材料研究方法智慧树知到期末考试答案章节答案2024年西安工业大学

材料研究方法智慧树知到期末考试答案+章节答案2024年西安工业大学除了金刚石砂纸，硬度最高的就是碳化硅砂纸（）

答案:对面心立方晶体能发生衍射的晶面的指数平方和之比为3:4:8:11…()

答案:对透射电子显微镜的分辨率取决于()

答案:物镜显微镜的有效放大倍数和下列哪些因素有关（

）

答案:人眼的分辨率;孔径半角;物镜的分辨率;光的传播介质在电镜操作过程中，主要是利用（

）来控制总放大倍数

答案:中间镜扫描速度愈大，XRD图谱愈显平滑整齐，但滞后也愈严重()

答案:对精确满足布拉格条件的晶面不一定会衍射()

答案:对衍射角是指（

）

答案:2θ要提高显微镜的分辨率，可以考虑（

）

答案:采用高折射率介质;增大透镜尺寸;缩短透镜与样品距离X射线物相分析可分析的物相包括（）

答案:固溶体;玻璃态;化合物;纯元素德拜相上通常低角线条较细而明锐，高角线条宽而散()

答案:对光学显微镜具有（

）放大功能

答案:二级X射线管的工作电压一般是()

答案:几十千伏要标定一幅单晶体电子衍射花样，前提是知道相机常数和晶体类型()

答案:错当晶面间距（

）时，才可以参与衍射

答案:大于半波长电磁透镜的焦长是指()

答案:像平面允许的轴向偏差物质的质量吸收系数随其密度的变化而变化（）

答案:错()质量吸收系数越大

答案:物质的原子序数越大;X射线的波长越长对工业纯铁进行多晶体衍射实验时，不可能发生衍射的晶面是()

答案:111选区光阑是选择样品上的一个微区进行分析，所以必须安装在样品附近()

答案:错成分均匀的单相材料抛光后不腐蚀也可以观察（）

答案:错透射电镜一般都采用双聚光镜系统()

答案:对扫描电镜中分辨率最高的成像信号是()

答案:二次电子当采用短波X射线照射时，能发生衍射的晶面将()

答案:增多二次电子像衬度最亮的区域是()

答案:法线和电子束成60º的表面透射电镜常用的样品有()

答案:粉末样品;复型样品;薄膜样品不能采用热镶嵌的材料是（

）

答案:淬火组织下列质量吸收系数最大的是（）

答案:W爱瓦尔德球图解法是布拉格方程的几何表达形式()

答案:对对纯Cu进行多晶体衍射实验时，下列能发生衍射的晶面是()

答案:331采用θ-2θ联动进行连续扫描时，探测器的转速与试样的转速关系是（）

答案:2:1抛光铝合金应该选用氧化镁悬浮液（）

答案:对由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的像差称为()

答案:球差油镜的最大数值孔径一般都比较大，主要是因为孔径角大的缘故（）

答案:错测定晶格常数时，误差主要来自（）

答案:衍射角电磁透镜的景深是指()

答案:物平面允许的轴向偏差一般情况下，工业纯铁的（110）衍射峰强度比（200）的强度()

答案:大倒易矢量和正空间中的晶面是一一对应关系()

答案:对相机常数就是相机长度和波长的乘积()

答案:对通过手工研磨来进行预先减薄时，要求将样品减薄到几十个纳米厚度()

答案:错拍摄德拜相时，底片采用正装法精度高，适用于点阵参数测定()

答案:错金相显微镜是靠反射光的强弱(即振幅大小)来鉴别金相组织的（）

答案:对离子减薄制备的样品薄区大、制样效率高，适合批量制样()

答案:错在XRD上检测无择优取向的面心立方多晶粉末样品，前三个衍射峰是()

答案:111/200/220背散射电子的产额随样品原子序数增大而增多()

答案:对光学透镜要能区分开两个成像物点，则此两物点形成的埃利斑之间的最小距离应（

）

答案:大于埃利斑半径在原子序数衬度像上，W和C之间的衬度远高于Cu和Ni的衬度()

答案:对XRD在连续扫描时，θ和2θ通常从低往高方向增大()

答案:对质量吸收系数最大的物质是()

答案:铅块二次电子对样品表面元素的原子序数十分敏感，能有效地显示表面微区的成分分布()

答案:错根据作图法，凡是位于爱瓦尔德球（

）的倒易点，所代表的晶面都满足布拉格条件

答案:球面上X射线晶体衍射依靠的是晶体对X射线的相干散射。（）

答案:对用来会聚电子束，使其以最小的损失照明样品，调节照明强度、孔径角和束斑大小的电磁透镜是()

答案:聚光镜在入射线照射到试样表面的大量晶粒中，只有平行于样品表面的晶面的衍射线才能被接收到()

答案:对取样后，对金相磨面方向没有要求的材料是（

）

答案:经均匀化退火后的大型工件只有间距（

）X射线半波长的晶面才能发生衍射

答案:大于等于在透射电镜的操作过程中，把中间镜的物平面和物镜的后焦面重合，就是衍射操作()

