内存ATE测试介绍PPT

1、技术交流 内存ATE测试,2007年 3月,服务客户，精益求精,1,概 览,ATE测试和ATE测试设备 ATE测试设备特点 HP83K/T5592简介 ATE测试简介,2,ATE测试,什么是ATE测试？ ATE 是 Automated Test Equipment 的简称，即自动测试设备，它是对内存条或SDRAM芯片的品质进行检测的测试设备。 ATE 测试 即使用自动测试设备对内存条或SDRAM芯片的品质进行测试。,3,ATE测试,ATE 的工作原理：,4,ATE测试设备,高档的ATE测试设备有： Verigy公司的93K系统 Advantest公司的T5581/T5585/T5592系统 K

2、INGTIGER公司的KT2A PRO系统 特点： 精度高 速度快 完整的电性能、功能和时序测试及分析 价格昂贵 专业的厂商使用,5,T5592系统,T5592系统：,6,T5592系统,7,T5592系统,8,T5592系统,9,T5592系统,10,T5592系统,11,KT-2A PRO系统,12,ATE测试设备,ATE测试设备的特点,高精度的定时性能 大向量内存 可编程的电流负载 Per Pin的时序与电平/电压 高价格,13,T5592简介,T5592测试系统简介,14,T5592参数简介,能够测试各种存储器（专用） 最高测试频率可以达到1.066GHz 定时精度达到150ps(OT

3、A) 最大可测试芯片64颗，DDR内存条16条（2Station) Driver与双向口分开，节约成本（存储器特点专门设计）,T5592简介,15,硬件部分,T5592简介,16,ATE测试简介,ATE测试简介,17,T5592测试项目,连接性测试 漏电流测试 电源电流测试 功能测试 重要DC AC参数测试 SPD的读写测试,T5592简介,18,连接性测试原理,ATE测试简介,19,ATE测试简介,漏电流测试原理,20,ATE测试简介,IDD（动态电源电流）测试原理,21,功能测试原理,时间条件 电压条件 波形条件 逻辑值,驱动器 （ATE） 比较器,被测试器件 （DUT）,图形文件,RES

4、ULT: P/F,芯片 电源,ATE测试简介,22,功能测试Pattern Check-board,ATE测试简介,23,功能测试Pattern March-6N,ATE测试简介,24,DC参数测试,DC 参数 测试,电压参数测试,电流参数测试,测试方法： 1。加电压测电流、 加电流测电压 2。改变DC参数，进行 功能测试，找到P/F 转变点 3。运行pattern程序， 直接对参数测量,ATE测试简介,25,DC测试,ATE测试简介,目的：检测芯片的各项电气性能,VSIM,ISVM,DC test unit,26,DC参数测试,电压参数测试,主要电压参数 电源电压VDD、VDDQ、VREF

5、输入电压VIL、VIH 输出电压VOL、VOH,测试目的： 评估DUT能正常工作的电压范围 评估输入管脚区分输入逻辑状态的能力 评估输出管脚的输出相应逻辑电压的能力,27,电流参数测试,主要电流参数 电源电流IDD 输入漏电流IIL、IIH 输出漏电流IOL、IOH、IOZ,测试目的： 评估DUT的漏电流大小 评估供给DUT工作时所需的电源电流大小,DC参数测试,28,工程测试,AC参数测试,AC参数测试基本原理： 改变需要测试的参数，重复执行功能 测试，直到测试结果由PASS转为FAIL 为止。记录PASS/FAIL转换点，进行必 要的数学运算，得出需要测试的参数实 际数值。实质是以时间条件

6、为基础来执 行功能测试。,29,AC参数测试,AC参数测试目的： 保证器件的时序参数满足器件SPEC的要求 保证器件在不同的时序条件限制下可正常工作 分析器件时序参数解决故障问题 Debug/优化测试程序的工具,工程测试,30,典型AC参数的时序图（CL/tRCD/tRP）,AC参数测试,31,Shmoo 图例-Margin Test (潜力测试） 用于评价芯片实际能力，通常使用SHMOO PLOT 工具进行分析,AC参数测试,32,Shmoo 图例,二维Shmoo 同时改变两个 相互关联的参 数，执行功能 测试 红色FAIL区域 绿色PASS区域,AC参数测试,33,ATE 测试,生产测试 （mass production）,工程/评估测试 （engineering/evaluation）,ATE测试简介,34,生产测试流程,基本 电性能 测试,重要 AC 参数 测试,功能 测试,连接性测试、漏电流测试、IDD测试,时序宽松、 时序严格、 基本功能、 重要的POPULAR PATTE