• 现行
  • 正在执行有效
  • 2021-04-28 颁布
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【正版授权】 IEC 61788-17:2021 EN-FR Superconductivity - Part 17: Electronic characteristic measurements - Local critical current density and its distribution in large-area superconducti_第1页
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基本信息:

  • 标准号:IEC 61788-17:2021 EN-FR
  • 标准名称:超导性 - 第17部分:电子特性测量-大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
  • 英文名称:Superconductivity - Part 17: Electronic characteristic measurements - Local critical current density and its distribution in large-area superconducting films
  • 标准状态:现行
  • 发布日期:2021-04-28

文档简介

IEC61788-17标准主要涉及到大型超导薄膜的局部临界电流密度及其分布的电子特性测量。以下是该标准的详细解释:

1.**标准背景**:IEC61788系列标准是一组关于超导性的国际标准,涵盖了从材料特性到应用方面的各种测量和测试。第17部分专门关注电子特性测量,特别是大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布。

2.**关键概念**:临界电流密度和其分布是超导科学中的重要概念。在超导材料中,当外加磁场超过某一临界值时,材料将丧失其导电性,从而产生电流。这些电流在材料中形成电流密度,即临界电流密度。局部临界电流密度是特定区域内的超导薄膜的临界电流密度。

3.**测量方法**:为了测量局部临界电流密度,通常使用一种称为“扫描电子显微镜(SEM)”的技术。这种技术通过在薄膜上创建高分辨率图像,可以确定电流密度的分布。通常,通过测量不同区域的电流密度并比较这些数据来确定局部临界电流密度。

4.**应用**:了解局部临界电流密度及其分布对于超导材料的设计、优化和实际应用至关重要。例如,它可以帮助研究人员理解超导材料的性能,并可能有助于改进超导材料或系统。

5.**限制和局限性**:该测量方法并非无限制的,可能会受到多种因素的影响,包括超导薄膜的质量、环境的微小变化、测量的精度等等。此外,这种方法也可能无法适用于某些特殊或极端情况下的超导材料。

希望以上对IEC61788-17标准的

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