射线检测工艺规程

10目的本工艺规程用于xxxxxxxxxxxxxxxX和γ射线检测过程中，指导射线检测工作。适用范围Xγ射线检测工作。〔以下简称“对接焊〔以下简称“管座角焊缝”〕和管子－管板角焊缝。本规程按NB/T47013.2-2023的射线检测技术分级分为三级：AB承压设备的有关支承件和构造件的对接焊接接头的射线检测，也可参照使用。编制依据〔包括全部的修改单〕适用于本文件。《锅炉安全技术监察规程》《压力容器安全技术监察规程》《在用压力容器检验规程》GB150 《钢制压力容器》TSGR0004-2023《固定式压力容器安全技术监察规程》NB/T47013.1-2023《承压设备无损检测-通用要求》NB/T47013.2-2023《承压设备无损检测-射线检测》GB11533 《标准对数视力表》GBZ132 《工业γ射线探伤放射防护标准》GB18871 《电离辐射防护与辐射源安全根本标准》JB/T7902 《射线照相用线型像质计》GB/T23901.2 指数的测定》人员要求得相应证书。射线检测人员未经矫正或经矫正的近〔距〕视力和远〔距〕视力应不低于5.0〔小数的规定。从事评片的人员应每年检查一次视力。辐射防护GB18871、GBZ117和GBZ132的有关规定。在施工现场使用γX40μGy·h-1以上的区域划为掌握区，需设置防护装置和实行防范措施。X4以上的区域划为治理区。使用γ射线工作时，掌握区边界外空气比释动能率4μ戒备。时测定放射线剂量的大小。射源处于工作状态时，工作人员严禁离开现场，并亲热注视工作现场状况。检测人员应遵守检测现场及本公司的规章制度。6、设备、器材和材料现有仪器设备〔见仪器设备台帐〕观片灯观片灯的主要性能符合GB/T19802的有关规定，最大亮度能满足评片的要求。黑度计〔光学密度计〕4.5，测量值的误差应不超过±0.05。黑度计首次使用前应进展核查，以后至少每六个月应进展一次核查，形成核查报告。校准黑度计用的标准黑度片必需在有效期内，并通过计量部门的鉴定，有效期2年，购置的标准黑度片只要在有效期内也允许。核查方法可参照NB/T47013.2-2023附录B的规定8h后应在拟测量黑度范围内选择至少两点进展检查。胶片和增感屏胶片胶片系统依据GB/T19348.1C1、C2、C3、C4、C5C6C1最高类别，C6本公司常用胶片类型如下：C4类胶片：天津Ⅴ；阿克发D4、D5；富士50、80；柯达M、T；杜邦NDT55；D7、D8；富士100；柯达AA、B；杜邦NDT70、75；C6类胶片：天津Ⅱ；阿克发D10；富士400；柯达CX；杜邦NDT69胶片的承受原则：AABC5，B应承受C4类或更高类别的胶片。承受γ射线和高能XRｍ≥540MPaC4类或更高类别的胶片。和湿度条件予以保存，并应避开受任何电离辐射的照耀。增感屏：JB/T5075要求，增感屏应完全干净、抛光和无纹道并符合表6.2的规定。射线源材料前屏射线源材料前屏后屏中屏X〔100kV~150kV〕X射线〔＞150kV～250kV〕X射线〔＞250kV～500kV〕Se75mm厚度mm厚度mm厚度铅0.02～0.100.02～0.152×0.02～2×0.10铅0.02～0.150.02～0.152×0.02～2×0.10铅0.02～0.200.02～0.202×0.02～2×0.10铅A级0.02～0.200.02～0.202×0.10AB级、B级0.10～0.20AB2×0.10A级0.02～0.20Ir192 铅AB级、B级0.10～0.20AB0.02～0.202×0.102×0.10注：双胶片透照技术应增加使用中屏。承受X注：双胶片透照技术应增加使用中屏。承受X射线时每层中屏的厚度应不大于前屏厚度。胶片和增感屏在透照过程中应始终严密接触。像质计底片影像质量承受线型像质计或孔型像质计测定。通用线型像质计和等径线型像质GB/T23901.2的规定。6.3的规定。6.3像质计适用的材料范围像质计材料代号像质计材料代号Fe像质计材料碳素钢适用材料范围钢像质计的使用丝型像质计像质计一般应放置在焊接接头的一端〔在被检区长度的1/4〕，片上同时透照多条焊接接头时，像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。像质计放置原则双影透照像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧；〔球罐全景曝光除外〕；单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进展比照试验。