• 现行
  • 正在执行有效
  • 2016-02-18 颁布
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【正版授权-英/法语版】 IEC 62779-2:2016 EN-FR Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 2: Characterization of interfacing performances_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 62779-2:2016 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-用于人体通信的半导体接口-第2部分：接口性能的特性描述
  • 英文名称：Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 2: Characterization of interfacing performances
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2016-02-18

文档简介

该标准的主要内容是对半导体接口的各项性能参数进行了详细规定。这包括但不限于：

1.信号传输速率：规定了半导体接口必须支持的信号传输速率范围。

2.信号质量：描述了半导体接口在各种工作条件下信号的质量，包括但不限于温度、湿度、电压等条件。

3.接口稳定性：规定了半导体接口在各种工作条件下必须保持稳定，不会出现突然中断或错误。

4.抗干扰能力：描述了半导体接口在受到其他电磁干扰时的表现，包括但不限于电磁辐射、静电等干扰。

5.人体工程学考虑：该标准也考虑了人体工程学因素，例如，接口设计必须考虑到用户的使用体验，不会对用户造成不适或伤害。

此外，该标准还规定了相关的测试方法和认证程序，以确保半导体接口的性能符合上述要求。总的来说，IEC62779-2:2016EN-FR标准对半导体设备中的人体通信接口的性能进行了详细的规范和要求，以确保其安全、可靠和易于使用。

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