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  • 2021-03-16 颁布
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【正版授权】 IEC 61967-4:2021 RLV EN Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 61967-4:2021 RLV EN
  • 标准名称：集成电路－电磁辐射测量－第4部分：传导辐射测量－1欧/150欧直接耦合方法
  • 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2021-03-16

文档简介

IEC61967-4是关于集成电路电磁辐射测量的标准，其中一部分是关于传导辐射的测量。这部分标准主要涉及到传导辐射的测量方法，特别是直接耦合方法。

直接耦合方法是一种测量传导辐射的常见方法，它通过将电路直接连接到测量设备上来进行测量。这种方法在IEC61967-4中被定义为“1ohm/150ohm直接耦合方法”。

具体来说，这种方法使用两个电阻器，一个阻值为1欧姆（ohm），另一个阻值为150欧姆，它们分别连接到电路和测量设备上。这种方法允许电磁辐射从电路直接传递到测量设备，从而得到准确的传导辐射测量结果。

在使用这种测量方法时，需要注意一些关键点，包括：

*电路需要被精确地连接到测量设备上，以确保电磁辐射能够完全传递。

*电阻器的阻值需要准确设置，以确保电路与测量设备之间的正确电流路径。

*电路中任何可能影响传导辐射的因素都需要被排除，例如接地电阻或其他电磁干扰源。

IEC61967-4:2021RLVENIntegratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions-Part4:Measurementofconductedemissions-1ohm/150ohmdirectcouplingmethod是一种非常精确和可靠的测量方法，可以用于评估集成电路的传导辐射

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