比照试验方法是在射源侧记的影像应与像质计的标记同时消灭在底片上，且应在检测报告中注明。的像质计数量允许削减但应符合以下要求：环形对接焊接接头承受源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔地放置3像质计；上都应放置像质计，且在每带的纵缝和环缝上沿经度方向等间隔至少放置3个像质计；放置一个像质计。小径管使用通用丝型和专用等径丝型像质计时，金属丝应横跨垂直焊缝放置。像告中说明。不等厚或不同种类材料之间对接焊缝料厚度或类型相匹配的像质计，并分别放置在焊接接头相对应部位。管座角焊缝质计尽可能置于黑度最小的区域。使用丝型像质计时，底片上能够识别的最细线的编号即为像质计灵敏度值。如底片黑度均匀部位〔一般是邻近焊缝的母材金属区〕能够清楚地看到长度不小于10mm的连一阶梯上含有两个孔时，则两个孔都应在底片上可识别。底片的像质计灵敏度单壁透照、像质计置于源侧时应符合表6.4和表6.5置于源侧时应符合NB/T47013.2-2023表6.66.7的规定的规定；双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧时应符合表6.8和表6.9的规定。6.4线型像质计灵敏度值——单壁透照、像质计置于源侧应识别丝号〔T〕范围，mm〔mm〕A级ABB级19〔0.050〕——≤1.518〔0.063〕—≤1.2>1.5～2.517〔0.080〕≤1.2>1.2～2.0>2.5～4.016〔0.100〕≤1.2～2.0>2.0～3.5>4～615〔0.125〕>2.0～3.5>3.5～5.0>6～812〔0.25〕>7～10>10～15>20～3011〔0.32〕>10～15>15～25>30～3510〔0.40〕>15～25>25～32>35～459〔0.50〕>25～32>32～40>45～658〔0.63〕>32～40>40～55>65～1207〔0.80〕>40～55>55～85>120～2006〔1.00〕>55～85>85～150>200～3505〔1.25〕>85～150>150～250>3504〔1.60〕>150～250>250～350—3〔2.00〕>250～350>350—2〔2.50〕>350——注：管或支管外径≤120mm时，管座角焊缝的像质计灵敏度值可降低一个等级。14〔0.160〕13注：管或支管外径≤120mm时，管座角焊缝的像质计灵敏度值可降低一个等级。14〔0.160〕13〔0.20〕>3.5～5.0>5.0～7>5.0～7>7～10>8～12>12～20注：管或支管外径≤120mm时，管座角焊缝的像质计灵敏度值可降低一个等级。应识别孔号孔径/mmA公称厚度〔T〕范围AB/mmBH2〔0.160〕H3〔0.200〕H4〔0.250〕H5〔0.320〕H6〔0.400〕H7〔0.500〕H8〔0.630〕H9〔0.800〕H10〔1.000〕——≤2.0＞2.0～3.5＞3.5～6.0＞6.0～10＞10～15＞15～24＞24～30—≤2.0＞2.0～3.5＞3.5～6.0＞6.0～10＞10～15＞15～24＞24～30＞30～40≤2.5＞2.5～4.0＞4.0～8.0＞8.0～12＞12～20＞20～30＞30～40＞40～60＞60～80H11〔1.250〕H12〔1.500〕H13〔2.000〕H14〔2.500〕H15〔3.200〕H16〔4.000〕H17〔5.000〕H18〔6.300〕＞30～40＞40～60＞60～100＞100～150＞150～200＞200～250＞250～320＞320～400＞40～60＞60～100＞100～150＞150～200＞200～250＞250～320＞320～400＞400＞80～100＞100～150＞150～200＞200～250————6.6线型像质计灵敏度值——双壁双影透照、像质计置于源侧/mmAABB19〔0.050〕——≤1.518〔0.063〕—≤1.2＞1.5～2.517〔0.080〕≤1.2≤1.2～2.0＞2.5～4.016〔0.100〕≤1.2～2.0＞2.0～3.5＞4.0～6.015〔0.125〕＞2.0～3.5＞3.5～5.0＞6.0～8.014〔0.160〕＞3.5～5.0＞5.0～7.0＞8.0～1513〔0.20〕＞5.0～7.0＞7.0～12＞15～2512〔0.25〕＞7.0～12＞12～18＞25～3811〔0.32〕＞12～18＞18～30＞