材料现代分析测试方法习题答案

材料现代分析测试方法习题答案【篇一：2012年材料分析测试方法复习题及解答】lass=txt>一、单项选择题（每题3分，共15分）1．成分和价键分析手段包括【b】（a）wds、能谱仪（eds）和xrd（b）wds、eds和xps（c）tem、wds和xps（d）xrd、ftir和raman2．分子结构分析手段包括【a】（a）拉曼光谱（raman）、核磁共振（nmr）和傅立叶变换红外光谱（ftir）（b）nmr、ftir和wds（c）sem、tem和stem（扫描透射电镜）（d）xrd、ftir和raman3．表面形貌分析的手段包括【d】（a）x射线衍射（xrd）和扫描电镜（sem）(b)sem和透射电镜（tem）(c)波谱仪（wds）和x射线光电子谱仪（xps）(d)扫描隧道显微镜（stm）和sem4．透射电镜的两种主要功能：【b】（a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构（c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键5．下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括：【c】（a）–c-h、–oh和–nh2(b)–c-h、和–nh2,(c)–c-h、和-c=c-(d)–c-h、和co2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（√）3．透镜的数值孔径与折射率有关。（√）5．在样品台转动的工作模式下，x射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。（√）三、简答题（每题5分，共25分）1.扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么?和所用的信号种类和束斑尺寸有关，因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。2．原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？范德华力和毛细力。以上两种力可以作用在探针上，致使悬臂偏转,当针尖在样品上方扫描时，探测器可实时地检测悬臂的状态，并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。3.在核磁共振谱图中出现多重峰的原因是什么？多重峰的出现是由于分子中相邻氢核自旋互相偶合造成的。在外磁场中，氢核有两种取向，与外磁场同向的起增强外场的作用，与外磁场反向的起减弱外场的作用。根据自选偶合的组合不同，核磁共振谱图中出现多重峰的数目也有不同，满足“n+1”规律4．什么是化学位移，在哪些分析手段中利用了化学位移？同种原子处于不同化学环境而引起的电子结合能的变化，在谱线上造成的位移称为化学位移。在xps、俄歇电子能谱、核磁共振等分析手段中均利用化学位移。5。拉曼光谱的峰位是由什么因素决定的,试述拉曼散射的过程。四、问答题（10分）说明阿贝成像原理及其在透射电镜中的具体应用方式。答：阿贝成像原理（5分）：平行入射波受到有周期性特征物体的散射作用在物镜的后焦面上形成衍射谱，各级衍射波通过干涉重新在像平面上形成反映物的特征的像。在透射电镜中的具体应用方式（5分）。利用阿贝成像原理，样品对电子束起散射作用，在物镜的后焦面上可以获得晶体的衍射谱，在物镜的像面上形成反映样品特征的形貌像。当中间镜的物面取在物镜后焦面时,则将衍射谱放大，则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样；当中间镜物面取在物镜的像面上时，则将图像进一步放大,这就是电子显微镜中的成像操作。五、计算题（10分）答：确定氧化铝的类型（5分）xrd物相分析的一般步骤。（5分）测定衍射线的峰位及相对强度i/i1：(1)以试样衍射谱中三强线面间距d值为依据查hanawalt索引。(2)按索引给出的卡片号找出几张可能的卡片，并与衍射谱数据对照。