标准解读

《GB/T 45325-2025 贵金属键合丝热影响区长度测定 扫描电镜法》是一项国家标准,旨在规定使用扫描电子显微镜(SEM)技术来测量贵金属键合丝在焊接或热处理过程中产生的热影响区长度的方法。该标准适用于各种类型的贵金属键合丝,如金、银、铂及其合金等,在电子封装行业中的应用尤为重要。

根据这项标准,首先需要准备合适的样品,这通常涉及到将键合丝固定在一个能够清晰显示其横截面的基底上,并通过适当的手段(例如机械切割和抛光)暴露待测区域。然后利用扫描电镜观察这些经过处理后的样品表面形貌,特别是关注那些由于加热而导致材料微观结构发生变化的区域。热影响区是指因焊接或其他形式的局部加热作用下,材料物理性能与原始状态相比发生显著改变的那一部分。

为了准确界定热影响区边界,标准中定义了基于显微组织特征变化的标准,比如晶粒尺寸的变化、相变现象或者是其他可通过SEM图像识别出来的微观结构差异。此外,还可能涉及对不同位置进行元素分析以辅助判断热影响区范围。最终,依据上述观察结果,可以精确地测量出热影响区的实际长度。


如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

....

查看全部

  • 即将实施
  • 暂未开始实施
  • 2025-02-28 颁布
  • 2025-09-01 实施
©正版授权
GB/T 45325-2025贵金属键合丝热影响区长度测定扫描电镜法_第1页
GB/T 45325-2025贵金属键合丝热影响区长度测定扫描电镜法_第2页
GB/T 45325-2025贵金属键合丝热影响区长度测定扫描电镜法_第3页
免费预览已结束,剩余13页可下载查看

下载本文档

GB/T 45325-2025贵金属键合丝热影响区长度测定扫描电镜法-免费下载试读页

文档简介

ICS7704099

CCSH.21.

中华人民共和国国家标准

GB/T45325—2025

贵金属键合丝热影响区长度测定

扫描电镜法

Determinationoflengthofheataffectedzoneforpreciousmetalbondingwire—

Scanningelectronmicroscopemethod

2025-02-28发布2025-09-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T45325—2025

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中国有色金属工业协会提出

本文件由全国有色金属标准化技术委员会归口

(SAC/TC243)。

本文件起草单位贵研检测科技云南有限公司北京达博有色金属焊料有限责任公司贵研半导

:()、、

体材料云南有限公司烟台一诺电子材料有限公司国合通用青岛测试评价有限公司郴州市产商

()、、()、

品质量监督检验所云南贵金属实验室有限公司有色金属技术经济研究院有限责任公司北京有色金

、、、

属与稀土应用研究所有限公司浙江佳博科技股份有限公司

、。

本文件主要起草人王一晴毛端赵万春陈雯陈国华周文艳向磊朱武勋闫茹林良齐岳峰

:、、、、、、、、、、、

薛子夜张晓辰张卓佳刘洁毕勤嵩袁晓虹梁辰金娅秋赵义东

、、、、、、、、。

GB/T45325—2025

贵金属键合丝热影响区长度测定

扫描电镜法

1范围

本文件描述了各类贵金属键合丝以下简称键合丝热影响区长度的扫描电镜测定方法

(“”)。

本文件方法一适用于键合金丝热影响区长度的测定

本文件方法二适用于直径不超过的纯金属合金或复合类键合丝的热影响区长度测定

50μm、。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

微束分析扫描电子显微术术语

GB/T23414—2009

贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法

GB/T38783—2020

3术语和定义

界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T23414—2009。

31

.

自由空气球freeairballFAB

;

引线键合烧球阶段高压电弧击穿空气并放出大量的热使键合丝末端熔化冷却时由于表面张力

,,,

作用使键合丝末端形成的一个金属圆球

32

.

热影响区heataffectedzoneHAZ

;

引线键合烧球过程中高温熔化键合丝末端形成自由空气球同时热量传导使键合丝近

,(FAB),

区域发生再结晶及晶粒长大现象的区域

FAB。

33

.

聚焦离子束focusedionbeamFIB

;

将离子源通过离子枪加速电磁透镜聚焦后形成的离子束流

、。

来源有修改

[:GB/T38783—2020,3.1,]

34

.

双束电子显微镜dualbeamelectronmicroscope

由聚焦离子束与扫描电子显微镜结合而成的双束电子束离子束系统

(/)。

来源有修改

[:GB/T38783—2020,3.2,]

35

.

气体注入系统gasinjectionsystemGIS

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等,侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本(可阅读打印),因数字商品的特殊性,一经售出,不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致,所以下载的文档中可能包含空白页,非文档质量问题。

评论

0/150

提交评论