38～4510〔0.40〕＞18～30＞30～40＞45～559〔0.50〕＞30～40＞40～50＞55～708〔0.63〕＞40～50＞50～69＞70～1007〔0.80〕＞50～69＞60～85＞100～1706〔1.00〕＞60～85＞85～120＞170～2505〔1.25〕＞85～120＞120～220＞2504〔1.60〕＞120～220＞220～380—3〔2.00〕＞220～380＞380—应识别丝号丝径透照厚度〔W〕范围/mm6.7孔型像质计灵敏度值——双壁双影透照、像质计置于源侧应识别丝号丝径透照厚度〔W〕范围/mm应识别孔号孔径/mm透照厚度〔W〕范围/mmH2〔0.160〕A—AB—B≤1.0H3〔0.200〕H4〔0.250〕H5〔0.320〕H6〔0.400〕H7〔0.500〕—≤1.0＞1.0～2.0＞2.0～3.5＞3.5～5.5≤1.0＞1.0～2.0＞2.0～3.5ed＞3.5～5.5＞5.5～10＞1.0～2.5＞2.5～4.0＞4.0～6.0＞6.0～11＞11～20H8〔0.630〕H9〔0.800〕H10〔1.000〕＞5.5～10＞10～19＞19～35＞10～19＞19～35—＞20～35——6.8线型像质计灵敏度值——双壁单影像质计置于胶片侧应识别丝号透照厚度〔W〕范围，mm〔mm〕A级ABB级19〔0.050〕——≤1.518〔0.063〕—≤1.2>1.5～2.517〔0.080〕≤1.2>1.2～2.0>2.5～4.016〔0.100〕>1.2～2.0>2.0～3.5>4～615〔0.125〕>2.0～3.5>3.5～5.0>6～1214〔0.160〕>3.5～5.0>5～10>12～1813〔0.20〕>5～10>10～15>18～3012〔0.25〕>10～15>15～22>30～4511〔0.32〕>15～22>22～38>45～5510〔0.40〕>22～38>38～48>55～709〔0.50〕>38～48>48～60 >70～1008〔0.63〕>48～60>60～85 >100～1807〔0.80〕>60～85>85～125 >180～3006〔1.00〕>85～125>125～225>3005〔1.25〕>125～225>225～375—4〔1.60〕>225～375>375—3〔2.00〕>375——6.9孔型像质计灵敏度值——双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧应识别孔号透照厚度〔W〕范围/mm孔径/mmAABBH2〔0.160〕——≤2.5H3〔0.200〕—≤2.0＞2.5～5.5H4〔0.250〕≤2.0＞2.0～5.0ed＞5.5～9.5H5〔0.320〕＞2.0～5.0＞5.0～9.0＞9.5～15H6〔0.400〕＞5.0～9.0＞9.0～14＞15～24H7〔0.500〕＞9.0～14＞14～22＞24～40H8〔0.630〕＞14～22＞22～36＞40～60H9〔0.800〕＞22～36＞36～50＞60～80H10〔1.000〕＞36～50＞50～80—H11〔1.250〕＞50～80——被检外表要求的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对外表作适当修整。检测时机24h射线检测技术等级选择射线检测技术等级选择应符合相关法规、标准、标准和设计技术文件的要求，同时还AB接头，可承受B检测的某些条件不能满足AB〔或B〕射线检测技术的要求时，经合同双方商定，在实行有效补偿措施〔例如选用更高类别的胶片〕的前提下，假设底片的像质计灵敏度到达了AB〔或B〕射线检测技术的规定，则可认为按AB〔或B级〕射线检测技术进展了检测。承压设备在用检测中，检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时，经合同双方商定，在实行有效补偿措施〔例如选用更高类别的胶片〕后可承受A线检测，但应同时承受其他无损检测方法进展补充检测。透照方式用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许承受双壁透照方式。安放式和插入式管座线源放置在支管轴线上的透照布置。透照方向可选用有利于觉察缺陷的方向透照。一次透照长度一次透照长度应以透照厚度比K进展掌握。不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表12.1的规定。