标准解读
《GB/T 29299-2012 半导体激光测距仪通用技术条件》是中国国家标准之一，该标准规定了半导体激光测距仪的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等方面的内容。适用于采用半导体激光器作为光源的测距仪器的设计、制造与使用。
根据标准内容，半导体激光测距仪应满足一定的性能指标，包括但不限于测量范围、精度、分辨率等，并且对于不同应用场景下的具体要求有所区分。例如，在户外使用的设备需要考虑环境因素对测量结果的影响；而对于室内或特定工业环境下使用的设备，则可能更加注重其精确度和稳定性。
此外，该标准还详细列出了进行型式检验时所需执行的各项测试项目及其合格判据，如温度适应性试验、振动试验等，以确保产品能够在预期的工作条件下正常运行并提供准确可靠的测量数据。同时，也规定了产品出厂前必须经过的质量控制流程及相应的抽样方案。
关于产品的标识信息，标准中明确指出每台半导体激光测距仪都应当清晰标注制造商名称或商标、型号规格、生产日期（或批号）、序列号等相关信息。在包装方面，则要求采取适当措施防止运输过程中因碰撞、潮湿等原因造成损坏，并建议随附使用说明书以便用户正确操作维护设备。
对于存储条件也有具体指导，推荐将未开封的产品存放于清洁干燥处，避免阳光直射及极端温湿度环境，从而延长使用寿命。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2012-12-31 颁布
- 2013-06-01 实施
文档简介
ICS31260
L51.
中华人民共和国国家标准
GB/T29299—2012
半导体激光测距仪通用技术条件
Generalspecificationofsemiconductorlaserrangefinder
2012-12-31发布2013-06-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布
中国国家标准化管理委员会
GB/T29299—2012
目次
前言…………………………
Ⅲ
范围………………………
11
规范性引用文件…………………………
21
术语和定义………………
31
要求………………………
42
技术要求……………
4.12
性能要求……………
4.23
环境适应性要求……………………
4.33
可靠性要求…………………………
4.44
试验方法…………………
55
技术要求试验………………………
5.15
性能要求试验………………………
5.25
环境适应性要求试验………………
5.36
可靠性要求试验……………………
5.47
检验规则…………………
67
一般规则……………
6.17
鉴定检验……………
6.27
型式检验……………
6.37
出厂检验……………
6.47
检验项目……………
6.58
抽样方案及合格或不合格判断……………………
6.68
包装运输标志…………………………
7、、8
包装…………………
7.18
运输…………………
7.28
标志…………………
7.38
Ⅰ
GB/T29299—2012
前言
本标准按照给出的规则起草
GB/T1.1—2009。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任
。。
本标准由中国机械工业联合会提出
。
本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会归口
(SAC/TC284)。
本标准负责起草单位湖北华中光电科技有限公司
:。
本标准参加起草单位孝感华中精密仪器有限公司湖北富华精密光电有限公司
:、。
本标准主要起草人刘博朱晓旭程刚张红坤周泽武
:、、、、。
Ⅲ
GB/T29299—2012
半导体激光测距仪通用技术条件
1范围
本标准规定了半导体激光测距仪的要求试验方法检验规则包装运输和标志等内容
、、、、。
本标准适用于半导体激光测距类仪器
。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件
。,()。
计数抽样检验程序第部分按接收质量限检索的逐批检验抽样计划
GB/T2828.11:(AQL)
周期检验计数抽样程序及表适用于对过程稳定性的检验
GB/T2829()
包装运输包装件跌落试验方法
GB/T4857.5
包装运输包装件基本试验第部分正弦变频振动试验方法
GB/T4857.1010:
可靠性试验第部分试验条件和统计检验原理
GB/T5080.11:
激光产品的安全第部分设备分类要求和用户指南
GB7247.11:、
激光设备和设施的电气安全
GB/T10320
光学和光学仪器环境试验方法第部分低温高温湿热
GB/T12085.22:、、
光学和光学仪器环境试验方法第部分滴水淋雨
GB/T12085.77:、
光学和光学仪器环境试验方法第部分长霉
GB/T12085.1111:
机电产品包装通用技术条件
GB/T13384
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