(3)如果试样谱线与卡片完全符合，则定性完成。六、简答题（每题5分，共15分）1．透射电镜中如何获得明场像、暗场像和中心暗场像？答：如果让透射束进入物镜光阑，而将衍射束挡掉，在成像模式下，就得到明场象。如果把物镜光阑孔套住一个衍射斑，而把透射束挡掉，就得到暗场像，将入射束倾斜，让某一衍射束与透射电镜的中心轴平行，且通过物镜光阑就得到中心暗场像。2．简述能谱仪和波谱仪的工作原理。答：能量色散谱仪主要由si(li)半导体探测器、在电子束照射下，样品发射所含元素的荧光标识x射线，这些x射线被si(li)半导体探测器吸收，进入探测器中被吸收的每一个x射线光子都使硅电离成许多电子—空穴对，构成一个电流脉冲，经放大器转换成电压脉冲，脉冲高度与被吸收的光子能量成正比。最后得到以能量为横坐标、强度为纵坐标的x射线能量色散谱。在波谱仪中，在电子束照射下，样品发出所含元素的特征x射线。若在样品上方水平放置3．电子束与试样物质作用产生那些信号？说明其用途。（1）二次电子。当入射电子和样品中原子的价电子发生非弹性散射作用时会损失其部分能量(约30～50电子伏特)，这部分能量激发核外电子脱离原子，能量大于材料逸出功的价电子可从样品表面逸出，变成真空中的自由电子，即二次电子。二次电子对试样表面状态非常敏感，能有效地显示试样表面的微观形貌。（2）背散射电子。背散射电子是指被固体样品原子反射回来的一部分入射电子。既包括与样品中原子核作用而形成的弹性背散射电子，又包括与样品中核外电子作用而形成的非弹性散射电子。利用背反射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可以用来显示原子序数衬度，进行定性成分分析。（3）x射线。当入射电子和原子中内层电子发生非弹性散射作用时也会损失其部分能量(约几百电子伏特)，这部分能量将激发内层电子发生电离，失掉内层电子的原子处于不稳定的较高能量状态，它们将依据一定的选择定则向能量较低的量子态跃迁，跃迁的过程中将可能发射具有特征能量的x射线光子。由于x射线光子反映样品中元素的组成情况，因此可以用于分析材料的成分。七、问答题1．根据光电方程说明x射线光电子能谱（xps）的工作原理。(5分)因此，如果知道了样品的功函数，则可以得到电子的结合能。x射线光电子能谱的工资原理为，用一束单色的x射线激发样品，得到具有一定动能的光电子。光电子进入能量分析器，利用分析器的色散作用，可测得起按能量高低的数量分布。由分析器出来的光电子经倍增器进行信号的放大，在以适当的方式显示、记录，得到xps谱图，根据以上光电方程，求出电子的结合能，进而判断元素成分和化学环境。2．面心立方结构的结构因子和消光规律是什么？（8分）补充简答题：1.x射线产生的基本条件答：①产生自由电子；②使电子做定向高速运动；③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。2.连续x射线产生实质答：假设管电流为10ma，则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10（16）个，如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同，并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞，逐步把能量释放到零，同时产生一系列能量为hv（i）的光子序列，这样就形成了连续x射线。3.特征x射线产生的物理机制答：原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在k、l、m、n等不同能级的壳层上，而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速度的粒子动能足够大时，可以将壳层中某个电子击出去，于是在原来的位置出现空位，原子系统的能量升高，处于激发态，这时原子系统就要向低能态转化，即向低能级上的空位跃迁，在跃迁时会有一能量产生，这一能量以光子的形式辐射出来，即特征x射线。4.