GBT 41270.7-2022 航空电子过程管理 大气辐射影响 第7部分：航空电子产品设计中单粒子效应分析过程管理

航空电子过程管理大气辐射影响第7部分：航空电子产品设计中国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会I本文件修改采用IEC/TR62396-7:2017《航空电子过程管理大气辐射影响第7部分：航空电子ⅡGB/T34955—2017《大气辐射影响航空电子系统单粒子效应试验指南》和GB/T3 1GB/T34956—2017大气辐射影响航空电子设备单粒子效应防护设计指南(IEC62396-1:MBU:多位翻转[multiplebitupset(inth24.1总则否是否是32)原理图和电子设备设计资料；3)已知的敏感型电子元器件的有效SEE率。1)测试数据；2)工业数据；3)在役飞行数据；4)基于其他来源质子和重离子的测试数据计算的FOM;5)保守估计。1)仅包括设计中使用的位；41)主动式监控器；2)看门狗定时器，数据流CRC校验。2)三模冗余；3)片上EDAC或ECC;1)数据刷新；3)三模冗余(硬件或软件);4)合理性测试；6)看门狗定时器；7)周期性重启。靠性要求，则可认为完成评估。如果不满足要求，且对未经测试的电子元器4.5SEE率计算及风险分析经合理地完成SEE影响分析，或者有进一步获得更好SEE率的可能。当无法确定是否满足所有安全如果判定初始SEE率不可接受，可通过辐射试验来获得更精确的电子元器件SEE率，或者变更5通过将单个元器件暴露于与大气条件相当的粒子束(见GB/T34955—2017和GB/T34956—c)数据来源包括：1)高能中子源的测试数据；2)电子元器件制造商和行业数据；3)根据其他来源(质子和重离子)的测试数据计算得出的FOM;67表A.1本文件与IEC/TR62396-7:2017技术差异及其原因原因1于本文件的应用按GB/T1.1的要求表述本文件规定的于本文件的应用范围删除了缩略语COTS、E、JEDEC、JESD、IEEE、MTBF、SET和SSA于本文件的应用以列项的形式强调各项中的内容，符合进行解释说明，删除解释说明性语句，提高易用性，便于本文件的应用于本文件的应用于本文件的应用8否9台表C.1电子器件的SEE影响评估表(P/SSA输入)件制节点中子%减缓的理由减缓的影响说明L1DataCacheMBU32KBy32)特征尺寸电压[3]IEC62396-2Processmanagementforavionics—Atmosphericradiationeffe[4]IEC62396-3ProcessSystemdesignoptimizat[5]IEC62396-4ProcessmanagementforDesignofhighvoltageaircraft[6]IEC62396-5Process[7]ARP4761Guidelinesandmetho[8]JEDECJESD89-3Testmethodforbe[10]SAEEIA-STD-4899Requirementsforanelectroniccompon[11]Dr.EugeneNormand,‘AssessmentofAlternativeFacilitiestoLosAlamosNationalLaboratory(LANL)forAvionicsSingleEven[12]E.NormandandT.J.Baker,‘AltitudeaAtmosphericNeutronFlux',IEEETrans,Nucl.Sci.,40,1484(1993).[13]M.J.DionandL.Dominik,‘IncorporationofAtmosphericNeutronSingle航空电子过程管理大气辐射影响第7部分：航空电子产品