• 现行
  • 正在执行有效
  • 2007-09-10 颁布
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【正版授权】 IEC TS 62215-2:2007 EN Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 2: Synchronous transient injection method_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC TS 62215-2:2007 EN
  • 标准名称：集成电路——冲击抗扰度测量——第2部分：同步瞬态注入法
  • 英文名称：Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 2: Synchronous transient injection method
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2007-09-10

文档简介

IECTS62215-2:2007《集成电路-脉冲抗扰度测量-第2部分：同步瞬态注入法》是一个国际电工技术委员会（IEC）发布的电气和电子设备标准。它涉及到集成电路的抗扰度测试，特别是关于脉冲和瞬态干扰的测试。这个标准定义了一种测试方法，称为同步瞬态注入法，用于评估集成电路对不同类型和强度的瞬态干扰的抵抗能力。

该方法包括模拟电路可能会遇到的干扰源，如闪电，电弧，切换瞬间的电压波动等。测试设备会向电路注入特定的瞬态干扰信号，并记录电路的反应。根据记录的反应数据，可以评估电路的抗扰度性能，包括其对脉冲和瞬态干扰的耐受程度。

测试过程中，需要确保注入瞬态信号与电路的工作频率或时钟信号同步，以模拟实际工作环境中可能出现的同步瞬态干扰。测试结果的解读和分析需要考虑到电路的特定设计、元件选择和布局等因素。

通过执行此测试，可以确保集成电路在可能遇到的恶劣工作环境中能够正常工作，提高产品的可靠性和稳定性。这是电子设备安全性和性能评估的重要部分。

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