标准解读

GB/T 17416.2-1998 是一项中国国家标准,规定了使用X射线荧光光谱法来测定锆矿石中锆(Zr)和铪(Hf)含量的化学分析方法。该标准详细阐述了分析过程中的采样、制样、仪器校准、测定步骤以及结果计算与表示方法,旨在为锆矿石中这两种元素的定量分析提供统一、准确的技术指导。以下是该标准主要内容的概述:

适用范围

本标准适用于不同类型的锆矿石样品,包括原矿、精矿及其它含有锆和铪的矿物原料,目的是准确测定其中锆和铪的含量。

术语和定义

虽然具体术语在标准中会有详细说明,但大致会涉及X射线荧光光谱分析的基本概念,如基体效应、校正系数等。

采样与制样

  • 采样:需遵循代表性原则,确保样品能反映整个矿石的成分特征。
  • 制样:样品经过破碎、混匀、缩分等步骤制成适宜粒度的试样,以适应X射线荧光光谱仪的分析要求。

仪器与设备

  • 规定了X射线荧光光谱仪的技术要求,包括能量分辨率、检测限、稳定性等指标,确保分析结果的准确性。
  • 需要配备合适的样品制备工具,如研磨机、压片机等,用于将样品制备成适合分析的状态(如压片)。

测定步骤

  1. 仪器校准:使用含锆、铪的标准参考物质对仪器进行校准,建立元素浓度与荧光强度之间的关系。
  2. 样品分析:将制备好的样品放置于X射线荧光光谱仪中,通过激发样品产生的X射线荧光光谱,测定锆和铪的特征峰强度。
  3. 干扰校正:考虑并校正来自样品基体、其他元素或仪器本身可能引起的干扰因素。

结果计算与表示

  • 根据测得的荧光强度和校准曲线,计算出样品中锆和铪的含量。
  • 结果需按干基(扣除水分影响)表示,并给出必要的重复性与再现性数据,以评估分析方法的精密度。

质量控制

强调了实验室应有质量控制程序,包括空白试验、平行双样测定、定期使用标准物质进行核查等,以保证分析结果的可靠性和准确性。

安全与环保

提及了在样品处理和分析过程中应遵守的安全操作规程和环境保护要求,确保人员安全和环境不受污染。

该标准通过规范化的流程和严格的技术要求,为行业内锆矿石中锆、铪含量的测定提供了科学依据,有助于提高分析效率和数据可靠性。


如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

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  • 被代替
  • 已被新标准代替,建议下载现行标准GB/T 17416.2-2010
  • 1998-06-17 颁布
  • 1999-01-01 实施
©正版授权
GB/T 17416.2-1998锆矿石化学分析方法X射线荧光光谱法测定锆量和铪量_第1页
GB/T 17416.2-1998锆矿石化学分析方法X射线荧光光谱法测定锆量和铪量_第2页
GB/T 17416.2-1998锆矿石化学分析方法X射线荧光光谱法测定锆量和铪量_第3页
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文档简介

ICS73.060D43中华人民共和国国家标准GB/T17416.2--1998锆矿石化学分析方法X射线荧光光谱法测定锆量和铃量MethodforchemicalanalysisofZirconiumores-DeterminationofZirconiumandHafniumcontents-X-rayfluorescencespectrometricmethod1998-06-17发布1999-01-01实施国家质量技术监督局发布

GB/T17416.2-1998前近年来,地质矿产部实验系统对稀有、稀土元素的测试,做了大量工作,积累了极其丰富的经验,不少方法的质量水平已达到标准要求。本标准在现有分析方法中,按准确、先进、简便、实用原则筛选制订。本标准由中华人民共和国地质矿产部提出。本标准由地质矿产部沈阳综合岩矿测试中心技术归口。本标准起草单位:地矿部沈阳综合岩矿测试中心。本标准主要起草人:才书林、

中华人民共和国国家标准错矿石化学分析方法X射线荧光光谱法测定错量和铃量GB/T17416.2-1998MethodforchemicalanalysisofZirconiumores-DeterminationofZirconiumandHafniumcontents-K-rayfluorescencespectrometricmethod1范围本标准规定了错矿石中锆含量和铃含量的测定方法,本标准适用于错矿石,也适用于其他稀有金属矿石中错含量和铃含量的测定。。测定范围:16×10-~8.7×10-"二氧化错;34×10-6~3.0×10-”二氧化铃。2引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成的本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效,所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性、GB1.4一88标准化工作导则化学分析方法标准编写规定GB/T14505—93岩石和矿石化学分析方法标准的总则及一般规定方法提要试样用四硼酸锂、氟化锂混合熔剂以1:5的样品熔剂比熔融成玻璃片,用X射线荧光光谱法测定。用国家级标准物质和光谱纯试剂按适当比例配制的标准样品以及国家级标准物质作为校准标准,用理论影响系数法校正元素间的吸收-增强效应,4试剂ZrO,,HIO,光谱纯,在105℃烘4h.4.2Na.CO,MgO.Al.O:SiO.KH.PO:CaCO:TiO.MnO.Fe.OaZrO.HfO.SrCO:分析纯,在105℃烘4h。4.3无水四硼酸锂X射线荧光光谱分析专用试剂,在700C灼烧2h。4.4氟化锂优级纯,在105℃烘4h。4.5混合熔剂称取200g无水四硼酸锂(4.3),12g氟化锂(4.4)于大玻璃乳钵中,轻轻仔细混勺,分装于若干个300mL烧杯中,在105℃烘4h.置于干燥器中冷却,备用。5仪器5.1《X射线荧光光谱仪。5.2培样机温度不低于115

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