短波限、吸收限答：短波限：x射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最短波长值。吸收限：把一特定壳层的电子击出所需要的入射光最长波长。5.x射线相干散射与非相干散射现象答：相干散射：当x射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时，电子振动时向四周发射电磁波的散射过程。非相干散射：当x射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。6.光电子、荧光x射线以及俄歇电子的含义答：光电子：光电效应中由光子激发所产生的电子（或入射光量子与物质原子中电子相互碰撞时被激发的电子）。荧光x射线：由x射线激发所产生的特征x射线。俄歇电子：原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位，这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收，受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。7.x射线吸收规律、线吸收系数8.晶面及晶面间距答:晶面：在空间点阵中可以作出相互平行且间距相等的一组平面，使所有的节点均位于这组平面上，各平面的节点分布情况完全相同，这样的节点平面成为晶面。晶面间距：两个相邻的平行晶面的垂直距离。9.反射级数与干涉指数：2答：布拉格方程dsin??n?表示面间距为d’的（hkl）晶面上产生了n级衍射，n就是反射级数d干涉指数：当把布拉格方程写成：2sin???n时，这是面间距为1/n的实际上存在或不存在的假想晶面的一级反射，若把这个晶面叫作干涉面，其间的指数就叫作干涉指数10.衍射矢量与倒易矢量答：衍射矢量：当束x射线被晶面p反射时，假定n为晶面p的法线方向，入射线方向用单位矢量s0表示，衍射线方向用单位矢量s表示，则s-s0为衍射矢量。倒易矢量：从倒易点阵原点向任一倒易阵点所连接的矢量叫倒易矢量，表示为：r*=ha*+kb*+lc*11.结构因子的定义答：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数，即晶体结构对衍射强度的影响因子12.原子散射因子随衍射角的变化规律论述题：一、推导劳埃方程和布拉格方程解：1。推导劳埃方程：假定①满足干涉条件②x-ray单色且平行上排列的，所以为了产生衍射，必须同时满足：2．推导布拉格方程式：假定①x-ray单色且平行②晶体无限大且平整（无缺陷）此式即为布拉格方程。二、以体心立方（001）衍射为例，利用心阵点存在规律推导体心和面心晶体的衍射消光规律三、证明厄瓦尔德球图解法等价于布拉格方程证明：根据倒易矢量的定义o*g=g，于是我们得到k＇-k=g上式与布拉格定律完全等价。由o向o*g作垂线，垂足为d，因为g平行于（hkl）晶面的法向nhkl，所以od就是正空间中（hkl）晶面的方位，若它与入射四、阐明消光现象的物理本质，并利用结构因子推导出体心和面心晶体的衍射消光规律解：参考p36-p42由系统消光的定义把因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上的衍射消失的现象知，消光的物理本质是原子的种类及其在晶胞中的位置。由|fhkl=0|=消光可推出如下消汇丰银行规律①体心晶体存在2个原子,坐标分别为(0,0,0),(1/2,1/2,1/2)【篇二：材料现代测试分析方法期末考试卷加答案】ass=txt>一、名词解释（共20分，每小题2分。）1.辐射的发射：指物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。2.俄歇电子：x射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原子(实际是离子)处于激发态，将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程，此过程发射的电子。3.背散射电子：入射电子与固体作用后又离开固体的电子。