- 现行
- 正在执行有效
- 2016-03-18 颁布
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基本信息：
- 标准号：ISO 18554:2016 EN
- 标准名称：表面化学分析 电子能谱学 在用 X 射线光电子能谱学进行分析的材料中识别、估计和纠正 X 射线意外降解的程序
- 英文名称：Surface chemical analysis — Electron spectroscopies — Procedures for identifying, estimating and correcting for unintended degradation by X-rays in a material undergoing analysis by X-ray photoelectron spectroscopy
- 标准状态：现行
- 发布日期：2016-03-18
文档简介
ISO18554:2016是关于表面化学分析的电子光谱学方面的标准，特别是涉及到在进行X射线光电子能谱（XPS）分析时，材料中X射线辐射造成的无意降解的识别、估计和校正的过程。以下是对ISO18554标准的详细解释：
1.适用范围：该标准主要关注的是在材料分析过程中，由于X射线辐射导致的无意降解的识别、估计和校正。它适用于各种材料，包括金属、合金、聚合物等。
2.术语和定义：标准中列出了相关的术语和定义，以帮助理解标准的各个部分。
3.识别过程：在进行XPS分析时，应该采取适当的措施来识别无意降解的影响。这可能涉及到选择适当的扫描参数、控制样品制备过程等。
4.估计过程：一旦识别出无意降解的影响，就需要估计其对结果的影响程度。这通常涉及到对样品进行适当的预处理或后处理，以减少降解的影响。
5.校正过程：在获得了可靠的结果后，需要对无意降解的影响进行校正。这可以通过采用适当的校准曲线、考虑材料的变化等来实现。
6.工具和设备：为了执行这些步骤，可能需要使用特定的工具和设备，如X射线源、探测器、计算机等。
7.数据处理和分析：标准强调了数据处理和分析的重要性，以确保无意降解的影响得到正确的识别、估计和校正。
8.人员和培训：执行这些步骤需要具备相关知识和技能的人员。标准建议进行适当的培训，以确保正确执行这些过程。
9.质量控制：标准强调了质量控制的重要性，以确保分析结果的准确性和可靠性。
ISO18554:2016标准为材料分析过程中无意降解的识别、估
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