整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照NB/T47013.2-2-15附录F的曲线图确定；〔F<D0/2〕时，透照次数参照附录F管座角焊缝、椭圆形封头、碟形封头小r区的焊缝，以及其他曲率连续变化的焊缝可不承受以K值确定一次透照长度的方法，允许用黑度范围来确定一次透照长度，底片〔NB/T47013.2-2023第5.16.1条〕要求的长度范围即为允许承受的一次透照长度。射线检测技术级别A；AB射线检测技术级别A；ABB纵向焊接接头纵向焊接接头环向焊接接头K≤1.03K≤1.11〕K≤1.01K≤1.06〔包括曲率一样的曲面焊接接头AAB小径管对接接头的透照小径管对接接头的透照布置像：T〔壁厚〕≤8mm；g〔焊缝宽度〕≤Do/41不满足上述条件或椭圆成像困难时可承受垂直透照方式重叠成像。小径管对接接头的透照次数T/Do≤0.12902T/Do＞0.12120°60°3120°60°3100％检测，此时可实行有效措施扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。〔NB/T47013.2-2023第100%掩盖要求，则应增加曝光次数。特别状况1313规定的间隔角度，但应实行有效措施尽量扩大缺陷可检出范围，例如在可能进展说明。射线能量在保证穿透力的前提下，X14.114.150kV；对钛及钛合金材料，管电压增量不应超过40kV；对铝及铝合金材料，管电压增量不应超过30kV14.1不同透照厚度允许的最高透照管电压注：1-铜及铜合金；2-钢；3-钛及钛合金；4-铝及铝合金。14.2γ14.2承受源在内中心透照方式，在保证像质计灵敏度到达标准要求的前提下，允许γ 线最小透照厚度取表14.1下限值的1/2。承受其他透照方式，在实行有效补偿措施并保证像质计灵敏度到达标准要求的前提下，经合同双方商定，AABIr19210mm，Se75的最小透照厚度可降至5mm。W，mm射线源A级,ABW，mm射线源A级,ABB级Se-7510≤W≤4014≤W≤40Ir-192Ir-19220≤W≤10020≤W≤9015．射线源至工件外表的最小距离14.5fAf≥7.5d·b2/3AB级：f≥10d·b2/3B级：f≥15d·b2/315.1ABƒ14.2ABƒ的诺模图。求，f50%。f20%。17.1AB18.1AB曝光量B20mA·min。当焦距转变时可按平方反比定律对曝光量进展换算。承受γ10承受γ 不得承受多个射线源捆绑方式进展透照。曝光曲线参数。度、黑度等均应符合本工艺规程的规定。后应准时对曝光曲线进展校验或重制作。承受承受γ射线源时，可承受曝光尺等方式计算曝光时间。无用射线和散射线屏蔽NB/T47013.2-2023H正式检测时应进展背散射防护检查。B”铅字标记，一般“B”铅字的高度为13mm1.6mm,字影像，则说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。假设底“B”字影像或消灭黑度高于四周背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。在背散射稍微或后增感屏足以屏蔽背散射线的状况下，可不使用背散射防护铅板。标记字母和符号等构成。还应有返修标记,扩大检测比例的透照还应有扩大检测标记。→”表示。搭接标记是连续检测时的透照分段标记，可用符号“↑”或其他能显示搭接状况的方法表示。应干扰有效评定范围内的影像。应承受适当的定位标记〔如承受铅质窄条〕进展标识。允许承受预曝光方式获得相关识别标记，但必需实行有效措施保证依据射线底片上的以外的区域不被曝光。胶片处理和底片质量检测推举承受自动冲洗方式处理。原则上应承受胶片厂家生产或推举的冲洗配方或药剂，在按GB/T19348.2附录A经比较试验证明的条件下，也可以使用其他厂家的配方或药剂。手工冲洗和自动冲洗胶片宜在曝光后8h之内完成，最长不得超过24h。0.050g/m2上硫代硫酸盐离子的浓度测量可参考附录J大于0.050g/m2，应实行以下行动：停顿暗室处理，并实行订正措施；重核查定影和冲洗工序验证的符合性；重处置全部含有缺陷的底片。灰雾度测量〔乳胶+片基〕，0.3。灰雾度应针对不同时间购进的每一批胶片进展测量，从某一批〕中抽一样品与焊缝底片一样暗室处理条件下处理后进展灰雾6个月时，应至少每6个月测量一次，以核查胶片是否符合规定使用前储存的要求。评片要求严峻。5min～10min；30s。