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文档简介
3.2
结型场效应管3.3
场效管应用原理3.1
MOS场效应管第3章场效应管2021/8/231最新PPT概述场效应管是另一种具有正向受控作用的半导体器件。它体积小、工艺简单,器件特性便于控制,是目前制造大规模集成电路的主要有源器件。场效应管与三极管主要区别:
场效应管输入电阻远大于三极管输入电阻。
场效应管是单极型器件(三极管是双极型器件)。场效应管分类:MOS场效应管结型场效应管2021/8/232最新PPT3.1
MOS场效应管P沟道(PMOS)
N沟道(NMOS)
P沟道(PMOS)N沟道(NMOS)MOSFET增强型(EMOS)
耗尽型(DMOS)
N沟道MOS管与P沟道MOS管工作原理相似,不同之处仅在于它们形成电流的载流子性质不同,因此导致加在各极上的电压极性相反。2021/8/233最新PPTN+N+P+P+PUSGD3.1.1增强型MOS场效应管N沟道EMOSFET结构示意图源极漏极衬底极SiO2绝缘层金属栅极P型硅衬底SGUD电路符号l沟道长度W沟道宽度2021/8/234最新PPT
N沟道EMOS管外部工作条件VDS>0(保证漏衬PN结反偏)。U接电路最低电位或与S极相连(保证源衬PN结反偏)。VGS>0(形成导电沟道)PP+N+N+SGDUVDS-+-+
VGS
N沟道EMOS管工作原理栅衬之间相当于以SiO2
为介质的平板电容器。2021/8/235最新PPT
N沟道EMOSFET沟道形成原理
假设VDS=0,讨论VGS
作用PP+N+N+SGDUVDS=0-+VGS形成空间电荷区并与PN结相通VGS衬底表面层中负离子、电子VGS开启电压VGS(th)形成N型导电沟道表面层n>>pVGS
越大,反型层中n
越多,导电能力越强。反型层2021/8/236最新PPTVDS
对沟道的控制(假设VGS>VGS(th)
且保持不变)VDS
很小时→VGDVGS。此时W
近似不变,即Ron
不变。由图
VGD=VGS-VDS因此VDS→ID
线性。
若VDS→则VGD→近漏端沟道→Ron增大。此时Ron→ID变慢。PP+N+N+SGDUVDS-+VGS-+PP+N+N+SGDUVDS-+VGS-+2021/8/237最新PPT
当VDS
增加到使VGD=VGS(th)
时→A点出现预夹断
若VDS
继续→A点左移→出现夹断区此时VAS=VAG+VGS=-VGS(th)+VGS(恒定)若忽略沟道长度调制效应,则近似认为l
不变(即Ron不变)。因此预夹断后:PP+N+N+SGDUVDS-+VGS-+APP+N+N+SGDUVDS-+VGS-+AVDS→ID
基本维持不变。
2021/8/238最新PPT
若考虑沟道长度调制效应则VDS→沟道长度l→沟道电阻Ron略。因此VDS→ID
略。由上述分析可描绘出ID
随VDS变化的关系曲线:IDVDSOVGS–VGS(th)VGS一定曲线形状类似三极管输出特性。2021/8/239最新PPTMOS管仅依靠一种载流子(多子)导电,故称单极型器件。
三极管中多子、少子同时参与导电,故称双极型器件。
利用半导体表面的电场效应,通过栅源电压VGS
的变化,改变感生电荷的多少,从而改变感生沟道的宽窄,控制漏极电流ID。MOSFET工作原理:2021/8/2310最新PPT由于MOS管栅极电流为零,故不讨论输入特性曲线。共源组态特性曲线:ID=f
(VGS)VDS=常数转移特性:ID=f
(VDS)VGS=常数输出特性:
伏安特性+TVDSIG
0VGSID+--转移特性与输出特性反映场效应管同一物理过程,它们之间可以相互转换。2021/8/2311最新PPT
NEMOS管输出特性曲线
非饱和区特点:ID
同时受VGS
与VDS
的控制。当VGS为常数时,VDSID近似线性,表现为一种电阻特性;ID/mAVDS/VOVDS=VGS–
VGS(th)VGS=5V3.5V4V4.5V当VDS为常数时,VGSID,表现出一种压控电阻的特性。沟道预夹断前对应的工作区。条件:VGS>VGS(th)V
DS<VGS–VGS(th)因此,非饱和区又称为可变电阻区。
