GB/T 29299-2012半导体激光测距仪通用技术条件

ICS31260

L51.

中华人民共和国国家标准

GB/T29299—2012

半导体激光测距仪通用技术条件

Generalspecificationofsemiconductorlaserrangefinder

2012-12-31发布2013-06-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T29299—2012

目次

前言…………………………

Ⅲ

范围………………………

11

规范性引用文件…………………………

21

术语和定义………………

31

要求………………………

42

技术要求……………

4.12

性能要求……………

4.23

环境适应性要求……………………

4.33

可靠性要求…………………………

4.44

试验方法…………………

55

技术要求试验………………………

5.15

性能要求试验………………………

5.25

环境适应性要求试验………………

5.36

可靠性要求试验……………………

5.47

检验规则…………………

67

一般规则……………

6.17

鉴定检验……………

6.27

型式检验……………

6.37

出厂检验……………

6.47

检验项目……………

6.58

抽样方案及合格或不合格判断……………………

6.68

包装运输标志…………………………

7、、8

包装…………………

7.18

运输…………………

7.28

标志…………………

7.38

Ⅰ

GB/T29299—2012

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本标准由中国机械工业联合会提出

。

本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会归口

(SAC/TC284)。

本标准负责起草单位湖北华中光电科技有限公司

:。

本标准参加起草单位孝感华中精密仪器有限公司湖北富华精密光电有限公司

:、。

本标准主要起草人刘博朱晓旭程刚张红坤周泽武

:、、、、。

Ⅲ

GB/T29299—2012

半导体激光测距仪通用技术条件

1范围

本标准规定了半导体激光测距仪的要求试验方法检验规则包装运输和标志等内容

、、、、。

本标准适用于半导体激光测距类仪器

。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

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周期检验计数抽样程序及表适用于对过程稳定性的检验

GB/T2829()

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GB/T4857.1010:

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激光产品的安全第部分设备分类要求和用户指南

GB7247.11:、

激光设备和设施的电气安全

GB/T10320

光学和光学仪器环境试验方法第部分低温高温湿热

GB/T12085.22:、、

光学和光学仪器环境试验方法第部分滴水淋雨

GB/T12085.77:、

光学和光学仪器环境试验方法第部分长霉

GB/T12085.1111:

机电产品包装通用技术条件

GB/T13384