评片时，底片评定范围内的亮度应符合以下规定：30cd/m2；10cd/m2。底片评定范围的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧5mm宽的区域。底片质量底片上,标记影像应显示完整、位置正确。底片评定范围内的黑度D应符合以下规定:A级：1.5≤D≤4.5；B级：2.3≤D≤4.5。双胶片透照技术，双底片叠加观看评定，评定范围内的黑度D应符合2.7≤D≤4.5规定。注14.5可以对该区域进展单底片评定。注2：0.5。注3：用于双底片叠加评定的任何单底片的黑度应不低于1.3。4：应同时观看、分析和保存每张底片。AB1.5；B2.0。度范围应分别在检测报告中进展标识。21.3的要求.底片的像质计灵敏度6.46.5的规定；双壁双影透照、像质6.86.9底片上，定位和识别标记影像应显示完整、位置正确。影条纹、静电斑纹、压痕等伪缺陷影像，以及增感屏缺陷带来的各种伪影像。别和不阻碍底片评定的状况下，可以承受该底片。承压设备钢熔化焊对接接头射线检测质量分级范围本条规定适用于厚度≤400mm，材质为钢、镍及镍基合金制，以及厚度为≤80mm，铜金属的垫板的单面焊对接焊缝。缺陷类型焊接接头中的缺陷按性质区分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷五类。质量分级依据Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。质量分级一般规定Ⅰ级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透和条形缺陷。Ⅱ级和Ⅲ级焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合和未焊透。焊接接头中缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。别。圆形缺陷的分级评定23.123.223.3别。T，mm23.1缺陷评定区≤25 ＞25～100＞100〔mm×mm〕10×10 10×2010×3023.2缺陷点数换算表,mm≤1＞1～2＞2～3＞3～4＞4～6＞6～8＞8缺陷点数1236101525表23.3 各级允许的圆形缺陷最多点数〔mm×mm〕10×1010×2010×30T,mm≤10＞10～15＞15～25＞25～50＞50～100＞100Ⅰ级123456Ⅱ级369121518Ⅲ级61218243036Ⅳ级注：当母材公称厚度不同时，取较薄板的厚度。1～2义为深孔缺陷,当焊接接头存在深孔缺陷时，焊接接头质量评为Ⅳ级。23.410T，mm缺陷长径T，mm缺陷长径T≤25≤0.525＜T≤50≤0.7T＞50≤1.4％·T条形缺陷的分级评定条形缺陷按表23.5的规定进展分级评定。表23.5各级对接接头允许的条形缺陷长度 〔单位：mm〕级别级别单个条形缺陷最大长度一组条形缺陷累计最大长度Ⅰ不允许Ⅱ≤T/3〔4〕且12T缺陷间距不超过6L的任一组条形缺陷的累计长度≤204。Ⅲ在长度为6T的任意选定条形缺陷评定区内，相邻缺陷间距不超过≤30≤306。Ⅳ大于Ⅲ级注1：L为该组条形缺陷中最长缺陷本身的长度；T为母材公称厚度，当母材公称厚度不同时取较薄板的厚度值。注2：条形缺陷评定区是指与焊缝方向平行的、具有肯定宽度的矩形区，T≤25mm，宽度为4mm；25mm＜T≤100mm，6mm。注3：当两个或两个以上条形缺陷处于同始终线上、且相邻缺陷的间距小于或等于较短1综合评级在圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条形缺陷时，应进展综合评级。和减一作为综合评级的质量级别。承压设备管子及压力管道熔化焊环形对接接头射线检测质量分级范围本条规定适用于壁厚T≥2mm，材质为碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢的熔化焊环金属的垫板的单面焊对接焊缝和不加垫板的单面焊对接焊缝。缺陷类型内凹、根部咬边等七类。质量分级依据Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。质量分级的一般规定咬边。未焊透。焊接接头中缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。未焊透最大深度,mm别。未焊透最大深度,mm圆形缺陷的分级评定23.310mm×10mm。