4.溅射：入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时，就引起表面粒子（原子、离子、原子团等）的发射，这种现象称为溅射。5.物相鉴定：指确定材料（样品）由哪些相组成。6.电子透镜：能使电子束聚焦的装置。7.质厚衬度：样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应区域透射电子强度的改变，从而在图像上形成亮暗不同的区域，这一现象称为质厚衬度。8.蓝移：当有机化合物的结构发生变化时，其吸收带的最大吸收峰波长或位置（?最大）向短波方向移动，这种现象称为蓝移（或紫移，或“向蓝”）。9.伸缩振动：键长变化而键角不变的振动，可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。10.差热分析：指在程序控制温度条件下，测量样品与参比物的温度差随温度或时间变化的函数关系的技术。二、填空题（共20分，每小题2分。）1.电磁波谱可分为三个部分，即长波部分、中间部分和短波部分，其中中间部分包括（红外线）、（可见光）和（紫外线），统称为光学光谱。2.光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。光谱按强度对波长的分布（曲线）特点（或按胶片记录的光谱表观形态）可分为（连续）光谱、（带状）光谱和（线状）光谱3类。3.分子散射是入射线与线度即尺寸大小远小于其波长的分子或分子聚集体相互作用而产生的散射。分子散射包括（瑞利散射）与（拉曼散射）两种。4.x射线照射固体物质(样品)，可能发生的相互作用主要有二次电子、背散射电子、特征x射线、俄歇电子、吸收电子、透射电子5.多晶体（粉晶）x射线衍射分析的基本方法为（照相法）和（x射线衍射仪法）。6.依据入射电子的能量大小，电子衍射可分为（高能）电子衍射和（低能）电子衍射。依据电子束是否穿透样品，电子衍射可分为（投射式）电子衍射与（反射式）电子衍射。7.衍射产生的充分必要条件是（(衍射矢量方程或其它等效形式)加?f?2≠0）。8.透射电镜的样品可分为（直接）样品和（间接）样品。9.单晶电子衍射花样标定的主要方法有（尝试核算法）和（标准花样对照法）。10.扫描隧道显微镜、透射电镜、x射线光电子能谱、差热分析的英文字母缩写分别是（stm）、（tem）、（xps）、（dta）。11.x射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉晶法和衍射仪法。12.扫描仪的工作方式有和两种。13.在x射线衍射物相分析中，粉末衍射卡组是由粉末衍射标准联合委员会编制，称为jcpds卡片，又称为pdf卡片。14.电磁透镜的像差有球差、色差、轴上像散和畸变。15.透射电子显微镜的结构分为。16.影响差热曲线的因素有升温速度、粒度和颗粒形状、装填密度和压力和气氛。1.干涉指数是对晶面空间方位与晶面间距的标识。晶面间距为d110/2的晶面其干涉指数为（220）。（√）2.倒易矢量r*hkl的基本性质为：r*hkl垂直于正点阵中相应的（hkl）晶面，其长度r*hkl等于(hkl)之6.俄歇电子能谱不能分析固体表面的h和he。（√）7.低能电子衍射（leed）不适合分析绝缘固体样品的表面结构。（√）8.d-d跃迁受配位体场强度大小的影响很大，而f-f跃迁受配位体场强度大小的影响很小。（√）四、单项选择题（共10分，每小题1分。）1.原子吸收光谱是（a）。a、线状光谱b、带状光谱c、连续光谱2.下列方法中，（a）可用于测定方解石的点阵常数。a、x射线衍射线分析b、红外光谱c、原子吸收光谱d紫外光谱子能谱3.合金钢薄膜中极小弥散颗粒(直径远小于1?m)的物相鉴定，可以选择（d）。a、x射线衍射线分析b、紫外可见吸收光谱c、差热分析d、多功能透射电镜4.几种高聚物组成之混合物的定性分析与定量分析，可以选择（a）。a、红外光谱b、俄歇电子能谱c、扫描电镜d、扫描隧道显微镜5.下列（b）晶面不属于[100]晶带。a、（001）b、（100）c、（010）d、（001）6.