微的影响,这样影响着绿油的质量,相当与使绿油上测试点而进一步减小了测试点的有效测试范围,当测试点小于10mil时,应对这些小于10mil的测试点的绿油窗进行正补偿.Kai Ping Elec & Eltek23Technical report电测技术手册4:Panel里的Units在中心管位孔不变的情况下以对称轴为中心分别以相离对称轴方向垂直均匀移动A mil和B mil.0.6mil0.6mil1.9

13、mil1.9mil如:P80951A的补偿情况如右图Kai Ping Elec & Eltek24Technical report电测技术手册 5:Panel里CS的Units在中心管位孔不变的情况下以对称 轴为中心分别向X方向均匀移动A mil和Y方向均匀移动 B mil.如:PE0579A的中心管位距不变,在宽方向上移动两边的Set向外+3.5mil3.5mil3.5milKai Ping Elec & Eltek25Technical report电测技术手册6:Panel里CS的sets在中心管位孔不变的情况下以对称 轴为中心在宽边方向上分别移动A mil 、 B mi

14、l 、 Cmil.-2.7mil-0.7mil-0.6mil-0.6mil-0.7mil-2.7mil如:U6A324A的补偿情况Kai Ping Elec & Eltek26Technical report电测技术手册1:当SS.CS面在涨缩一致的情况下进行4-6补偿方式,set内测试点与测试点的距离和测试点与管位孔的距离没有发生变化,而且CS.SS面的相对位置也保持着不变,所以此三种补偿对电测无影响.对电测的影响Kai Ping Elec & Eltek27Technical report电测技术手册2:当SS.CS面涨缩不一致,采用4-6方式为了钻孔补偿,既在SS.CS面

15、有偏移的情况下使孔在上下面的占有率达到最大化.此种情况对电测有影响,它影响着SS.CS面内测试点与管位孔的距离,使SS.CS都有一定程度的偏位,而且偏的方向不一致.Kai Ping Elec & Eltek28Technical report电测技术手册针对制板涨缩的应对措施Kai Ping Elec & Eltek29Technical report电测技术手册当制板涨缩影响电测时,有以下改善措施:1:减小对位偏差,提高对位精度,通常对位偏差在5mil左 右,而熟练员工(1.5年以上)可以控制在3mil左右,这样 可以改善有效测试pad 在8-10mil的制板;2:分类测试,根据偏位的程度分类测试,对于不同 set偏位方向不一致的制板,而且偏位在3 mil左右,可以根据管位孔的偏位方向性进行分类测试;Kai Ping Elec & Eltek30Technical report电测技术手册3:改善测试针,把圆头针改为爪形针,加大针的有效接触 范围,对于同一 set内测试的偏差在2mil左右可以采用; 缺陷性:容易产生电测压伤4:根据制板管位孔的偏位