条形缺陷的分级评定23.5不加垫板单面焊的未焊透缺陷的分级评定Do＞100mm24.1Do≤100mm24.2〔Ⅱ型进展测定。Do≤100mmAⅠB测定,测定时，比照试块应置于靠近被测未焊透缺陷四周部位。24.1管外径Do＞100mm未焊透最大深度,mm未焊透最大深度,mm级别最大值单个未焊透最大,mm〔T,壁厚〕未焊透累计长度,mm与壁厚的比Ⅰ不允许Ⅱ≤10％≤1.04〕且≤20在任意6T长度区内应不大于长度范围内总长度不大于30Ⅲ≤15％≤1.5≤2T/3〔最小可 在任意3T长度区内应不大于6〕且≤30长度范围内总长度不大于40Ⅳ大于Ⅲ级24.2管外径Do≤100mm〔小径管〕时不加垫板单面焊未焊透的分级级别与壁厚的比最大值未焊透总长度与焊缝总长度的比Ⅰ不允许Ⅱ≤10％≤1.0≤10％ⅢⅢ≤15％≤1.5≤15％Ⅳ大于Ⅲ级根部内凹和根部咬边的分级评定Do＞100mm24.3进展质量分级评定。管外径Do≤100mm陷按表24.4的规定进展质量分级评定。管外径Do＞100mm的管子和容器根部内凹和根部咬边深度可承受一般比照试块〔Ⅱ型〕进展测定。管外径Do≤100mm(ⅠAⅠB置于管的源侧外表、靠近被测根部内凹和根部咬边缺陷四周部位。根部内凹和根部咬边最大深度,mm级别与壁厚的比最大值度,mmⅠ根部内凹和根部咬边最大深度,mm级别与壁厚的比最大值度,mmⅠ不允许Ⅱ≤15％≤1.5在任意3T长度区内不大于T；Ⅲ ≤20％ ≤2.0 总长度不大于100Ⅳ大于Ⅲ级注：对断续根部内凹和根部咬边,以根部内凹和根部咬边本身的长度累计计算总长度。24.4Do≤100mm根部内凹和根部咬边最大深度,mm根部内凹和根部咬边最大深度,mm级别与壁厚的比最大值根部内凹和根部咬边最大总长度与焊缝总长度的比Ⅰ不允许Ⅱ≤15％≤1.5≤30％Ⅲ≤20％≤2.0≤30％Ⅳ大于Ⅲ级注：对断续根部内凹和根部咬边,以根部内凹和根部咬边本身的长度累加计算总长度。24.1.9综合评级作为综合评级的级别。检测记录和报告符合NB/T47013.1制造单位、检测单位或托付单位；被检工件：坡口型式、焊接方法；检测设备：射线源尺寸〔或有效焦点尺寸〕；检测工艺参数：检测技术等级、透照布置、胶片〔牌号及其分类等级〕、增感屏〕、像质计、滤光板、背散射屏蔽铅板、射线能量、曝光量或透照时检部位射线源侧外表与胶片之间的距离、暗室处理方式和条件等；底片评定：底片黑度、底片像质计灵敏度、缺陷位置和性质；操作指导书工艺验证状况〔必要时〕；检测结果及质量分级；编制、审核人员及其技术资格；其他需要说明或记录的事项。应依据检测记录出具检测报告。射线检测报告除符合NB/T47013.1少应包括以下内容：制造单位、检测单位或托付单位；被检工件：坡口型式、焊接方法；检测设备：射线源尺寸〔或有效焦点尺寸〕；检测工艺参数：检测技术等级、透照布置、胶片〔牌号及其分类等级〕、增感屏〔类型、数量和厚度〕、像质计、滤光板、背散射屏蔽铅板、射线能量、曝光量或透工件受检部位射线源侧外表与胶片之间的距离、暗室处理方式和条件等；底片评定：底片黑度、底片像质计灵敏度、缺陷位置和性质。作业的环境条件作业，在距基准面两米及两米以上时，应搭设工作平台。作业安全要求具备不能进展检验。护，防止他人被照。操作人员正确佩带个人防护设施。作业时要查看作业面上边，不能存在未固定或固定不结实的物体。28附录射线检测作业流程图B附录C射线检测操作指导书暗室处理工作程序目的本工作程序是本公司在射线检测工作过程中指导暗室处理工作。适用范围本工作程序适用于本公司在射线检测前后的暗室处理工作。编制依据压设备无损检测第2局部：射线检测》GB18871 《电离辐射防护与辐射源安全根本标准》JB/T7902 《射线照相用线型像质计》DL5009.1-2023 《电力建设安全工作规程》作业前的条件和预备根本要求装袋、显、停显、定影、水冲洗和底片烘干等。暗室环境必需保持干净、干净、枯燥，操作前后都应清扫清理暗室，擦净操作台、各种接线应符合用电要求,暗室有牢靠接地。立数量台帐。员。，做好设备的运转记录。人员(配置、资格)111设备、器材和材料设备、器材和材料应符合QB/LDJC-3-(D)-1-001.1-2023第6条要求。暗室检查暗室房间检查应常常检查暗室是否漏光、红灯是否安全，对暗室漏光处应准时进展修补。进展漏光检查。安全灯检查0.5操作台上放一张未经嚗光的胶片，胶片用硬黑纸遮盖，分数次逐步移动黑纸使胶片获得不30.3确定胶片在红灯下暴露的安全时间及安全距离。或者将一张胶片一半用黑纸包好，在红灯〔不少于显影观看时间说明红灯是安全的。