某半导体的表面能带结构测定，可以选择（d）。a、红外光谱b、透射电镜c、x射线光电子能谱d紫外光电子能谱7.要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量，一般应选用（a）电子探针仪，a、波谱仪型b、能谱仪型8.要测定聚合物的熔点，可以选择（c）。a、红外光谱b、紫外可见光谱c、差热分析d、x射线衍射9.下列分析方法中，（a）不能分析水泥原料的化学组成。a、红外光谱b、x射线荧光光谱c、等离子体发射光谱d、原子吸收光谱10.要分析陶瓷原料的矿物组成，优先选择（c）。a、原子吸收光谱b、原子荧光光谱c、x射线衍射d、透射电镜11．成分和价键分析手段包括【b】（a）wds、能谱仪（eds）和xrd（b）wds、eds和xps（c）tem、wds和xps（d）xrd、ftir和raman12．分子结构分析手段包括【a】（a）拉曼光谱（raman）、核磁共振（nmr）和傅立叶变换红外光谱（ftir）（b）nmr、ftir和wds（c）sem、tem和stem（扫描透射电镜）（d）xrd、ftir和raman13．表面形貌分析的手段包括【d】（a）x射线衍射（xrd）和扫描电镜（sem）(b)sem和透射电镜（tem）(c)波谱仪（wds）和x射线光电子谱仪（xps）(d)扫描隧道显微镜（stm）和sem14．透射电镜的两种主要功能：【b】（a）表面形貌和晶体结构（b）内部组织和晶体结构（c）表面形貌和成分价键（d）内部组织和成分价键五、简答题（共40分，每小题8分）答题要点：1.简述分子能级跃迁的类型，比较紫外可见光谱与红外光谱的特点。答：分子能级跃迁的类型主要有分子电子能级的跃迁、振动能级的跃迁和转动能级的跃迁。紫外可见光谱是基于分子外层电子能级的跃迁而产生的吸收光谱，由于电子能级间隔比较大，在产生电子能级跃迁的同时，伴随着振动和转动能级的跃迁，因此它是带状光谱，吸收谱带（峰）宽缓。而红外光谱是基于分子振动和转动能级跃迁产生的吸收光谱。一般的中红外光谱是振-转光谱，是带状光谱，而纯的转动光谱处于远红外区，是线状光谱。2.简述布拉格方程及其意义。答：晶面指数表示的布拉格方程为2dhklsin?=n?，式中d为（hkl）晶面间距，n为任意整数，称反射级数，?为掠射角或布拉格角，?为x射线的波长。干涉指数表示的布拉格方程为2dhklsin?=?。其意义在于布拉格方程表达了反射线空间方位（?）与反射晶面面间距（d）及入射线方位（?）和波长（?）的相互关系，是x射线衍射产生的必要条件，是晶体结构分析的基本方程。3.为什么说扫描电镜的分辨率和信号的种类有关？试将各种信号的分辨率高低作一比较。答：扫描电镜的分辨率和信号的种类有关，这是因为不同信号的性质和来源不同，作用的深度和范围不同。主要信号图像分辨率的高低顺为：扫描透射电子像（与扫描电子束斑直径相当）?二次电子像（几nm，与扫描电子束斑直径相当）背散射电子像（50-200nm）吸收电流像?特征x射图像（100nm-1000nm）。4.要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选择什么仪器？简述具体的分析方法。答：要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，应选用配置有波谱仪或能谱仪的扫描电镜。具体的操作分析方法是：先扫描不同放大倍数的二次电子像，观察断口的微观形貌特征，选择并圈定断口上的粒状夹杂物，然后用波谱仪或能谱仪定点分析其化学成分（确定元素的种类和含量）。5.简述影响红外吸收谱带的主要因素。答：红外吸收光谱峰位影响因素是多方面的。一个特定的基团或化学键只有在和周围环境完全没有力学或电学偶合的情况下，它的键力常数k值才固定不变。一切能引起k值改变的因素都会影响峰位变化。归纳起来有：诱导效应、共轭效应、键应力的影响、氢键的影响、偶合效应、物态变化的影响等。6．透射电镜主要由几大系统构成?各系统之间关系如何?答：四大系统:电子光学系统,真空系统,供电控制系统,附加仪器系统。其中电子光学系统是其核心。其他系统为辅助系统。7．透射电镜中有哪些主要光阑?