答案:对对形状复杂的零件进行抛光，应该选择（）

答案:化学抛光简单立方晶体中晶面间距大于X射线半波长的晶面只要符合布拉格条件就可以发生衍射()

答案:对面心立方点阵不消光的面指数平方和之比是3：4：8：11：12：16：19：20：24…()

答案:对能影响短波限位置的因素是()

答案:管电压观察淬火马氏体时可以用冷镶嵌、也可用热镶嵌的方法来制备样品（）

答案:错BCC晶体

[011]晶带的零层倒易面中，距离中心斑点最近的斑点是()

答案:影响扫描电镜分辨率的因素有()

答案:检测信号的类型;电子束的束斑大小;微区的原子序数场发射电子枪中，效果最好的是()

答案:冷场时间常数越小，扫描越精确，弱峰越容易识别()

答案:错由于透镜的中心区域和边缘区域对光的折射能力不符合预定规律而造成的图像模糊现象称为球面像差（）

答案:对()X射线的强度越高

答案:管电流越大;管电压越高;阳极靶材原子序数越大机械抛光、化学抛光和电解抛光中，抛光质量最劣的是化学抛光（）

答案:对早期电镜中电子枪使用LaB6灯丝，其性能远不如目前的钨灯丝()

答案:错PDF卡片上的I/Icor或I/Ic（RIR）是指（）

答案:参比强度X射线衍射结果只能证明检测样品中有什么，不能说明没有什么()

答案:对晶体中各电子受X射线照射所产生的相干散射线相互干涉的总结果称为()

答案:衍射原子对X-ray的散射能力远高于对电子的散射()

答案:错下列适于吸收X射线的物质是（）

答案:Pb标准电子衍射花样其实就是零层倒易截面的比例像()

答案:对扫描电镜中，照射到样品上的电子束斑直径越小，就相当于成像单元的尺寸越小，相应的分辨率就越高()

答案:对暗场像衬度高，适合观察材料的基体（）

答案:错二次电子成像只能分析几何差异很大的断口形貌()

答案:错由于样品中不同位向晶体的衍射条件不同形成衬度差别叫()

答案:衍射衬度由于近轴光线和远轴光线的折射程度不同，导致平面物体经透镜后形成曲面状的像称为（

）

答案:像场弯曲只有间距大于或等于X射线半波长的晶面面才有可能反射X射线()

答案:对显微镜的分辨率是由物镜的分辨率决定的（）

答案:对扫描电镜不用电磁透镜放大成像()

答案:对只有间距大于或等于半波长的晶面才能发生衍射()

答案:对有效放大倍数和数值孔径成正比（）

答案:对根据衍射效应规定：显微镜分辨率的一半等于照明光源的波长（）

答案:错在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品原子的核外电子叫做背散射电子()

答案:错解决球差常用的方法是（

）

答案:用近轴光线成像;用非球面透镜;用球面透镜组合矫正利用二次电子的产额来形成图像衬度，反映微区成分的方法，称为二次电子成像()

答案:错透镜像平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深()

答案:错鉴别物相的标志有()

答案:衍射线条的强度;衍射线条的数目;衍射线条的位置让衍射束通过光阑而把透射束挡掉成像方式，叫做（

）成像

答案:暗场为了获得精确的点阵参数，德拜相的底片不应该（

）装

答案:正要获得完整X射线衍射图谱，应当选择的实验方式是（）

答案:连续扫描安检机利用X射线穿透进行工作，外围辐射最大的地方是()

答案:箱包进出口目前显微断口的分析工作大都是用（

）来完成的

答案:表面形貌衬度预先机械减薄薄膜样品时，要求减薄至()

答案:几十微米当物镜、中间镜和投影镜的放大倍数均为100倍时，总放大倍数为()

答案:1000000由于样品中不同位向的晶体的衍射条件不同而造成的衬度差别称为质厚衬度()

答案:错扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是（）

答案:能谱仪下列成像仪器中，景深最大的是（）

答案:扫描电镜波普仪和能谱仪进行成分分析时，全都是以样品的特征X射线为基础（）

答案:对扫描电镜的加速电压越高，电子束在材料中的作用体积越小（）

答案:错仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（）

答案:二次电子在扫描电镜中能被电子束激发出来用于成像的信号有（）

答案:背散射电子;二次电子;特征X射线;俄歇电子背散射电子像的分辨率没有二次电子像的分辨率高（）

答案:对入射电子束的能量很高，甚至可以激发出样品的特征X射线（）

答案:对被样品原子核反弹回来的入射电子叫非弹性背散射电子（）

答案:错扫描电镜中的电磁透镜主要是起（

）作用

答案:聚光可用于表层成分的信号是

答案:背散射电子扫描电镜具有大的景深，所以它可以用来进行断口形貌的观察（）

答案:对扫描电镜与透射电镜的电子枪相似，只是加速电压一般会更高（）

答案:错目前显微断口的分析工作大都是用（

）来完成的。

答案:表面形貌衬度仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是

答案:二次电子二次电子能量较低，背散射电子能量很高（）

答案:对扫描电镜中的透镜有些是聚光镜，有些是成像物镜（）

答案:错扫描电镜不用电磁透镜放大成像，也不用电子束成像，而是利用电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像（）