2021/8/2312最新PPT数学模型:此时MOS管可看成阻值受VGS
控制的线性电阻器:VDS很小MOS管工作在非饱区时,ID与VDS之间呈线性关系:其中,W、l为沟道的宽度和长度。COX
(=/OX)为单位面积的栅极电容量。注意:非饱和区相当于三极管的饱和区。2021/8/2313最新PPT
饱和区特点:
ID
只受VGS
控制,而与VDS
近似无关,表现出类似三极管的正向受控作用。ID/mAVDS/VOVDS=VGS–
VGS(th)VGS=5V3.5V4V4.5V沟道预夹断后对应的工作区。条件:VGS>VGS(th)V
DS>VGS–VGS(th)考虑到沟道长度调制效应,输出特性曲线随VDS
的增加略有上翘。注意:饱和区(又称有源区)对应三极管的放大区。2021/8/2314最新PPT数学模型:若考虑沟道长度调制效应,则ID
的修正方程:工作在饱和区时,MOS管的正向受控作用,服从平方律关系式:其中,称沟道长度调制系数,其值与l有关。通常
=(0.005~0.03)V-12021/8/2315最新PPT
截止区特点:相当于MOS管三个电极断开。ID/mAVDS/VOVDS=VGS–
VGS(th)VGS=5V3.5V4V4.5V沟道未形成时的工作区条件:VGS<VGS(th)ID=0以下的工作区域。IG
0,ID
0
击穿区VDS
增大到一定值时漏衬PN结雪崩击穿
ID剧增。VDS沟道l对于l较小的MOS管穿通击穿。2021/8/2316最新PPT由于MOS管COX
很小,因此当带电物体(或人)靠近金属栅极时,感生电荷在SiO2
绝缘层中将产生很大的电压VGS(=Q/COX),使绝缘层击穿,造成MOS管永久性损坏。MOS管保护措施:分立的MOS管:各极引线短接、烙铁外壳接地。MOS集成电路:TD2D1D1D2
一方面限制VGS
间最大电压,同时对感生电荷起旁路作用。2021/8/2317最新PPT
NEMOS管转移特性曲线VGS(th)=3VVDS
=5V转移特性曲线反映VDS
为常数时,VGS
对ID
的控制作用,可由输出特性转换得到。ID/mAVDS/VOVDS=VGS–
VGS(th)VGS=5V3.5V4V4.5VVDS
=5VID/mAVGS/VO12345转移特性曲线中,ID=0时对应的VGS
值,即开启电压VGS(th)。2021/8/2318最新PPT
衬底效应
集成电路中,许多MOS管做在同一衬底上,为保证U与S、D之间PN结反偏,衬底应接电路最低电位(N沟道)或最高电位(P沟道)。若|VUS|
-+VUS耗尽层中负离子数因VGS
不变(G极正电荷量不变)ID
VUS
=0ID/mAVGS/VO-2V-4V根据衬底电压对ID
的控制作用,又称U极为背栅极。PP+N+N+SGDUVDSVGS-+-+阻挡层宽度
表面层中电子数
2021/8/2319最新PPT
P沟道EMOS管+-
VGSVDS+-
SGUDNN+P+SGDUP+N沟道EMOS管与P沟道EMOS管工作原理相似。即VDS<0、VGS<0外加电压极性相反、电流ID
流向相反。不同之处:电路符号中的箭头方向相反。ID2021/8/2320最新PPT3.1.2耗尽型MOS场效应管SGUDIDSGUDIDPP+N+SGDUN+N沟道DMOSNN+P+SGDUP+P沟道DMOSDMOS管结构VGS=0时,导电沟道已存在沟道线是实线2021/8/2321最新PPT
NDMOS管伏安特性ID/mAVDS/VOVDS=VGS–VGS(th)VGS=1V-1.5V-1V-0.5V0V0.5V-1.8VID/mAVGS/VOVGS(th)VDS>0,VGS
正、负、零均可。外部工作条件:DMOS管在饱和区与非饱和区的
ID表达式与EMOS管
相同。PDMOS与NDMOS的差别仅在于电压极性与电流方向相反。2021/8/2322最新PPT3.1.3四种MOS场效应管比较
电路符号及电流流向SGUDIDSGUDIDUSGDIDSGUDIDNEMOSNDMOSPDMOSPEMOS
转移特性IDVGSOVGS(th)IDVGSOVGS(th)IDVGSOVGS(th)IDVGSOVGS(th)2021/8/2323最新PPT
饱和区(放大区)外加电压极性及数学模型VDS