分别安装在什么位置?其作用如何?答：主要有三种光阑：①聚光镜光阑。在双聚光镜系统中,该光阑装在第二聚光镜下方。作用:限制照明孔径角。②物镜光阑。安装在物镜后焦面。作用:提高像衬度；减小孔径角，从而减小像差；进行暗场成像。③选区光阑:放在物镜的像平面位置。作用:对样品进行微区衍射分析。8．什么是消光距离?影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么?答：消光距离:由于透射波和衍射波强烈的动力学相互作用结果，使i0和ig在晶体深度方向上发生周期性的振荡，此振荡的深度周期叫消光距离。影响因素:晶胞体积,结构因子,bragg角,电子波长。【篇三：《材料现代分析测试方法》复习思考题类型】ass=txt>一、名词术语电磁辐射（电磁波或光）、波数、原子基态、原子激发、激发态、激发能、激发电位、电子跃迁（能级跃迁）、辐射跃迁、无辐射跃迁、原子电离、电离能、电离电位、一次电离、二次电离、光谱项、光谱支项、塞曼分裂、成键轨道、反键轨道、?轨道、?电子、?键、?轨道、?电子、?键、分子振动、伸缩振动、变形振动（变角振动或弯曲振动）、原子轨道磁矩、电子自旋磁矩、原子核磁矩、禁带、禁带宽度（能隙）、价带、导带、满带、空带、费米能级、干涉指数、倒易点阵、晶带、光学分析法、光谱法、辐射的吸收、吸收光谱、辐射的发射、荧光、磷光、发射光谱、分子荧光（磷光）光谱、辐射的散射、散射基元、分子散射、瑞利散射、拉曼散射、反斯托克斯线、斯托克斯线、晶体中的电子散射、x射线相干散射（弹性散射、经典散射或汤姆逊散射）、x射线非相干散射（非弹性散射、康普顿-吴有训效应、康普顿散射、量子散射）、光电离、光电效应、光电子能谱、共振线、主共振线、共振吸收线、主共振吸收线、共振发射线、主共振发射线、灵敏线、原子线、离子线、多重线系、原子光谱的精细结构、塞曼能级、塞曼效应、原子荧光、共振荧光、非共振荧光、斯托克斯荧光、反斯托克斯荧光、直跃线荧光、阶跃线荧光、热助直跃荧光、热助阶跃荧光、热助激发、分子光谱、紫外可见吸收光谱（电子光谱）、红外吸收光谱、红外活性与红外非活性、单重基态、单重激发态、三重激发态、系间窜跃、内转移、振动弛豫、外转移、熄灭或淬灭、k系特征辐射、lk?、k?1射线、k?2射线、短波限、吸收限、线吸收系数、质量吸收系数、散射角（2?）、电子吸收、（电子的）最大穿入深度、二次电子、俄歇电子、连续x射线、特征x射线、背散射电子、吸收电流（电子）、透射电子、溅射、二次离子、系统消光、点阵消光、结构消光、选靶、滤波、衍射花样的指数化、连续扫描法、步进扫描法、电子透镜、电磁透镜、08：明场像、暗场像、中心暗场像、质厚衬度、衍射衬度、?-?*跃迁、?-?*跃迁、n-?*跃迁、n-?*跃迁、10：d-d跃迁、f-f跃迁、n电子（或p电子）、生色团、助色团、反助色团、蓝移、红移、浓色效应、浅色效应、电荷转移光谱、运动自由度、振动自由度、简并与分裂、倍频峰（或称泛音峰）、组频峰、振动耦合、费米共振、特征振动频率、特征振动吸收带、内振动、外振动（晶格振动）、热分析、热重法、差热分析、差示扫描量热法、微商热重（dtg）曲线、参比物（或基准物、中性体）、程序控制温度、（热分析曲线）外推始点、核磁共振、穆斯堡尔谱、电子隧道效应、隧道电流。名词、术语比较线光谱、带光谱与连续光谱，吸收光谱、发射光谱与散射光谱，x射线荧光、原子荧光与分子荧光，瑞利散射、拉曼散射、汤姆逊散射与康普顿散射，x射线光电子能谱与x射线荧光光谱，核磁共振与顺磁共振，辐射跃迁与非辐射跃迁，选择跃迁与禁阻跃迁，共振线与灵敏线，激发电位与电离电位，元素定性分析与物相定性分析，元素定量分析与物相定量分析，物相定性分析与化合物结构定性分析，化合物结构定性分析与结构分析，化合物定性分析与定量分析，元素分析与组分分析，晶体结构分析与物相定性分析，表面结构分析、表面结构缺陷分析与表面化学分析，微区结构分析与微区形貌观察，x射线散射、衍射与反射，反射角、衍射角与掠射角（或布拉格角）。（下划线部分为重点要求的名词术语）二、填空1．电磁波谱可分为3个部分：①长波部分，包括()与()，有时习惯上称此部分为()。