答案:对扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是

答案:能谱仪二次电子像衬度最亮的区域是

答案:法线和电子束成60º的表面杆状晶体反映到倒易空间是（）

答案:一定尺寸的倒易圆盘薄膜样品一般预先减薄至（）

答案:几十微米透射电镜对照明光源的要求是（）

答案:可倾斜;孔径角小;平行度好;亮度高;束流稳定单晶体电子衍射花样是（）

答案:规则排列的点阵像散是指（

）引起的图像模糊不清的现象

答案:由透镜磁场的非旋转对称透射电子显微镜中用磁场来使电子波聚焦成像的装置是（）

答案:电磁透镜在透射电镜衍射操作时，要求中间镜的物平面和（

）重合

答案:物镜背焦面透射电镜的成像系统主要包括（）

答案:中间镜;物镜;投影镜电子衍射花样的标定结果不是唯一的（）

答案:对电子波的波长取决于（）

答案:电子运动速度;加速电压;电子的质量属于[101]晶带的晶面是（）

答案:透镜物平面允许的轴向偏差称为焦长（）

答案:错在透射电镜的操作过程中，把中间镜的物平面和物镜的像平面重合，就是成像操作（）

答案:对电镜中物镜的分辨率取决于极靴的形状和加工精度（）

答案:对普通透射电镜的电子枪主要是热阴极和场发射两类（）

答案:对晶带轴垂直于零层倒易面上的任何一个矢量（）

答案:对要获得单晶衍射花样，首先要有单晶样品（）

答案:错薄膜样品在最终减薄时，最好使用减薄速度较快的离子减薄（）

答案:错电子束是物质波，不是电磁波（

）

答案:对电磁透镜的焦距和放大倍数是可变的（

）

答案:对110面的多重性因素是（）

答案:12对纯Ag进行多晶体衍射实验时，不可能发生衍射的晶面是（）

答案:110最常用的X射线衍射方法是（）

答案:粉末多晶法1912年的首次晶体衍射实验证明（）

答案:X射线是电磁波;原子的排列是周期性重复的;原子是真实存在的;空间点阵的假说是正确的X射线衍射仪与照相法的不同在于（）

答案:电离计数器记录;发散光束;平板试样;采用线焦斑X射线衍射仪用的是一束（

）的X射线

答案:发散在XRD上检测无择优取向的体心立方多晶粉末样品，前三个衍射峰是（）

答案:110/200/211X射线衍射时，首先出现的衍射峰必定是（

）的晶面

答案:低指数人们常使用铅来隔离X射线，是应为铅（）

答案:原子序数大;价格便宜X射线光量子的能量（

）

答案:比可见光高进行第一次晶体衍射实验的是（）

答案:劳厄X射线物相分析可以用来分析同素异构体（）

答案:对有一倒易矢量g*=2a*+b*，与它对应的正空间晶面是（）

答案:210在XRD上检测无择优取向的面心立方多晶粉末样品，第二个出现的衍射峰是（）

答案:200X射线与物质相遇时，可以（）

答案:穿透物质;使荧光物质发光;使气体电离倒易基矢和同名正基矢点乘结果为（）

答案:1德拜相测算时，选用越高角度的线条误差越大（）

答案:错特征谱的波长取决于X射线管的管电压（）

答案:错X射线在晶面上的反射和可见光在镜子上的反射从本质上来讲是一样的（）

答案:错采用步进扫描可较快的获得一幅完整而连续的衍射图（）

答案:错波长越大，爱瓦尔德球的半径越小（）

答案:对X射线衍射应用的是相干散射（）

答案:对X射线和可见光一样都是电磁波（）

答案:对面心立方晶体能衍射的晶面依次是（110）、（200）、（211）（）

答案:错倒易球实际上就是很多和球心等距离的倒易点构成的假象球面（）

答案:对简单立方点阵不消光的面指数平方和之比是1：2：3：4：5：6：7：8：9…（）

答案:错能影响短波限位置的因素是

答案:管电压试样的原子序数越大，对X射线的吸收越少（）

答案:错物质的线吸收系数是一个常量，反映物质本身对X射线吸收特性（）

答案:错对衍射强度影响最大的是

答案:结构因数采用短波X射线照射时，能参与反射的晶面将会减少（）

答案:错X射线衍射时，首先出现的衍射峰必定是（

）的晶面。

答案:低指数发现X射线的是

答案:伦琴X射线管的效率极低，一般仅有百分之几（）

答案:对X射线是物理学家伦琴发现的（）

答案:对进行第一次晶体衍射实验的是

答案:劳厄有效放大倍数和人眼的分辨能力无关（）

答案:错明场照明时光线损失很少（）

答案:错从衍射效应来看，透镜分辨的最小距离和数值孔径成反比（）

答案:对只要是导电材料，都可以用电火花线切割切取样品（）

答案:错