暗袋、暗盖检查保养暗袋及暗盖可用吹气法对着光线检查是否漏光，对漏光者可修补或报废。细致，以免扯坏袋口。增感屏检查保养准时更换。起。不得硬性折迭增感屏以防屏面断裂，拆装胶片时应尽量削减胶片与增感屏磨擦。50℃防止铅膜脱落。药液的配制、使用、贮存药液的配制、使用依据胶片的型号承受相应的药品配方或相应的成药。处理，以降低硬度，提高纯度。时，亚硫酸钠必需在加酸之前溶解，以防硫代硫酸钠分解。方向进展，以免发生显影剂氧化。配制时假设消灭乳白色可加水或适当加温消退，但应避开此现象消灭。24PH2%3%，2废弃。药液的贮存辩识标记，显定影槽应随时加盖。胶片的切、装、拆、保管余灯光，使眼睛适应环境。要折回盖严以防漏光，胶片不得直接接触切片台。以防止漏光。包装好。去掉衬纸，沿胶片的边角或两侧拿取胶片置于两增感屏中间对齐，留意拿胶片时手不能直接接触胶片以免留下指纹、手印。将胶片〔连增感屏〕认真装入暗袋，套好暗盖，装片时不得使胶片严峻弯曲，防止产放。直接从暗袋中急速抽出，防止胶片与增感屏磨擦产生划痕或感光。将胶片装入枯燥的洗片夹内，整齐放在一侧，预备显影。〔5℃~25℃，相离。当对胶片质量有疑心时，应在曝光前显、定影进展分析，问题严峻时应准时停用。显影、停显、定影显影〔20±2℃〕，则应进展加热或制冷调整，并使药液流淌使温度保持上下均匀。把装在洗片夹内的胶片浸入干净的水中使其润湿再放入洗片槽内，各片悬挂的间距3或延长显影时间来补偿。在显影过程中观看胶片时，不宜用过强的红光，并使胶片与红灯保持肯定距离，显450方向入射胶片，避开胶片被红光过度照耀而产生灰雾。γ5-810显影液在使用过程中应常常检查显影液的浓度，假设显影液显现黄棕色明显老化时则充颖的显影液，当增加显影液的体积为原来的二倍时，应更换显影液，显影液应保持PH=10.510停显显影完毕后应放入停显液中浸漂10-15秒，以防显影液带入定影槽内。停显液应常常更换，保持清洁。假设无停显液可用干净水代替。定影定影液应保持PH=4。5-5，假设定影液有浑浊、沉淀现象应添加或更换药。1产生灰雾而影响清楚度。在显定影过程中动作要认真、忙而不乱，防止各种药液飞溅在底片上。水洗、枯燥、底片的收集整理用于水洗的水质必需干净、无杂质、泥沙等。30附污物。4〔可用洗洁精代替〕，用手正反两面擦去底片之间应保持适当的距离防止相互粘连。应用去水剂或自然枯燥至无水滴时进展。烘箱温度应掌握在≤50℃。假设需快速枯燥，可将水洗彻底的底片浸入酒精中再进展枯燥。将枯燥的底片收集、整理齐全、衬上衬纸，在每张衬纸上标上相应的片号交评片员。环境要求显影药和定影药应储存特地的库房内不要散装避开药粉或药剂渗入地下。废胶片要集中储存，并定期送到指定的回收部门，进展资源回收利用。显影、定影药液要集中储存特地的容器内，等待集中处理。〔并进展回收〕，PH污水管道。作业安全要求作间排放有害气体不畅。加强操作间通风设施。12附录E.暗室工作作业流程图电力管道焊接对接接头射线检测目的测工作。适用范围本规程适用于本公司所担当的电力管道焊接对接接头射线检测。2～100mmXγ射线检测技术。检测工艺卡是本规程的补充，由Ⅱ级以上人员按合同和本规程要求编写。标准性引用文件引用版本均为有效。DL/T821-2023 《钢制承压管道对接焊接接头射线检验技术规程》DL438 《火力发电厂金属技术监视规程》DL/T869 《火力发电厂焊接技术规程》GB18871—2023 射防护与辐射源安全根本标准》检测人员作相适应的资格证书。4.2检测人员应每年检查一次视力，校正视力不低于1.0。评片人员还应区分出距400mm5mm0.5mm防护的警告标志，夜间应设红灯。检测人员应遵守检测现场及本公司的规章制度。设备、器材和材料射线源和能量的选择的双壁双投影，为扩大检出范围，可适中选择高能量的射源。X透照不同厚度的钢制焊接对接接头时，允许使用的最高管电压应掌握在图6.1的范围内。6.1不同透照厚度允许的最高透照管电压γ射线源的选择射线源名称能量〔平均值〕MeV透照厚度〔T〕mmASe75射线源名称能量〔平均值〕MeV透照厚度〔T〕mmASe750.2010≤T≤40AIr1920.3520≤T≤95A胶片和增感屏胶片T1、T2、T3T46.2。表6.2制造厂制造厂型号类型爱克发公司C4T2天津感光材料厂Ⅴ型T2爱克发公司爱克发公司C7T3柯达公司T3天津感光材料厂Ⅲ型T30.3。胶片的承受原则：，BT20.3。承受γ射线对裂纹敏感性大的材料进展射线检测,应承受T2片。增感屏：射线检测应使用金属增感屏。增感屏的选用应符合表6.3的规定。