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  • 2010-10-05 颁布
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【正版授权】 IEC TR 62433-2-1:2010 EN-FR EMC IC modelling - Part 2-1: Theory of black box modelling for conducted emission_第1页
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基本信息:

  • 标准号:IEC TR 62433-2-1:2010 EN-FR
  • 标准名称:EMC IC建模-第2部分1:导通发射的黑盒建模理论
  • 英文名称:EMC IC modelling - Part 2-1: Theory of black box modelling for conducted emission
  • 标准状态:现行
  • 发布日期:2010-10-05

文档简介

1.**黑盒模型的定义**:黑盒模型是一种将集成电路视为一个封闭的盒子,盒子内部的各种元件和电路对外界产生的电磁辐射和干扰没有直接的联系。

2.**模型建立的基础**:建立模型的基础是电路的基本电磁辐射理论,即电路中的电流变化会产生电磁辐射。

3.**模型的主要应用**:黑盒模型主要用于评估和预测集成电路在特定条件下的电磁辐射特性,这对于产品设计和测试非常重要。

4.**模型的参数**:黑盒模型需要输入集成电路的详细参数,如元件的参数、电路的结构等,然后通过数学模型来计算出电磁辐射的特性。

5.**模型的准确性**:黑盒模型在理论上能够准确地预测集成电路的电磁辐射特性,但在实际应用中,由于各种因素的影响,可能会存在一定的误差。

6.**测试与验证**:为了确保模型的准确性,需要进行实际的测试和验证,并根据测试结果对模型进行修正和优化。

IECTR62433-2-1:2010EN-FREMCICmodelling-Part2-1:Theoryofblackboxmodellingforconductedemission是一个非常详细的标准,它为理解和评估

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