纳米粒度仪设备工艺原理_第1页
纳米粒度仪设备工艺原理_第2页
纳米粒度仪设备工艺原理_第3页
全文预览已结束

下载本文档

版权说明：本文档由用户提供并上传，收益归属内容提供方，若内容存在侵权，请进行举报或认领

文档简介

纳米粒度仪设备工艺原理纳米粒度仪是一种用于测量颗粒大小的仪器，主要应用于生物、医学、化学、材料等领域，对于分析和研究颗粒材料的性质具有重要意义。本文将介绍纳米粒度仪设备的工艺原理。仪器构成纳米粒度仪一般由激光源、光散射器、探测器和计算机控制系统等部分组成。其中，激光源主要用于照射颗粒样本，光散射器用于散射激光，探测器用于收集散射光，计算机控制系统则用于处理数据和分析结果。工艺原理纳米粒度测量原理是基于散射光的多角度散射实验，该实验用于测量颗粒的大小和浓度。悬浮在液体中的固体颗粒（或胶体）被照射在相干的激光束中，产生强烈的光散射，而这些分散的光经过散射角度范围检测器的收集。在获得四象限检测器（四个角度范围的检测器）的信号后，通过计算颗粒的散射和倍散场，可以得到一个相对指标。这个相对指标是通过狄拉克函数转换将颗粒径与散射功率的关系转换成颗粒径与散射概率密度的关系得到的。最终，使用数字信号处理算法基于这些相对数值，可以计算和推导出颗粒的实际直径。除了测量颗粒直径外，纳米粒度仪还可以通过散射强度测量颗粒浓度。测量技术纳米粒度仪有许多测量技术，通常采用的技术有：动态光散射动态光散射原理就是用激光来照射被测团粒子，团粒子会在激光束的照射下产生光散射现象，检测散射波的大小和散射波的分布情况，从而根据多角散射定理计算出团粒子的尺寸分布。静态光散射静态光散射原理和动态光散射类似，剖析的是散射抬头概率密度函数，即根据多边形散射定理制止散射信号、进而推断出样品的颗粒尺寸分布。色散型光散射色散型光散射原理是利用可见光的横向电磁波与微粒的结构或特性作用引起衍射，检测衍射光的角度、位置和光强，从而剖析样品的颗粒尺寸分布。测量精度纳米粒度仪测量精度受到多种因素的影响，如样品制备、光路的质量和环境因素等。因此，对于不同颗粒大小和样品类型，使用不同的纳米粒度仪和测量技术可以提高测量精度。一般来说，纳米粒度仪的精度可以达到几纳米至几十纳米，但在测量极小的纳米颗粒时会受到限制。总结纳米粒度仪通过散射光的多角度散射实验来测量颗粒的大小和浓度。其主要包括激光源、光散射器、探测器和计算机控制系统等部分，常用的测量技术有动态光散射、静态光

人人文库> 全部分类> 教育资料 > 课件下载

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等，如果需要附件，请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸，网页内容里面会有图纸预览，若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑，并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论