标准解读

《GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减》是针对电子设备中使用的机电元件进行的一项特定测试标准。该标准详细规定了如何通过实验来测定机电元件在接收到信号后,其响应特性中的一个重要参数——上升时间的衰减情况。上升时间通常指的是输出信号从低电平到高电平所需的时间,而这里的“衰减”则关注的是随着使用或环境条件变化,这一关键性能指标的变化趋势。

根据此标准,首先需要准备符合要求的测试样品,并确保所有测试设备都处于良好工作状态。接着按照指定的方法施加输入信号至被测元件上,在不同条件下重复此过程以收集数据。对于每次测试,都需要准确记录下观察到的上升时间值。通过比较这些值与初始设定或者标准值之间的差异,可以评估出元件随时间推移其性能下降的程度。

此外,标准还提供了关于如何正确设置测试环境、选择适当的测试仪器以及处理异常结果等方面的指导。它强调了在整个测试过程中保持一致性和精确性的重要性,以保证最终获得的数据可靠有效。同时,也提醒执行者注意安全操作规范,避免对人员或设备造成损害。

标准适用于各类电子设备制造商、检测机构及相关研究单位,在产品开发阶段验证设计合理性、生产过程中控制质量一致性以及售后服务期间分析故障原因等方面发挥重要作用。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2021-03-09 颁布
  • 2021-10-01 实施
©正版授权
GB/T 5095.2503-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-3部分:试验25c:上升时间衰减_第1页
GB/T 5095.2503-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-3部分:试验25c:上升时间衰减_第2页
GB/T 5095.2503-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-3部分:试验25c:上升时间衰减_第3页
GB/T 5095.2503-2021电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-3部分:试验25c:上升时间衰减_第4页

文档简介

ICS3122010

L23..

中华人民共和国国家标准

GB/T50952503—2021/IEC60512-25-32001

.:

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-3部分试验25c上升时间衰减

::

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-3Test25cRisetimederadation

::g

(IEC60512-25-3:2001,Connectorsforelectronicequipment—

Testsandmeasurements—Part25-3:Test25c:Risetimedegradation,IDT)

2021-03-09发布2021-10-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T50952503—2021/IEC60512-25-32001

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

总则

1………………………1

范围和目的

1.1…………………………1

术语和定义

1.2…………………………1

试验设施

2…………………1

设备

2.1…………………1

装置

2.2…………………2

试验样品

3…………………2

说明

3.1…………………2

试验程序

4…………………3

插入法

4.1………………3

标准装置法

4.2…………………………3

上升时间衰减计算

4.3…………………3

相关标准应规定的细则

5…………………3

试验记录文件

6……………3

附录规范性附录装置和设备示意图

A()………………5

附录资料性附录实用指南

B()…………8

GB/T50952503—2021/IEC60512-25-32001

.:

前言

电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法按试验方法分为若干部分

GB/T5095《》。

的第部分为信号完整性试验已经发布或计划发布的部分如下

GB/T509525,:

第部分试验串扰比

———25-1:25a:;

第部分试验衰减插入损耗

———25-2:25b:();

第部分试验上升时间衰减

———25-3:25c:;

第部分试验传输时延

———25-4:25d:;

第部分试验回波损耗

———25-5:25e:;

第部分试验眼图和抖动

———25-6:25f:;

第部分试验阻抗反射系数和电压驻波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信号完整性试验试验外来串扰

———25-9:25i:。

本部分为的第部分

GB/T509525-3。

本部分按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻译法等同采用电子设备用连接器试验和测量第部

IEC60512-25-3:2001《25-3

分试验上升时间衰减

:25c:》。

本部分做了下列编辑性修改

:

标准名称由电子设备用连接器试验和测量第部分试验上升时间衰减修改为

———《25-3:25c:》

电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第部分试验上升时间衰减

《25-3:25c:》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出

本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会归口

(SAC/TC166)。

本部分起草单位四川华丰企业集团有限公司中国电子技术标准化研究院

:、。

本部分主要起草人庞斌朱茗肖淼刘俊汪其龙

:、、、、。

GB/T50952503—2021/IEC60512-25-32001

.:

电子设备用机电元件

基本试验规程及测量方法

第25-3部分试验25c上升时间衰减

::

1总则

11范围和目的

.

的本部分适用于电连接器插座电缆组件或互连系统

GB/T5095、、。

本部分描述了测量样品对通过其中信号的上升时间所产生影响的方法

12术语和定义

.

下列术语和定义适用于本文件

121

..

上升时间衰减risetimedegradation

样品插入传输通道时达到理论上理想的零上升时间电压阶跃的上升时间增量见图采用

,()(1)。

的高斯信号从的上升时间衰减的计算式见式

10%~90%(1):

T=T2-T2

r,d(r)(r,m)…………(1)

式中

:

T上升时间衰减

r,d———;

T测量的上升时间

r———;

T测量系统上升时间

r,m———。

122

..

测量系统上升时间measurementsystemrisetime

安装就位无样品并具有滤波或归一化作用的装置测量的上升时间通常测量的是从

,()

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