②中间部分，包括()、()和()，统称为()。③短波部分，包括()和()（以及宇宙射线），此部分可称()。2．原子中电子受激向高能级跃迁或由高能级向低能级跃迁均称为()跃迁或()跃迁。3．电子由高能级向低能级的跃迁可分为两种方式：跃迁过程中多余的能量即跃迁前后能量差以电磁辐射的方式放出，称之为()跃迁；若多余的能量转化为热能等形式，则称之为()跃迁。4．分子的运动很复杂，一般可近似认为分子总能量（e）由分子中各()，()及()组成。5．多原子分子振动可分为()振动与()振动两类。6．伸缩振动可分为()和()。7．变形振动可分为()和()。10．干涉指数是对晶面()与晶面()的标识。11．晶面间距分别为d110／2，d110/3的晶面，其干涉指数分别为()和()。12．倒易矢量r*hkl的基本性质为：r*hkl垂直于正点阵中相应的（hkl）晶面，其长度?r*hkl?等于(hkl)之晶面间距dhkl的()。13．电磁辐射与物质（材料）相互作用，产生辐射的（）、（）、（）等，是光谱分析方法的主要技术基础。14．按辐射与物质相互作用性质，光谱分为（）、（）与（）。15．吸收光谱与发射光谱按发生作用的物质微粒不同可分为（）和（）等。16．光谱按强度对波长的分布(曲线)特点(或按胶片记录的光谱表现形态)可分为（）、（）和（）3类。17．分子散射包括（）与（）两种。18．晶体中的电子散射包括（）与（）两种。19．基于自由(气态)原子外层电子跃迁产生的光谱，主要有（）、（）和（），通常所称原子光谱即指此3类光谱。20．光电子发射过程由3步组成：()、()和()。21．光电子能谱按激发能源分为()和()。22．俄歇电子符号kl2l3顺序表示()、()和()的能级符号。23．x射线与固体物质相互作用产生的信息主要有()、()、()、()、()等，据此建立的分析方法主要有()、()、()、()等。24．入射电子照射固体时，与固体中粒子的相互作用包括()、()、()三个过程。25．物质对电子的散射有()散射和()散射之分。26．电子激发诱导的x射线辐射主要包括()、()、()。27、常见的衍射分析包括()衍射分析、()衍射分析和()衍射分析。28、常见的三种电子显微分析是()、()和()。29．衍射波的两个基本特征是（）和（）。30．x射线衍射方法分为多晶体衍射方法和单晶体衍射方法；主要的多晶体衍射方法是（）和（）；单晶体衍射方法是（）、（）和（）等。31．根据底片圆孔位置和开口所在位置不同，德拜法底片的安装方法分为3种，即（）、（）和（）。32．德拜法测量和计算的?值的误差来源主要有（）和（）等，校正的方法主要是采用（）安装底片。33．透射电子显微镜（tem）由（）系统、（）系统、（）系统、（）系统和（）系统组成。34．透射电子显微镜（tem）的成像系统是由（）镜、（）镜和（）镜组成。35．透射电子显微镜（tem）成像系统的两个基本操作是（）操作和（）操作。36．按复型的制备方法，复型主要分为（）复型、（）复型和（）复型。37．电子探针分析主要有三种工作方式，分别是（）分析、（）分析和（）分析。38．电子探针中检测特征x射线的装置有2种类型，即（）和（）。39．用于表面分析的方法很多，其中电子能谱应用最广泛，而最常用的三种电子能谱是（）、（）和（）。40．在紫外和可见光区范围内，有机及无机化合物的电子跃迁类型主要包括（）、（）、（）、（）、（）、（）、（）和（）。41．根据朗伯-比尔定律，一束平行电磁辐射，强度为i0，穿过厚度为b、组分浓度为c的透明介质溶液后，由于介质中粒子对辐射的吸收，结果强度衰减为i，则溶液的吸光度a表示为()。42．若一个分子是由n个原子组成，则非线性分子的振动自由度为（），而线性分子的振动自由度为（）。43．红外辐射与物质相互作用产生红外吸收光谱，必须有分子偶极矩的变化。只有发生偶极矩变化的分子振动，才能引起可观测到的红外吸收谱带，称这种分子振动为（），反之则称为（）。44．影响dta曲线和dsc曲线的主要因素有（）、（）、（）、（）、（）、（）等。45．影响tg曲线的主要因素有（）、（）、（）、（）、（）、（）等。46．x射线衍射、扫描电镜、红外吸收光谱、俄歇电子能谱的英文字母缩写分别是（）、（）、（）、（）。