6.3增感屏的材料和厚度射线源射线源前材料屏厚度,mm后材料屏mmX〔100kV～150kV〕X〔150kV～250kV〕X〔250kV～300kV〕铅≤0.10铅≤0.15铅0.02～0.15铅0.02～0.15铅0.02～0.2铅0.02～0.2Se-75铅A0.02～0.2A0.02～0.2ABB0.1～0.2铅Ir-192铅铅A0.02～0.2A0.02～0.2ABB0.1～0.2更换。、胶片和增感屏在透照过程中应始终严密接触。像质计DL/T821-2023未焊透深度还应使用槽型像质计。金属丝像质计的选用由Ⅰ、Ⅱ级人员按6.3.1.1的透照厚度选择表6.4规定的象质指数。透照厚度确实定透照厚度确实定见表6.5像质计的选用外径＞89mm，承受R10系列像质计。D≤89mm，承受Ⅰ型专用像质计。像质计的放置要求到达的像质指数线径㎜适合的透照厚度TA(㎜)要求到达的像质指数线径㎜适合的透照厚度TA(㎜)150.125 ≤6140.160 ＞6～8130.200 ＞8～12120.250 ＞12～16110.320 ＞16～20100.400 ＞20～2590.500 ＞25～3280.630 ＞32～5070.800 ＞50～8061.000 ＞80～1006.5透照厚度计算表透照方法透照厚度Ta 〔h：余高〕单壁透照法Ta＝T+h双壁单影法Ta＝2T+hTa＝0.8 (DT)T+T〔倾斜透照〕双壁双影法Ta＝0.8 (DT)T+T＋h〔垂直透照〕〔被检1／4〕，钢丝横跨且垂直于焊缝，细丝置于外侧。由于条件限制无法放质指数到达规定的要求。像质计放在胶片侧工件外表时，应加“F”标记以示区分。中心透照时，像质计每90°放一个。外径≤89mm双壁双影透照时像质计应放置于射线源侧。管子上。度比照块。当管子外径>89mm5mm背散射标记B”铅字标记，一般“B”铅字的高度为字影像，则说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。假设底“B”字影像或消灭黑度高于四周背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。定位标记和识别标记定位标记当抽查时，搭接标记称为有效区段标记。识别标记被检的每段焊缝四周均有以下铅质识别标记：工件编号、焊缝编号、部位编号。定位、识别标记均需离焊缝边缘至少5mm，并在底片上显示。JB”标记。返修后的焊接对接接头透照部位还应RR1 2观片灯和评片室6.6.l有遮光板，对不需观看或透光量过强局部应屏蔽强光。经照耀后的底片亮度应不小于30cd/m2。6.6.2片上需要观看部位透过光的亮度相当。室内照明光线不得在观看的底片上产生反射。源像质计源像质计位置标记≥识别标记99-2A1-1片号990613拍片日期0.05。黑度片每两年至少校检一次。受检部位外表的预备影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对外表作适当修整。检测技术几何条件L1按下式计算：L1≥10dL22/3式中 L1——源至被检部位工件上外表的距离〔或称透照距离〕，mm；l／2〕，mm；L2——被检部位工件外表至胶片的距离，mm。L1透照技术术。单壁透照胶片、像质计和标记布置如图7.1所示。8.1像质计和识别系统的布置搭接号标记L3”L3”L3”/4199-2A19906132片/搭接标记 搭接标记数字标记像质计的型号、选用、数量和放置满足6.3的要求。双壁单影透照：管道外径大于Φ89mm的环缝及返修部位承受此法。8.2.2.l490°。像质计的选用和放置满足5.3的要求。胶片、像质计和标记的布置参照图8.1。双壁双影透照能量的选择按5.1.1规定。像质计按透照厚度选用，其专用像质计的编号与放置，应符合5.3的规定。底片上至少应有管线编号、焊缝编号、片号和像质计。90°。片上。D≤89mm3～10mm15mm。只有上下焊缝椭圆形显示有困难时，可做垂直透照。要求：焊缝的下部焊接厚度为20mm左右。度相适宜，暗盒与焊缝外表应贴紧。允许，应选用周向Xγ源，承受中心全周透照法。假设承受其他透照方法，则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足：环缝K值不大于1.1,纵K1.03。垂直透照，以提高裂纹的检出率。8.2.8300mm。8.3曝光条件15mA·min，14mm暗室处理胶片贮存、装取和冲洗按《暗室处理工作程序》执行。底片的评定底片的评定由Ⅱ级以上人员进展。底片的质量10.l.1〔包括胶片