标准解读

《GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构测定方法》与《GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定》相比,在内容和技术要求上进行了更新和改进。新版本更加注重测试方法的具体性和准确性,以适应当前技术发展的需求。具体变更包括但不限于以下几个方面:

  1. 术语定义:新版标准对相关术语进行了更准确的定义或修订,确保了行业内对于关键概念的一致理解。
  2. 测试方法:增加了新的测试技术和手段,比如使用更先进的显微镜技术(如扫描电子显微镜SEM)来观察样品的微观形态,提高了测试结果的精确度。
  3. 样品制备:详细规定了样品准备过程中的步骤、条件等要求,保证不同实验室间能够获得可比性强的结果。
  4. 数据分析:引入了更为科学合理的数据处理方式,增强了分析结果的有效性与可靠性。
  5. 安全环保:考虑到操作过程中可能存在的风险因素以及环境保护的重要性,新版标准中加入了相应指导原则。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2015-05-15 颁布
  • 2016-01-01 实施
©正版授权
GB/T 5594.8-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分:显微结构测定方法_第1页
GB/T 5594.8-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分:显微结构测定方法_第2页
GB/T 5594.8-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分:显微结构测定方法_第3页
GB/T 5594.8-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分:显微结构测定方法_第4页
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文档简介

ICS31-030

L90

中华人民共和国国家标准

GB/T55948—2015

代替.

GB/T5594.8—1985

电子元器件结构陶瓷材料

性能测试方法

第8部分显微结构测定方法

:

Testmethodsforpropertiesofstructureceramic

usedinelectroniccomponentsanddevice—

Part8Testmethodformicrostructure

:

2015-05-15发布2016-01-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

中华人民共和国

国家标准

电子元器件结构陶瓷材料

性能测试方法

第8部分显微结构测定方法

:

GB/T5594.8—2015

*

中国标准出版社出版发行

北京市朝阳区和平里西街甲号

2(100029)

北京市西城区三里河北街号

16(100045)

网址

:

服务热线

:400-168-0010

年月第一版

20154

*

书号

:155066·1-51261

版权专有侵权必究

GB/T55948—2015

.

前言

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法分为以下部分

GB/T5594《》:

气密性测试方法

———(GB/T5594.1);

杨氏弹性模量泊松比测试方法

———(GB/T5594.2);

第部分平均线膨胀系数测试方法

———3:(GB/T5594.3);

第部分介电常数和介质损耗角正切值的测试方法

———4:(GB/T5594.4);

体积电阻率测试方法

———(GB/T5594.5);

第部分化学稳定性测试方法

———6:(GB/T5594.6);

第部分透液性测定方法

———7:(GB/T5594.7);

第部分显微结构测定方法

———8:(GB/T5594.8);

电击穿强度测试方法

———(GB/T5594.9)。

本部分为的第部分

GB/T55948。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定

GB/T5594.8—1985《》。

本部分与相比主要有下列变化

GB/T5594.8—1985,:

标准名称改为电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第部分显微结构测定方法

———:“8:;

显微结构定义中增加了晶界相间物质空间上的相互排列和组合关系等

———“3.1”,、、;

样品的制备中增加了小尺寸样品可以直接采用单面磨制

———“4”,“,”;

测试结果的综合表示中增加了部分显微结构照片将晶粒大小放在前面显微缺陷

———“7”,,。、

气孔数量玻璃相等部分放在后面

、;

删除了气孔玻璃相含量等级表示方法见中

———、(GB/T5594.8—19854.2.2、4.3)。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

,。

本部分由中华人民共和国信息工业和信息化部提出

本部分由中国电子技术标准化研究院归口

本部分起草单位中国电子科技集团公司第十二研究所中国电子技术标准化研究院江苏常熟银

:、、

洋陶瓷器件有限公司

本部分主要起草人江树儒曹易高永泉翟文斌

:、、、。

本部分所代替标准的历次版本发布情况为

:

———GB/T5594.8—1985。

GB/T55948—2015

.

电子元器件结构陶瓷材料

性能测试方法

第8部分显微结构测定方法

:

1范围

的本部分规定了氧化铝瓷氧化铍瓷滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显

GB/T5594、、

微结构的测定方法

本部分适用于氧化铝瓷氧化铍瓷滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定

、、。

本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

电子陶瓷名词

GB/T9530—1988

3术语和定义

界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T9530—1988。

31

.

显微结构microstructure

晶相主晶相次晶相玻璃相气相晶界等的组成形态大小数量种类分布均匀度缺陷相

(、)、、、、、、、、、、、

间物质等的在空间上的相互排列和组合关系

32

.

晶相crystalphase

在多相系统中由晶体构成的部分

33

.

气孔pore

存在于陶瓷体中的小孔与大气连通的称开口气孔封闭的称闭口气孔包在晶粒内部的称晶内气

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