数字电路 集成逻辑门电路的基本应用实验报告_第1页
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文档简介

1、肇 庆 学 院电子信息与机电工程 学院 数字电路 课 实验报告 12电气(1) 班 姓名 李俊杰 学号 201224122119 实验日期2014年4 月21日 实验合作者:王圆圆 老师评定 实验题目:集成逻辑门电路的基本应用一、实验目的1、熟悉用标准与非门实现逻辑变换的方法。2、学习与非门电路的应用。3、掌握半加器电路结构和逻辑功能。二、实验仪器和设备 通用电路系统实验台 万用表 74LS00 74LS86三、实验步骤及内容(一)利用摩根定理可以对逻辑函数化简或进行逻辑变换。 摩根定律: = =1、利用与非门组成一个与门的电路设计。与非门的布尔代数表达式为:,而与门的布尔代数表达式为:,只要

2、把与非门的输出Y反相一次,即可得到与非门的功能:=因此只要用二个与非门即可实现与门的功能。测试电路图如2-1,并将测试结果记录于表2-1。 表2-1输 入输 出ABZ000010100111图2-12、利用与非门组成一个或门的电路设计,验证摩根定律。或门的布尔代数表达式为:Z=A+B,根据摩根定律可知: Z=A+B = 因此可以用三个与非门连接起来,即可实现或门的功能。测试电路图如2-2,并将测试结果记录于表2-2。 表2-2输 入输 出ABZ000011101111图2-2(二)测试74LS00的开关动态特性1、用奇数个与非门构成环形振荡器,如图2-3所示。振荡频率为: ,用示波器观察波形,

3、测量振荡频率,计算与非门的图2-3 与非门构成环形振荡器平均延迟时间。其中,是与非门的个数。结果如图2-5(三)半加器逻辑功能的测试。用一个与门及一异或门(74LS86)组成一位半加器,测试其逻辑功能。如图2-4所示。 表2-3输 入输 出ABCOS0000010110011110图2-4图2-4四、实验分析 74LS00引脚图 74LS86 引脚图f=35.61MHz根据得=4.68ns图2-5 测延迟时间波形图五、实验结论1、门电路芯片74LS00中闲置的输入端应接到高电平(即通过电阻接到电源正电压)。2、TTL与非门不用的输入端可以悬空,最好接高电平;CMOS与非门不用的输入端必须接高电平。因

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