• 现行
  • 正在执行有效
  • 2002-04-12 颁布
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【正版授权】 IEC 60749-13:2002 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-13:2002 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第13部分：盐雾大气环境
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2002-04-12

文档简介

盐气环境的测试标准概述：

IEC60749-13:2002EN-FR半导体器件-机械和气候试验方法-第13部分：盐气环境的测试标准（简称IEC60749-13:2002）是一种针对半导体器件的测试标准，用于评估这些器件在盐气环境中的性能和可靠性。该标准提供了测试方法和要求，以确保半导体器件在盐气环境中能够正常工作并保持其性能。

测试内容：

1.机械测试：该标准包括对半导体器件的机械测试，以确保它们在各种条件下能够承受一定的压力、冲击、振动和弯曲等。

2.气候测试：该标准规定了在不同温度和湿度条件下对半导体器件进行测试，以评估它们在不同环境中的性能和可靠性。

3.盐雾测试：该标准要求在盐雾环境中对半导体器件进行测试，以评估它们在盐雾环境中的腐蚀和损坏程度。

测试要求：

1.测试环境：测试应在盐雾环境中进行，并确保盐雾浓度和湿度符合标准要求。

2.测试时间：测试时间应足够长，以确保半导体器件在盐雾环境中能够充分暴露并表现出性能变化。

3.测试样品：测试样品应符合相关规定，并确保每个样品具有相同的规格和性能。

4.测试记录：测试过程中应记录相关数据和结果，以便评估半导体器件在盐气环境中的性能和可靠性。

结论：

IEC60749-13:2002EN-FR半导体器件-机械和气候试验方法-第13部分：盐气环境的测试标准是一种重要的测试标准，它提供了有关半导体器件在盐气环境中性能和可靠性的指导。为了确保

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