• 现行
  • 正在执行有效
  • 2008-02-12 颁布
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【正版授权-英/法语版】 IEC 60749-38:2008 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-38:2008 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候测试方法-第38部分：具有存储功能的半导体器件的软错误测试方法
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2008-02-12

文档简介

具有存储器的半导体器件的软错误测试方法

IEC60749-38:2008EN-FR的标准主要规定了针对具有存储器的半导体器件的软错误测试方法。具体内容如下：

1.设备要求：标准要求使用经过校准和验证的设备来执行测试。这些设备需要具有适当的精度和稳定性，以便准确地测量和分析测试结果。

2.环境条件：标准规定了测试时应满足的环境条件，如温度、湿度、振动和空气污染物等。这些条件应模拟实际使用中可能遇到的各种环境条件，以确保测试的准确性。

3.测试程序：标准详细说明了测试程序，包括但不限于设备的电源和信号线的连接方式、测试信号的生成和测量方法、测试结果的记录和分析等。

4.测试参数：标准规定了测试过程中应关注的参数，如电压、电流、时间和频率等。这些参数对于确定软错误的原因和评估测试效果至关重要。

5.结果评估：标准提供了评估测试结果的方法，包括但不限于分析测试过程中的异常现象、评估错误发生的频率和严重程度、以及确定潜在的解决方案等。

IEC60749-38:2008EN-FR标准为具有存储器的半导体器件的软错误测试提供了详细的指导，包括设备要求、环境条件、测试程序、测试参数和结果评估等方面。

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