标准解读

《GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)》这一标准详细规定了用于评估电子设备中机电元件在高频条件下电气性能的方法。该文件属于一系列针对电子设备及其组件测试与测量的标准之一,特别关注于如何准确地测定阻抗、反射系数以及电压驻波比(VSWR)这三个关键参数。

对于阻抗而言,它是指电路或系统对交流电流动的阻碍程度;反射系数则用来描述信号从一个介质传播到另一个介质时被反射回来的能量比例;而电压驻波比是衡量传输线路上行波与反向行波之间关系的一个指标,通常用于表征天线或射频线路的工作状态好坏。

根据此标准,在进行上述三项参数的测试过程中,需要遵循特定的操作步骤和技术要求。例如,在准备阶段,应确保所有仪器均处于良好工作状态,并且正确连接待测样品与测试装置。测试过程中可能还会涉及到使用网络分析仪等专业工具来获取精确数据。此外,标准还提供了关于如何处理实验结果的具体指导,包括但不限于数据记录方式、计算方法等。


如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

....

查看全部

  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2021-03-09 颁布
  • 2021-10-01 实施
©正版授权
GB/T 5095.2507-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)_第1页
GB/T 5095.2507-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)_第2页
GB/T 5095.2507-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)_第3页
GB/T 5095.2507-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)_第4页
免费预览已结束,剩余28页可下载查看

下载本文档

免费下载试读页

文档简介

ICS3122010

L23..

中华人民共和国国家标准

GB/T50952507—2021/IEC60512-25-72004

.:

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-7部分试验25

:g:

阻抗反射系数和电压驻波比VSWR

、()

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-7Test25

:g:

ImedancereflectioncoefficientandvoltaestandinwaveratioVSWR

p,,gg()

[IEC60512-25-7:2004,Connectorsforelectronicequipment—

Testsandmeasurements—Part25-7:Test25g:Impedance,reflection

coefficient,andvoltagestandingwaveratio(VSWR),IDT]

2021-03-09发布2021-10-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T50952507—2021/IEC60512-25-72004

.:

目次

前言

…………………………Ⅰ

范围和目的

1………………1

术语和定义

2………………1

试验设施

3…………………2

设备

3.1…………………2

装置

3.2…………………3

试验样品

4…………………4

说明

4.1…………………4

试验程序

5…………………4

时域

5.1…………………4

频域

5.2…………………5

相关标准应规定的细则

6…………………6

试验记录文件

7……………6

附录规范性附录测量系统上升时间

A()………………8

附录资料性附录样品近端和远端的确定

B()…………11

附录资料性附录校准标准和试验板标准线路

C()……………………12

附录资料性附录阻抗曲线图说明

D()TDR…………15

附录资料性附录电气终端

E()…………17

附录资料性附录实用指南可变上升时间

F()———……………………19

附录资料性附录电子测量用印制电路板的设计依据

G()……………20

附录资料性附录试验信号发射构件

H()………………24

GB/T50952507—2021/IEC60512-25-72004

.:

前言

电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法按试验方法分为若干部分

GB/T5095《》。

的第部分为信号完整性试验已经发布或计划发布的部分如下

GB/T509525,:

第部分试验串扰比

———25-1:25a:;

第部分试验衰减插入损耗

———25-2:25b:();

第部分试验上升时间衰减

———25-3:25c:;

第部分试验传输时延

———25-4:25d:;

第部分试验回波损耗

———25-5:25e:;

第部分试验眼图和抖动

———25-6:25f:;

第部分试验阻抗反射系数和电压驻波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信号完整性试验试验外来串扰

———25-9:25i:。

本部分为的第部分

GB/T509525-7。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻译法等同采用电子设备用连接器试验和测量第部

IEC60512-25-7:2004《25-7

分试验阻抗反射系数和电压驻波比

:25g:、(VSWR)》。

本部分做了下列编辑性修改

:

标准名称由电子设备用连接器试验和测量第部分试验阻抗反射系数和电压

———《25-7:25g:、

驻波比修改为电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第部分试

(VSWR)》《25-7:

验阻抗反射系数和电压驻波比

25g:、(VSWR)》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出

本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会归口

(SAC/TC166)。

本部分起草单位四川华丰企业集团有限公司中国电子技术标准化研究院

:、。

本部分主要起草人庞斌朱茗肖淼刘俊汪其龙

:、、、、。

GB/T50952507—2021/IEC60512-25-72004

.:

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-7部分试验25

:g:

阻抗反射系数和电压驻波比VSWR

、()

1范围和目的

的本部分适用于互连组件如范围内的电连接器和电缆组件

GB/T5095,IECTC48。

本部分描述了在时域和频域内测量阻抗反射系数和电压驻波比的试验方法

、(VSWR)。

注这些测试方法是为专业试验人员编写的这些试验人员具备电子领域的专业知识并经过使用测试设备的培训

:,。

由于测量值受装置和设备的强烈影响该方法未能叙述所有可能的复合作用主要设备制造厂提供的应用说

,。

明书对如何最恰当的使用其设备作了更深入的专业说明至关重要的是相关标准中宜包括让试验人员了解

,。

如何安排和进行所要求测量的说明和简图

2术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

21

.

测量系统上升时间measurementsystemrisetime

安装就位无样品并具有滤波或归一化作用的装置测量的上升时间通常测量的是

,()。,10%~

电平的上升时间

90%。

22

.

样品环境阻抗specimenenvironmentimpedance

由装置在样品信号导线上引起的阻抗该阻抗是由传输线路终端电阻附装的接收器和信号源以

。、、

及装置的寄生效应产生的

23

.

反射系数reflectioncoefficient

在任一给定点的反射电压与入射电压之比反射系数由式给出

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等,侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本(可阅读打印),因数字商品的特殊性,一经售出,不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致,所以下载的文档中可能包含空白页,非文档质量问题。

评论

0/150

提交评论