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  • 正在执行有效
  • 2019-08-30 颁布
  • 2020-03-01 实施
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GB/T 37977.32-2019静电学第3-2部分:静电效应的模拟方法机器模型(MM)的静电放电试验波形_第1页
GB/T 37977.32-2019静电学第3-2部分:静电效应的模拟方法机器模型(MM)的静电放电试验波形_第2页
GB/T 37977.32-2019静电学第3-2部分:静电效应的模拟方法机器模型(MM)的静电放电试验波形_第3页
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文档简介

ICS3310017220

;

L06..

中华人民共和国国家标准

GB/T3797732—2019/IEC61340-3-22006

.:

静电学第3-2部分静电效应的模拟

:

方法机器模型MM的静电放电试验波形

()

Electrostatics—Part3-2Methodsforsimulationofelectrostaticeffects—

:

MachinemodelMMelectrostaticdischaretestwaveform

()g

(IEC61340-3-2:2006,IDT)

2019-08-30发布2020-03-01实施

国家市场监督管理总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T3797732—2019/IEC61340-3-22006

.:

目次

前言

…………………………Ⅰ

范围

1………………………1

术语和定义

2………………1

设备

3………………………1

电流波形发生器

3.1MMESD…………1

波形验证设备

3.2………………………1

电流波形要求

4MM………………………2

概要

4.1…………………2

波形验证

4.2……………3

的可靠性试验

5UUTESD………………3

概要

5.1…………………3

有电气端口的耐受性试验

5.2UUT…………………3

无电气端口的耐受性试验

5.3UUT…………………3

试验程序

6…………………5

失效判据

7…………………5

敏感度分级

8MMESD……………………5

参考文献

………………………6

图波形发生器

1MMESD………………2

图通过短接线的典型电流波形

2…………4

图通过电阻的典型电流波形

3500Ω……………………4

表波形要求

1………………3

GB/T3797732—2019/IEC61340-3-22006

.:

前言

静电学预计发布以下部分

GB/T37977《》:

第部分防静电固体平面材料电阻和电阻率的测试方法

———2-3:;

第部分静电效应的模拟方法人体模型的静电放电试验波形

———3-1:(HBM);

第部分静电效应的模拟方法机器模型的静电放电试验波形

———3-2:(MM);

第部分电子器件的静电防护通用要求

———5-1:。

本部分为的第部分

GB/T379773-2。

本部分使用翻译法等同采用静电学第部分静电效应的模拟方法机

IEC61340-3-2:2006《3-2:

器模型的静电放电试验波形

(MM)》。

本部分做了下列编辑性修改

:

为区分图中的两种试验负载在上增加了虚线框

———1,“7”“8”;

更正了表中不完整的叙述在充电电压列增加

———1,“”“±”;

为便于理解和应用本部分表增加了注电阻负载仅适用于充电电压的放电

———,1“500Ω±400V

电流波形验证

”。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出

本部分由中华人民共和国工业和信息化部电子归口

()。

本部分起草单位工业和信息化部电子工业标准化研究院中国电子仪器行业协会防静电装备分

:、

会信息产业防静电产品质量监督检验中心陆军沈阳局驻锦州地区军代室火箭军驻天津地区军代室

、、、、

航天长峰朝阳电源有限公司深圳市亨达洋静电技术有限公司

、。

本部分主要起草人梁栋栋蔡利花孙延林宋競男张大用傅翾高海燕刘铁军刘建华

:、、、、、、、、、

何建平刘清松孙建波

、、。

GB/T3797732—2019/IEC61340-3-22006

.:

静电学第3-2部分静电效应的模拟

:

方法机器模型MM的静电放电试验波形

()

1范围

的本部分规定了用于模拟机器模型的静电放电电流波形和用于产生和

GB/T37977(MM)(ESD)

验证这些波形的设备的基本要求

本部分适用于在一般试验方法中所用的以及在材料电子元器件组件或产品的敏感度试验

,、、ESD

或性能评估试验中使用的电流波形这些电流波形在不通电半导体器件中的特定

MMESD。MMESD

应用由规定

IEC60749-27。

2术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

21

.

受试样品unitundertestUUT

;

经受试验的材料电子元器件组件或产品

MMESD、、。

22

.

待试样品失效failureofunitundertest

在试验后出现一个或多个参数不合格的情况

UUTMMESD。

23

.

ESD耐受电压electrostaticdischargewithstandvoltage

不会引起参数超差失效可施加的最大电压在低于该电压时所有

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