GB/T 32872-2016空间科学照明用LED筛选规范

ICS31080

L53.

中华人民共和国国家标准

GB/T32872—2016

空间科学照明用LED筛选规范

ScreeningspecificationsforilluminationLEDsinspacesciences

2016-08-29发布2016-11-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T32872—2016

目次

前言

…………………………Ⅰ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

总则

3………………………1

筛选项目和程序

4…………………………1

筛选方法

5…………………2

外观检查

5.1……………2

参数测量

5.2……………2

恒定加速度

5.3…………………………2

粒子碰撞噪声检测

5.4…………………2

密封性检查

5.5…………………………3

高温存储

5.6……………3

温度冲击

5.7……………3

低温启动

5.8……………3

温度循环

5.9……………4

老炼

5.10…………………4

参数终测

5.11……………4

参数测量和合格判定

6……………………4

测量条件

6.1……………4

测试参数

6.2……………5

测试方法

6.3……………5

合格判定

6.4……………6

附录资料性附录空间科学照明用筛选统计表

A()LED………………7

GB/T32872—2016

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准由全国空间科学及其应用标准化技术委员会归口

(SAC/TC312)。

本标准起草单位中国科学院上海技术物理研究所

:。

本标准主要起草人张涛章美敏刘石神顾建忠袁士东王晨飞

:、、、、、。

Ⅰ

GB/T32872—2016

空间科学照明用LED筛选规范

1范围

本标准规定了空间科学照明用筛选项目和程序筛选方法参数测量

LED(LightEmittingDiode)、、

和合格判定

。

本标准适用于空间科学照明用额定功率和以上封装的单芯的筛选其他功率级别

1W1WLED,

的也可参照执行

LED。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

普通照明用模块测试方法

GB/T24824—2009LED

半导体分立器件试验方法

GJB128A—1997

军用电子元器件破坏性物理分析方法

GJB4027

3总则

31被筛选器件应按产品规范或技术协议的要求进行参数初测合格的器件可参加筛选筛选按规定

.,。

的项目和程序进行完成每个项目之后剔除不合格产品

,,。

32被筛选器件应逐个编号并在每次测试时记录测试数据筛选结束后应编写筛选统计表格式参

.,。,,

见附录器件的参数测试数据可作为筛选报告的附件

A,。

33测试如有异常应记录异常的发生时间和器件编号

.,。

34当筛选剔除率超过时应判批次不合格当出现功能失效时应按照进行失效分

.20%,。,GJB4027

析如属于材料或工艺因素的非偶然性失效也应判批次性不合格

,。

4筛选项目和程序

筛选按表规定的项目和程序进行完成每个项目之后剔除不合格产品

1,,。

表1筛选项目和程序

序号筛选项目筛选方法

外观检查见

15.1

参数测量