IATF16949测量系统分析程序

XXXXXXX有限公司编号YH-QP-006版本A/1生效日期2023-08-18文件名称：测量系统分析程序页码第2页共4页XXXXXXX有限公司编号YH-QP-006版本A生效日期2022-4-01文件名称：测量系统分析程序页码第1页共4页受控文件非受控文件參考文件文件名称测量系统分析程序编制部门：品质部文件变更记录修订日期最新版本修订内容页次制订者审核者核准者2022-01-03A0首版发行42023-08-18A/1增加5.55马伟成盘伙新龙科宇1目的对测量系统变差进行分析评估,以确定测量系统是否满足规定要求,确保测量系统处于稳定受控状态。2适用范围适用于本公司控制计划中涉及的测量系统的分析、评价和控制，及客户有要求时的测量系统的分析评价控制。3职责3.1APQP小组：负责在新项目/新产品开发的APQP过程中，组织制定测量系统分析计划。3.2品质部：负责实施测量系统分析，并对测量系统进行监控；。3.3各部门：负责参与测量系统分析和评价工作。4定义4.1测量系统:用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合；用来获得测量结果的整个过程。4.2测量系统分析（MSA）：指给某一产品/服务的一个特性给定数值的过程，并用于分析该过程对量化测量值的影响程度。4.3稳定性：测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。4.4偏倚性：测量结果的观测平均值与基准值的差值。4.5重复性：由一个评价人,采用一种测量设备,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。4.6再现性：由不同的评价人,采用相同的测量设备,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。4.7线性：在量具预期的工作量程内，偏倚值的差值。5程序5.1测量系统分析时机5.1.1产品在进行质量先期策划时,所用的体现在控制计划中的测量设备,需进行测量系统分析。5.1.2客户有要求对相关的测量系统进行分析时。5.1.3测量系统发生如新检具投入使用、检验人员发生变化、所测量的零件公差变小等更改时,需要再进行测量系统分析。5.2测量系统分析计划5.2.1在APQP中过程设计和开发阶段，根据设计开发需要，由品质部制定《测量系统分析计划》。《测量系统分析计划》必须包含控制计划中提及的所有检测设备或仪器，例如：卡尺、千分尺等。5.2.2《测量系统分析计划》经审批后，在APQP小组内进行传达和沟通，必要时，下发到各相关部门。5.3测量系统分析内容测量系统分析的内容有：重复性和再现性分析（GR&R）、稳定性分析、偏倚分析、线形分析和计数型量具小样法分析等。一般情况下，本公司主要对量具进行重复性和再现性分析（GR&R）。5.3.1重复性和再现性分析（GR&R）5.3.1.1均值极差法a）选择2～3个操作员，抽取2～10个样件，对同一特性重复测量2～3次。b）选择1名记录员，将测量结果记录在“量具重复性和再现性数据表”上；c）依据数据表和质量特性表对各要求，出具“量具重复性和再现性报告”。（具体方法参见《MSA》手册）d）接受准则：——误差<10％：测量系统可接受；——10％≤误差≤30％：条件接受；依量具的重要性、成本及维修费用，决定是否接受，必要时，可与顾客协商。——误差>30％：测量系统不可接受；需分析原因，实施改进。5.3.2稳定性分析5.3.2.1选取样品并确定其相对于可追溯标准的基准值，对每个样品单独测量，并描绘控制图。5.3.2.2定期（天）测量样品1～5次，决定样品的数量和频率时考虑的因素有：检定周期、使用频率、修理次数、工序的重要性和使用环境等。把测量结果记录于“稳定性分析数据记录表及分析报告”中。5.3.2.3计算控制界限，并对不稳定或失控作出判断，准则为：a）控制点能超出上下控制线；b）所有的控制点中，不能有多于2/3的点落在A区域内；亦不能有多于4/5的点落在B区域内，而C区的点不能多于15点也不能少于8点。c）不能有连续14点有规则的上下波动。d）不能有7点（或更多点）落在控制中心线的同一侧；e）不能有6点（或更多点）持续上升或下降。凡呈现不稳定状态（失控）时，必须对量具进行校准或维修。（具体方法参见《MSA》手册）5.3.3偏倚分析5.3.3.1选取样品并确定其相对可追溯的基准值。5.3.3.2由一位操作员（评价人）以常规的方式对每个样品测量10次（或更多次），并计算其平均值，此值即为“观测平均值”。5.3.3.3计算偏倚：偏倚=观测平均值-基准值偏倚%=[偏倚÷过程变差（或公差）]×100%当过程变差无法求得时，可用规格公差代替，即除式中的分母使用“公差”代替。5.3.3.4偏倚接受准则：偏倚%≤10%时接受。5.3.3.5偏倚分析记录于“偏倚分析数据记录表及分析报告”中。（具体方法参见《MSA》手册）5.3.3.6分析结果，如果偏倚较大，应查找以下几方面得可能原因：a）基准值有误差，检查基准值测量程序；b）仪器有磨损；c）仪器调整不正确。5.3.4线形分析5.3.4.1选取5个产品，其测量值应尽可能覆盖规格公差带。（即按量具量程范围来定，一般应覆盖上限、下限和中部的量程）。5.3.4.2用更精密的量具测量每个产品以确定它们的基准值，并验证其尺寸是否已覆盖了公差带。5.3.4.3由操作员（评价人）盲测每个产品各10次（或更多次），计算平均值，即为每个零件的“观测平均值”，把结果记录于“线形分析数据记录表”中。5.3.4.4计算偏倚平均值：偏倚平均值=观测平均值—基准值5.3.4.5线形计算，并将计算及结果填入“线形分析报告”中。（具体方法参见《MSA》手册）5.3.4.6线形接受准则：线形%≤10%时，接受。5.3.4.7如果测量系统的线形不能接受，应查找以下可能原因：a）仪器没有正确标准；b）仪器有磨损；c）量具的稳定性不好。5.3.5计数型量具小样法分析5.3.5.1选取20个零件（应含有规范允许上限或下限边缘值的零件），由两位评价人以盲测法，分成两次测量所有零件，由一位记录人将测量结果记录于“小样法分件报告”中。5.3.5.2判定：所有测量结果一致，则接受量具；否则应改进或重新评价该量具，并采取相应纠正措施。5.3.5.3将分析结果填入“小样法量具检测能力测定表”中。（具体方法参见《MSA》手册）5.4测量系统改进依据计算、分析结果和判定结论，对需要改进的测量系统，品质部组织相关人员进行原因分析，制订改进计划。必要时采取以下措施：a）对工艺及计量器具配置的合理性进行原因分析，并采取相应的措施；b）对测量系统操作程序或作业指导书的合理性进行原因分析，并采取相应的措施；c）对操作人员的技能方法进行评价，并采取相应的措施；d）对操作规程的执行情况进行分析，并采取相应的措施。5.5MSA分析每年度需对控制计划内涉及的所有检验工具进行测量系统分析，确认仪器的测量有效性。5.5.1对新的（或维修后的）量具进行分析；5.5.2对测定特殊的量具进行分析和复查；5.5.3生产产品公差发生变化时，对量具进行确认；5.5.4测量系统分析计划依照控制计划识别的测量系统进行，品质部负责每年对测量系统五性分析一次，如客户无特别要求，5.5.5测量仪器的系统分析原则上采用MSA手册的方法，如顾客有要求，则按照顾客的要求进行。计量型测量仪器可采用：偏倚、稳定性、线性、重复性和再现性中的任一一种分析方式。计数型测量要求可采用风险分析法。5.5.6公差范围偏差过大的测量值可