47．扫描隧道显微镜、透射电镜、x射线光电子能谱、差热分析的英文字母缩写分别是（）、（）、（）、（）。48．紫外光电子能谱、原子吸收光谱、波谱仪、差示扫描量热法的英文字母缩写分别是（）、（）、（）、（）。49．透射电镜、扫描电镜、电子探针、原子力显微镜的英文字母缩写分别是（）、（）、（）、（）。50．x射线衍射、热重法、傅里叶变换红外光谱、核磁共振的英文字母缩写分别是（）、（）、（）、（）。51．原子发射光谱、紫外可见吸收光谱、差示扫描量热法、x射线光电子能谱的英文字母缩写分别是（）、（）、（）、（）。三、判断题1．当有外磁场时，只用量子数n、l与m表征的原子能级失去意义。2．干涉指数表示的晶面并不一定是晶体中的真实原子面，即干涉指数表示的晶面上不一定有原子分布。3．晶面间距为d101／2的晶面，其干涉指数为（202）。4．正点阵与倒易点阵之间互为倒易关系。5．正点阵中每一（hkl）对应着一个倒易点，该倒易点在倒易点阵中的坐标（可称阵点指数）即为hkl；反之，一个阵点指数为hkl的倒易点对应正点阵中一组（hkl），（hkl）方位与晶面间距由该倒易点相应的倒易矢量r*hkl决定。6．原子发射光谱是带状光谱。7．原子吸收光谱是线状光谱。8．原子荧光光谱是线状光谱。9．紫外可见吸收光谱是带状光谱。10．红外吸收光谱是线状光谱。11．红外吸收光谱一般也叫振转光谱（或振动光谱）。12．转动光谱是线状光谱。13．x射线衍射是光谱法。14．根据特征x射线的产生机理，?k??k?，?k?1?k?2。15．物质的原子序数越高，对电子产生弹性散射的比例就越大。16．电子束的入射角越大，二次电子的产额越大。17．电子与固体作用产生的信息深度次序是：俄歇电子?二次电子背散射电子吸收电子特征x射线。18．一束x射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可能产生衍射。19．衍射矢量（s-s0=r*hkl）方向平行于反射晶面（hkl）的法线方向，其长度为反射晶面（hkl）的倒易矢量r*长度的?倍，即?r*hkl?=?/dhkl。20．可能产生反射的晶面，其倒易点必落在反射球（厄瓦尔德球）上。21．衍射线在空间的方位仅取决于晶胞的形状与大小，而与晶胞中的原子位置无关；衍射线的强度则仅取决于晶胞中原子位置，而与晶胞形状及大小无关。22．入射x射线的波长（?）越长则可能产生的衍射线条越少。23．靶不同（选择的入射x线不同），同一干涉指数（hkl）晶面的衍射线出现的位置不同（?）。24．德拜法的样品是平板状的，而衍射仪法的样品是圆柱形的。25．掠射角（?）越大，则分辨率（?）越大，故背反射衍射线条比前反射线条分辨率高。26．透射电镜分辨率的高低主要取决于物镜。27．通过调整中间镜的透镜电流，使中间镜的物平面与物镜的背焦面重合，可在荧光屏上得到衍射花样；若使中间镜的物平面与物镜的像平面重合则得到显微像。28．电子衍射与x射线衍射相比，其精度和准确度更高。29．单晶电子衍射花样是同心圆，而多晶电子衍射花样是有规律的斑点。30．单晶电子衍射斑点具有周期性。31．单晶电子衍射花样的标定具“180?不唯一性”或“偶合不唯一性”现象。32．通常所谓的扫描电子显微镜的分辨率是指二次电子像的分辨率。33．背散射电子像与二次电子像比较，其分辨率高，景深大。34．二次电子像的衬度主要来源于形貌衬度。35．电子探针是一种微区成分分析方法。36．电子探针可以分析元素周期表上所有的元素。37．电子探针中检测特征x射线的谱仪有波谱仪和能谱仪两种，波谱仪是检测x射线的能量和强度的谱仪，而能谱仪是检测x射线波长和强度的谱仪。38．紫外可见吸收光谱是电子光谱。39．配位体场的强度对d轨道能级分裂的大小影响很大，从而也就决定了电子光谱峰的位置。40．d-d跃迁受配位体场强度大小的影响很大，而f-f跃迁受配位体场强度大小的影响很小。41．d-d跃迁和f-f跃迁受配位体场强度大小的影响都很大。42．红外辐射与物质相互作用产生红外吸收光谱必须有分子偶极矩的变化。43．若一个分子是由n个原子组成，则非线性分子的振动自由度为3n-5，而线