标准解读

《GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理》作为一项技术标准，为半导体集成电路中的采样/保持放大器(S/H Amplifier)提供了测试方法的指导原则。然而，您提供的对比文献或标准名称不完整，这使得直接对比具体变更内容变得不可能。不过，基于此类标准更新的一般趋势和行业实践，可以推测一些可能的变更方向，尽管这些并非针对某个特定对比标准的直接解读。

通常，技术标准随时间更新会涉及以下几个方面：

  1. 技术进步的反映：新版本的标准可能会纳入新技术、新材料或新测试方法的发展成果，以确保测试的准确性和适用性。对于采样/保持放大器而言，这可能包括对更高采样率、更宽频带、更低噪声或更小失真等性能指标的测试要求。

  2. 测试精度与效率提升：随着测量设备和分析技术的进步，新标准可能会提出更加精确的测试参数定义，以及更高效的测试流程，以减少测试时间和成本，同时提高测试结果的可重复性和可靠性。

  3. 标准化术语和定义的统一：为了国际兼容性和行业内的交流便利，标准更新时往往会调整或新增术语定义，使之与国际标准或行业内最新共识保持一致。

  4. 环境和可靠性要求的增强：考虑到电子设备在不同应用环境下的表现，新标准可能会加强对工作温度范围、湿度、电磁兼容性(EMC)等方面的测试要求，以确保器件在恶劣条件下的稳定性和可靠性。

  5. 安全与合规性要求：遵循全球各地不断演进的安全法规和环保要求，标准更新时可能会增加关于产品安全测试、材料限制（如RoHS指令）等方面的内容。

由于没有具体的对比标准提供，以上仅为一般性推测，实际的变更内容需要依据完整的标准文档进行详细比对才能确定。


如需获取更多详尽信息，请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1993-01-21 颁布
  • 1993-08-01 实施
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GB/T 14115-1993半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理_第1页
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文档简介

UDC621.382：621.375L56中华人民共和国国家标准GB/T14115—93半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理GeneralprinciplesofmeasuringmethodsofSample/Holdamplifiersforsemiconductorintegratedcircuits1993-01-21发布1993-08-01实施国家技术监督局发发布

中华人民共和国国家标准半导体集成电路采样/保持放大器GB/T14115-93测试方法的基本原理GeneralprinciplesofmeasuringmethodsofSample/Holdamplifiersforsemiconductorintegratedcireuits主题内容与适用范围本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。引用标准GB3439半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理GB3442半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理3总的要求3.1若无特殊说明,测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定：3.2测试期间，施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定。3.3测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响,测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定3.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。3.5若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源。3.6测试期间，被测器件应按器件详细规范规定连接外围电路和补偿网络。3.7如需外接保持电容C。时，保持电容器应符合测试要求。在测试电路安排上应尽量减小外电路对保持电容的馈通与泄漏。3.8若电参数值是由几步测试的结果经计算确定时,这些测试的时间间隔应尽可能短.4参数测试4.1线性误差E4.1.1目的测试器件在采样状态时实际转移特性曲线与最佳拟合直线间的最大相对偏差。4.1.2测试原

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