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  • 正在执行有效
  • 2021-08-24 颁布
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【正版授权-英语版】 IEC 62899-503-3:2021 EN Printed electronics - Part 503-3: Quality assessment - Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor - Transfer length_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 62899-503-3:2021 EN
  • 标准名称：印刷电子技术——第503-3部分：质量评估——印刷薄膜晶体管接触电阻测量方法——转移长度法
  • 英文名称：Printed electronics - Part 503-3: Quality assessment - Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor - Transfer length method
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2021-08-24

文档简介

IEC62899-503-3:2021ENPrintedelectronics-Part503-3:质量评估-印刷薄膜晶体接触电阻的测量方法-传输长度方法是一种专门针对印刷电子的质量评估方法，主要用于测量印刷薄膜晶体(TFT)的接触电阻。这个标准涉及到多个步骤和技术细节，下面我将为您详细解释。

首先，你需要选择一个合适的测量仪器，这个仪器应该符合IEC62899-503系列的标准要求。一般来说，这类仪器应具有高精度的电压和电流测量功能，并且需要配备适当的探头以适应印刷电子元件的尺寸。

在测量过程中，你需要将被测元件放在一个稳定的支撑平台上，使用适当的固定装置以确保元件在测量过程中保持稳定。然后，你需要根据标准中规定的传输长度方法来设置仪器的参数。

具体来说，传输长度方法涉及到两个关键步骤：第一步是选择一个合适的传输距离，这个距离应该根据元件的类型和结构进行选择；第二步是使用仪器测量在这个传输距离上的电压和电流，从而计算出接触电阻。

在计算接触电阻时，你需要考虑一些因素的影响，例如元件表面的污染程度、电极的形状和尺寸等。此外，你还应该考虑误差来源，例如测量设备的精度、环境温度和湿度等。

IEC62899-503-3:2021ENPrintedelectronics-Part503-3:Qualityassessment-Measuringmethodofcontactresistancefortheprintedthinfilmtransistor-Transferlengthmethod是一个非常详细和严谨的标准，它涉及到测量方法、误差来源、质量评估等方面的内容。如果你需要在实际工作

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