极性取决于沟道类型N沟道:VDS>0,P沟道:VDS<0VGS
极性取决于工作方式及沟道类型增强型MOS管:VGS
与VDS
极性相同。耗尽型MOS管:VGS
取值任意。
饱和区数学模型与管子类型无关
2021/8/2324最新PPT
临界饱和工作条件
非饱和区(可变电阻区)工作条件|VDS|=|VGS–
VGS(th)||VGS|>|VGS(th)|,|VDS|>|VGS–VGS(th)||VGS|>|VGS(th)|,
饱和区(放大区)工作条件|VDS|<|VGS–VGS(th)||VGS|>|VGS(th)|,
非饱和区(可变电阻区)数学模型2021/8/2325最新PPTFET直流简化电路模型(与三极管相对照)
场效应管G、S之间开路,IG
0。三极管发射结由于正偏而导通,等效为VBE(on)。
FET输出端等效为压控电流源,满足平方律方程:三极管输出端等效为流控电流源,满足IC
=
IB
。SGDIDVGSSDGIDIG0ID(VGS)+-VBE(on)ECBICIBIB+-2021/8/2326最新PPT3.1.4小信号电路模型MOS管简化小信号电路模型(与三极管对照)
gmvgsrdsgdsicvgs-vds++-
rds
为场效应管输出电阻:
由于场效应管IG
0,所以输入电阻rgs。而三极管发射结正偏,故输入电阻rbe
较小。与三极管输出电阻表达式rce1/(ICQ)
相似。rbercebceibic+--+vbevcegmvbe2021/8/2327最新PPTMOS管跨导通常MOS管的跨导比三极管的跨导要小一个数量级以上,即MOS管放大能力比三极管弱。2021/8/2328最新PPT
计及衬底效应的MOS管简化电路模型考虑到衬底电压vus
对漏极电流id
的控制作用,小信号等效电路中需增加一个压控电流源gmuvus。gmvgsrdsgdsidvgs-vds++-gmuvusgmu
称背栅跨导,工程上
为常数,一般=0.1~0.2。2021/8/2329最新PPTMOS管高频小信号电路模型当高频应用、需计及管子极间电容影响时,应采用如下高频等效电路模型。gmvgsrdsgdsidvgs-vds++-CdsCgdCgs栅源极间平板电容漏源极间电容(漏衬与源衬之间的势垒电容)栅漏极间平板电容2021/8/2330最新PPT场效应管电路分析方法与三极管电路分析方法相似,可以采用估算法分析电路直流工作点;采用小信号等效电路法分析电路动态指标。3.1.5
MOS管电路分析方法场效应管估算法分析思路与三极管相同,只是由于两种管子工作原理不同,从而使外部工作条件有明显差异。因此用估算法分析场效应管电路时,一定要注意自身特点。
估算法2021/8/2331最新PPT
MOS管截止模式判断方法假定MOS管工作在放大模式:放大模式非饱和模式(需重新计算Q
点)N沟道管:VGS<VGS(th)P沟道管:VGS>VGS(th)截止条件
非饱和与饱和(放大)模式判断方法a)由直流通路写出管外电路VGS与ID
之间关系式。c)联立解上述方程,选出合理的一组解。d)判断电路工作模式:若
|VDS|>|VGS–VGS(th)|若
|VDS|<|VGS–VGS(th)|b)利用饱和区数学模型:2021/8/2332最新PPT例1已知nCOXW/(2l)=0.25mA/V2,VGS(th)=2V,求ID。解:假设T工作在放大模式VDD(+20V)1.2M4kTSRG1RG2RDRS0.8M10kGID代入已知条件解上述方程组得:ID=1mAVGS=4V及ID=2.25mAVGS=-1V(舍去)VDS=VDD
-
ID(RD+RS)=6V因此验证得知:VDS>VGS–VGS(th),VGS>VGS(th),假设成立。2021/8/2333最新PPT
小信号等效电路法场效应管小信号等效电路分法与三极管相似。
利用微变等效电路分析交流指标。
画交流通路;
将FET用小信号电路模型代替;
计算微变参数gm、rds;注:具体分析将在第4章中详细介绍。2021/8/2334最新PPT3.2结型场效应管JFET结构示意图及电路符号SGDSGDP+P+NGSDN沟道JFETP沟道JFETN+N+PGSD2021/8/2335最新PPT
