【正版授权-英/法语版】 IEC 60749-27:2006 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

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标准号：IEC 60749-27:2006 EN-FR
标准名称：半导体器件-机械和气候测试方法-第27部分：静电放电(ESD)灵敏度测试-机器模型(MM)
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
标准状态：现行
发布日期：2006-07-18

1.静电放电（ESD）敏感性测试的基本概念和要求：包括ESD的定义、影响、敏感性测试的重要性等。

2.机器模型（MM）的定义和基本原理：机器模型是一种用于模拟ESD影响的数学模型，通过模拟电场的变化和电荷的传输过程，可以评估器件在ESD冲击下的敏感度。

3.测试设备、环境、程序和方法：详细介绍了进行ESD敏感性测试所需的设备、环境条件、测试程序和方法，包括测试电压、时间、温度、湿度等因素的控制和调整。

4.测试结果的解读和分析：介绍了如何读取测试数据、分析数据变化趋势、评估器件ESD敏感性等级的方法，以及如何根据测试结果进行分类、标示和包装等处理。

5.测试中的注意事项和异常处理：强调了在测试过程中需要注意的事项，如设备维护、安全措施、数据记录和异常情况的处理等。

IEC60749-27:2006EN-FR标准详细介绍了静电放电敏感性测试的原理、方法、程序和注意事项，为半导体器件的生产、测试和质量控制提供了重要的依据和标准。

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