标准解读

《YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测试方法 X射线光电子能谱法测定合金态铂及合金态钌含量》是一项针对铂钌合金薄膜中铂和钌元素含量分析的标准。该标准详细规定了使用X射线光电子能谱（XPS）技术对样品进行定性和定量分析的具体步骤与要求，适用于科研机构、质量控制实验室以及相关生产企业对于铂钌合金薄膜材料成分检测的需求。

根据此标准，首先需要准备待测的铂钌合金薄膜样品，并确保其表面清洁无污染。然后，在适当的条件下利用X射线光电子能谱仪对样品表面进行扫描，通过测量从样品表面逸出的光电子动能来获取关于元素种类及其化学状态的信息。通过对获得的数据进行处理分析，可以得到铂和钌两种元素在合金中的相对含量。

整个过程中需要注意控制实验条件如真空度、X射线源参数等以保证结果准确性；同时也要考虑到不同元素间可能存在的相互作用对最终结果的影响。此外，为了提高测试精度，还建议采用适当的标准物质来进行校正。

该标准为铂钌合金薄膜中铂、钌含量的准确测定提供了科学依据和技术指导，有助于促进相关领域内产品质量的提升与发展。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2007-04-13 颁布
  • 2007-10-01 实施
©正版授权
YS/T 644-2007铂钌合金薄膜测试方法 X射线光电子能谱法测定合金态铂及合金态钌含量_第1页
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文档简介

ICS77.120.99Y5H68中华人民共和国有色金属行业标准YS/T644—2007铂钉合金薄膜测试方法X射线光电子能谱法测定合金态铂及合金态钉含量DeterminationmethodofPt-Rualloyfilm-DeterminationofalloyedPtcontentandalloyedRucontentbyX-rayphotoelectronspectroscopy2007-04-13发布2007-10-01实施中华人民共和国国家发展和改革委员会发布

YS/T644—2007前本标准由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口本标准由昆明贵金属研究所负责起草。本标准主要起草人:杨滨、李肠、杨喜昆、管林寒本标淮由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。本标准首次发布。

YS/T644-2007铂钉合金薄膜测试方法X射线光电子能谱法测定合金态铂及合金态钉含量范围本标准规定了铂钉(Pt-Ru)合金薄膜材料中合金态铂及合金态钉含量(质量分数）的测定方法本标准适用于铂钉合金薄膜材料中合金态铂及合金态钉质量分数的测定,也可适用于各种铂合金薄膜材料中合金态铂质量分数及其他合金态金属质量分数的测定。测定范围：合金态铂质量分数不小于3%，合金态钉质量分数不小于3%。本标准不适用于单层厚度不大于10nm的层状薄膜方法原理在单色(或准单色)X射线照射下,测量材料表面所发射的光电子能谱来获取表面化学成分、分子纪构等方面的信息,这种表面分析技术称为X射线光电子能谱法（XPS)。XPS测量获得试样能谱图，经拟合形成若干谱峰,通过对各谱峰峰面积以及相对灵敏度因子计算得到试样中合金态金属的原子百分数和质量分数3仪器和设备3.1X射线光电子能谱仪，凡能达到下列指标者均可使用真空度：10-6Pa～10-Pa。MgK.X射线能址：1253.6V激发源功率：200W~400W。荷电校正：通常采用在试样上蒸镀金作为参照物来定标.即选定Au为84.0eV:或以污染碳Cls284.8eV定标。分牌率：0.8eV。采样深度：<10nm。3.2切割工具：医用剪刀、玻璃刀。3.3医用摄子。试样的制备4采用切割工具将样品切割成尺寸不大于10mm×10mm的试样,制样过程中应戴医用手套)5测量步骠5.1用医用摄子夹住试样放入光电子能谱进样室.抽真空至10-Pa.保持5min.将进样室中试样导入分析室中的样品台座上。待真空度达到10-"Pa后，选取Mg靶.开启X-ray光枪做XPS图谱分析.5.2对试样的XPS测试图谱进行曲线拟合分峰，得到各谱峰，

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