N沟道JFET管外部工作条件VDS>0(保证栅漏PN结反偏)VGS<0(保证栅源PN结反偏)3.2.1
JFET管工作原理P+P+NGSD
+
VGSVDS+-2021/8/2336最新PPT
VGS
对沟道宽度的影响|VGS|
阻挡层宽度若|VGS|
继续沟道全夹断使VGS=VGS(off)夹断电压若VDS=0NGSD
+
VGSP+P+N型沟道宽度沟道电阻Ron2021/8/2337最新PPTVDS
很小时→VGDVGS由图VGD=VGS
-VDS因此VDS→ID
线性
若VDS→则VGD→近漏端沟道→Ron
增大。此时Ron→ID变慢
VDS
对沟道的控制(假设VGS一定)NGSD
+VGSP+P+VDS+-此时W
近似不变即Ron
不变2021/8/2338最新PPT
当VDS
增加到使VGD=VGS(off)
时→A点出现预夹断
若VDS
继续→A点下移→出现夹断区此时VAS=VAG
+VGS
=-VGS(off)+VGS(恒定)若忽略沟道长度调制效应,则近似认为l
不变(即Ron不变)。因此预夹断后:VDS→ID
基本维持不变。NGSD
+VGSP+P+VDS+-ANGSD
+VGSP+P+VDS+-A2021/8/2339最新PPT利用半导体内的电场效应,通过栅源电压VGS的变化,改变阻挡层的宽窄,从而改变导电沟道的宽窄,控制漏极电流ID。JFET工作原理:综上所述,JFET与MOSFET工作原理相似,它们都是利用电场效应控制电流,不同之处仅在于导电沟道形成的原理不同。2021/8/2340最新PPT
NJFET输出特性
非饱和区(可变电阻区)特点:ID
同时受VGS
与VDS
的控制。条件:VGS>VGS(off)V
DS<VGS–VGS(off)3.2.2
伏安特性曲线线性电阻:ID/mAVDS/VOVDS=VGS–
VGS(off)VGS=0V-2V-1.5V-1V-0.5V2021/8/2341最新PPT
饱和区(放大区)特点:ID
只受VGS
控制,而与VDS
近似无关。ID/mAVDS/VOVDS=VGS–
VGS(off)VGS=0V-2V-1.5V-1V-0.5V数学模型:条件:VGS>VGS(off)V
DS>VGS–VGS(off)在饱和区,JFET的ID
与VGS
之间也满足平方律关系,但由于JFET与MOS管结构不同,故方程不同。2021/8/2342最新PPT
截止区特点:沟道全夹断的工作区条件:VGS<VGS(off)IG
0,ID=0
击穿区VDS
增大到一定值时近漏极PN结雪崩击穿ID/mAVDS/VOVDS=VGS–VGS(off)VGS=0V-2V-1.5V-1V-0.5V造成
ID
剧增。VGS
越负则VGD
越负相应击穿电压V(BR)DS
越小2021/8/2343最新PPT
JFET转移特性曲线同MOS管一样,JFET的转移特性也可由输出特性转换得到(略)。
ID=0时对应的VGS
值夹断电压VGS(off)。VGS(off)ID/mAVGS/VOIDSS(N沟道JFET)ID/mAVGS/VOIDSSVGS(off)
(P沟道JFET
)VGS=0时对应的ID
值饱和漏电流IDSS。2021/8/2344最新PPT
JFET电路模型同MOS管相同。只是由于两种管子在饱和区数学模型不同,因此,跨导计算公式不同。
JFET电路模型VGSSDGIDIG0ID(VGS)+-gmvgsrdsgdsidvgs-vds++-SIDGD(共源极)(直流电路模型)(小信号模型)利用得2021/8/2345最新PPT
各类FET管VDS、VGS
极性比较VDS极性与ID
流向仅取决于沟道类型VGS
极性取决于工作方式及沟道类型由于FET类型较多,单独记忆较困难,现将各类FET管VDS、VGS
极性及ID
流向归纳如下:N沟道FET:VDS>0,ID
流入管子漏极。P沟道FET:VDS<0,ID
自管子漏极流出。JFET管:VGS
与VDS
极性相反。增强型:VGS
与VDS
极性相同。耗尽型:VGS
取值任意。MOSFET管2021/8/2346最新PPT
场效应管与三极管性能比较项目
器件电极名称工作区导电类型输入电阻跨导三极管e极b极c
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