- 现行
- 正在执行有效
- 2012-05-16 颁布
![【正版授权】 IEC 60269-4:2009+AMD1:2012 CSV EN-FR Low-voltage fuses - Part 4: Supplementary requirements forfuse-links for the protection of semiconductor devices_第1页](http://file4.renrendoc.com/view5/M01/0E/36/wKhkGGaCQAyARp77AAD3BOIXWB8413.jpg)
下载本文档
基本信息:
- 标准号:IEC 60269-4:2009+AMD1:2012 CSV EN-FR
- 标准名称:低电压熔断器 第4部分:保护半导体器件用熔断管连接器的附加要求
- 英文名称:Low-voltage fuses - Part 4: Supplementary requirements forfuse-links for the protection of semiconductor devices
- 标准状态:现行
- 发布日期:2012-05-16
文档简介
IEC60269-4:2009+AMD1:2012Low-voltagefuses-Part4:SupplementaryRequirementsforFuse-LinksfortheProtectionofSemiconductorDevices标准内容解释:
IEC60269-4是关于保护半导体设备的熔断器(fuse)的相关标准,这个标准对熔断器link的制造和测试提出了额外的要求。
以下是对IEC60269-4:2009+AMD1:2012标准的详细解释:
**一、定义和背景**
此标准首先对一些关键术语进行了定义,例如“半导体设备”、“熔断器link”等。同时,也提供了一些关于半导体设备保护的重要性以及熔断器在其中的作用的背景信息。
**二、熔断器link的设计**
此部分主要讨论了熔断器link的设计,包括其尺寸、形状、材料等。它必须能够承受在预定故障条件下产生的电气和机械应力。
**三、测试方法**
这部分详细说明了如何对熔断器link进行测试,包括电气性能测试(如熔断阈值、耐压等)、机械性能测试(如拉伸、弯曲、振动等)。测试应考虑到可能在实际使用中遇到的各种情况。
**四、保护性能**
此部分关注熔断器link对半导体设备的保护性能。它必须能够在预定时间内熔断其连接的电路,以防止半导体设备过热或损坏。同时,它还必须能够重复使用,即在熔断后能够再次接通。
**五、环境适应性**
此标准还考虑了熔断器link在各种环境条件下的性能。它必须能够在高温、低温、潮湿、振动等条件下正常工作。
**六、标记和标识**
最后,标准规定了熔断器link的标记和标识要求,包括其额定值、制造商信息等。这些信息必须清晰、易于理解,并符合相关法规要求。
以上就是IEC60269-4:2009+AMD1:2012Low-voltagefuses-Part4:SupplementaryRequirementsforFuse-LinksfortheProtectionofSemiconductorDevic
温馨提示
最新文档
- 全球及中国自动驾驶控制单元行业市场现状供需分析及市场深度研究发展前景及规划可行性分析研究报告(2024-2030)
- 全球及中国脉动阻尼器行业市场现状供需分析及市场深度研究发展前景及规划可行性分析研究报告(2024-2030)
- 2023年邯郸市武安市招聘教师考试真题
- 房屋租赁补充协议书
- 健康咨询服务合同范本
- 离婚协议书鉴别
- 工业房产租赁印花税注意事项
- 车辆年检授权书样本
- 环氧地坪漆工程全合同
- 买卖合同租赁特例的详细解读
- JJF(苏)211-2018 倒角卡尺、倒角量表校准规范-(现行有效)
- 广东省阳江市各县区乡镇行政村村庄村名明细
- 物联网会计信息系统研究
- 2022年中国城市分级完整名单
- DB34∕1659-2022 住宅工程质量常见问题防治技术规程
- 最新幼儿园大班健康活动保护眼睛
- 2020 新ACLS-PCSA课前自我测试-翻译版玉二医【复制】附有答案
- 北京安全评价收费指导意见-北京安全生产技术服务协会
- 选煤厂原煤筛分系统改造措施
- 施工安全隐患排查检查表
- 阿尔法亚麻酸
评论
0/150
提交评论