《超大规模集成电路测试》课程作业

/《超大规模集成电路测试》课程作业作业要求:上课做过报告的同学不再安排作业任务.未做报告的同学每人一题,组内不能重复（比如黄希雷选择习题４，张一栋选择习题５，杨鑫选择习题6）。提交打印版,截止时间:20１2.１2．１3。分组分组作业成员第1组习题4—6黄希雷、张一栋、杨鑫第２组习题１－3陶志勇第3组习题7—9何敏、余成林第4组习题4—6韩健、邢璐、彭小飞第５组习题１1—1３方文庆、吴悠然、李军第6组习题7-９张丽娜、申思远、胡静云第７组习题1０-12刘坤、韩博宇、李润丰第8组习题10—1２陈义军、王悄、韩倩倩第9组习题1０、12、13王镜淞、谢云磊、余天送第10组习题11-１3杨国兵、钱庆庆、郑浏旸第11组习题１３-１5张曦、张桂茂第12组习题１—4尹婉、郭小辉、陈实、杜龙杰第１3组习题５－8饶东升、赵炎鑫、吴亦、刘方方第１4组习题９—11吴思谕、张启凤、余海东第15组习题12—15孙越、江明、李沛骋、陶星辰《超大规模集成电路测试》课程习题对于图1的电路,计算组合SCOAＰ可测试性度量(可控制性和可观测性)图1对于图2的电路,计算组合SCOAP可测试性度量(可控制性和可观测性）图2对于图３的电路，计算组合SCOAP可测试性度量(可控制性和可观测性)图3采用Roｔh的D＿ALG，对修改的Schnｅider电路中扇出分支hｓ—a—1故障进行ＡTPG，如图4所示。图４对于图５电路中的h１s－ａ—１故障,采用Ｄ算法进行ATＰＧ。图５对于图6中的rs—a—0故障，采用ＦANＡTPＧ算法生成测试矢量.图6对于图7中的ＮOT门输出的s－a—1故障导出一个测试码。图7对于图8中的NＡＮD门的C输入上的ｓ－a—1故障的测试码，并说明这是一个振荡故障。将无故障的功能重新设计成组合电路。图8导出图9电路中As—a－1故障的一个测试码,并对该故障设计一个多重观察测试.图9考虑图１0电路中的路径C－F-Ｇ:1)导出C处上升转变的测试矢量；2)如果在B出施加下降转变，上述测试矢量可以工作吗?3）当所有门具有一个延迟单元时,画出2)情况的所有信号波形。4）如何诊断有故障路径。图1０假定芯片有１00000个门和2000个触发器。一个组合ＡTPG程序为完全测试这个逻辑生成了50０个矢量。单个扫描链设计将需要大约106个时钟周期进行测试。如果实现20条扫描链，计算扫描测试的长度。假定电路有20个原始输入数据管脚和20个原始输出数据管脚，而且对测试只能增加一个额外的管脚,对新设计需要多少额外的门开销？计算有特征多项式为的标准LＦSR生成的前8个测试矢量，其初始值是“",其中1在最低位。计算有特征多项式为的取模LFSR生成的前8个测试矢量，假定该LFＳR初始化为“001”，其中1在最低位.图16.8（此图在教材中)中的印刷电路板有4个芯片，期特性如下：不适用JTAGBYPＡＳS指令，使用外部测试仪通过边界扫描链施加测试矢量,只测试芯片1－４（不包含互连),计算一次测试中4个测试阶段的测试时间，其中电路板上时钟速率是51２ＭHz.再重新计算使用JTAＧBYPＡSS指令测试芯片1—4的测试时间。使用与习题1４同样的系统,现在要求计算实现互连延迟故障测试的测试模式和测试时间。对每个被测试的互连,对上升变化，这需要有两个测试矢量的一