• 现行
  • 正在执行有效
  • 1992-04-01 颁布
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【正版授权】 IEC 60748-11-1:1992 EN-FR Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11-1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60748-11-1:1992 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件。集成电路。第11-1部分：半导体集成电路，不包括混合电路的内部目力检查
  • 英文名称：Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11-1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：1992-04-01

文档简介

IEC60748-11-1标准是关于半导体集成电路内部视觉检查的标准，主要针对不含混合电路的半导体集成电路。该标准规定了在进行内部视觉检查时，对半导体集成电路的要求、检查方法、检查流程以及检查后的处理等。

以下是该标准的具体内容：

1.适用范围：该标准适用于半导体集成电路的设计、制造、包装、存储、运输和使用过程中的内部视觉检查。

2.术语和定义：标准中定义了一些相关的术语和定义，用于描述半导体集成电路的外观、结构、功能等方面的特征。

3.检查要求：在进行内部视觉检查时，需要确保检查工具的精度和可靠性，并按照规定的检查流程进行操作。同时，需要对检查过程中的环境条件、照明方式、观察角度等因素进行控制。

4.检查方法：内部视觉检查通常采用目视观察的方法，通过观察集成电路的外观、结构、线路连接等方面来判断其是否存在缺陷或异常。

5.检查流程：标准的检查流程包括准备、观察、记录和处理等步骤。在观察过程中，需要记录观察到的所有信息，并对检查结果进行分类和记录。

6.检查后的处理：对于检查结果，需要进行分类和记录，并根据需要进行相应的处理，如返工、报废等。同时，需要对检查结果进行存档，以便后续的查阅和使用。

7.质量控制：为了确保内部视觉检查的准确性和可靠性，需要进行相应的质量控制措施，如定期的检测和校准等。

IEC60748-11-1标准对于半导体集成电路的内部视觉检查具有重要的指导意义，需

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