标准解读

《GB/T 11682-2008 低本底α和/或β测量仪》相比于《GB/T 11682-1989 低本底α测量仪》,主要在以下几个方面进行了调整和扩充:

  1. 测量范围扩展:最显著的变化是新标准将测量对象从单一的α辐射扩展到了同时包括α和β辐射的测量,这反映了技术进步带来的更广泛的应用需求。

  2. 技术指标更新:鉴于科技进步和对测量精度要求的提高,2008版标准对测量仪的性能指标如探测效率、能量分辨率、背景计数率等提出了更严格的要求,以确保测量结果的准确性和可靠性。

  3. 测试方法优化:新标准引入了更为详细和科学的测试方法和校准程序,指导用户如何正确评估测量仪的性能,包括背景测量、能量响应、稳定性和重复性测试等,提高了测量过程的标准化和规范化水平。

  4. 安全与环境要求:考虑到操作安全和环境保护的重要性,2008版标准增加了对测量仪在使用、维护及废弃处理过程中的安全和环保要求,确保符合当前的法律法规和国际安全标准。

  5. 适用范围界定:对测量仪的适用范围和分类做了更明确的规定,便于用户根据实际需要选择合适的测量设备,同时也为生产商提供了清晰的产品设计和生产指南。

  6. 术语与定义:随着技术和应用的发展,新标准对相关专业术语进行了修订和补充,使得标准内容更加准确和易于理解。

  7. 质量控制:强调了质量控制体系在生产、检验和使用过程中的重要性,要求制造商建立和完善相应的质量管理体系,以保证产品的持续符合性和稳定性。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2008-07-02 颁布
  • 2009-04-01 实施
©正版授权
GB/T 11682-2008低本底α和/或β测量仪_第1页
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文档简介

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犉84

中华人民共和国国家标准

犌犅/犜11682—2008

代替GB/T11682—1989

低本底α和/或β测量仪

犔狅狑犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱犪犾狆犺犪犪狀犱/狅狉犫犲狋犪犿犲犪狊狌狉犻狀犵犻狀狊狋狉狌犿犲狀狋狊

20080702发布20090401实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

犌犅/犜11682—2008

前言

本标准代替GB/T11682—1989《低本底α测量仪》。

本标准与GB/T11682—1989相比作了如下修改:

———标准名称修改为《低本底α和/或β测量仪》;

———增加了测量低本底β的内容;

———“规范性引用文件”中增加了引用的标准;

———“术语和定义”中增加了“串道比”的内容;

———增加α与β的相互干扰指标,即串道比指标;

———增加了仪器电磁兼容的要求和试验方法;

———增加了对仪器软件的通用要求;

———删除了“表1仪器分级”中本底稳定性的技术指标;

———删除了“表2改变影响量的项目和要求”中变化限值和本底计数率的技术要求。

本标准的附录A为规范性附录。

本标准由中国核工业集团公司提出。

本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC/TC30)归口。

本标准起草单位:中核(北京)核仪器厂。

本标准主要起草人:杨彬华、文建生、吴炳麟。

本标准所代替标准的历次版本发布情况为:

———GB/T11682—1989。

犌犅/犜11682—2008

低本底α和/或β测量仪

1范围

本标准规定了低本底α和/或β测量仪的技术要求、试验方法和检验规则。

本标准适用于测量弱α、β放射性活度或表面发射率的仪器,也适用于多用途仪器中的测量弱α或β

放射性的部分。

本标准不适用于测量α或β能谱类型的仪器。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有

的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究

是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。

GB/T4078放射性测量用样品托盘、瓶子和试管的尺寸

GB/T8993—1998核仪器环境条件与试验方法

GB/T10257—2001核仪器和核辐射探测器质量检验规则

GB/T17799.1—1999电磁兼容通用标准居住、商业和轻工业环境中的抗扰度试验

GB/T19661.1—2005核仪器及系统安全要求第1部分:通用要求

GB/T19661.2核仪器及系统安全要求第2部分:放射性防护要求

3术语和定义

下列术语和定义适用于本标准。

3.1

本底犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱

非起因于待测物理量的信号。

3.2

仪器本底犻狀狊狋狉狌犿犲狀狋犪犾犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱

仪器在正常工作条件下,样品盘中无放射源时,仪器的指示值。

3.3

空白样品犫犾犪狀犽狊犪犿狆犾犲

由无外加放射性但与样品相同的物质,按正常程序制作的待测平面样品。

3.4

空白样品本底犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱狅犳犫犾犪狀犽狊犪犿狆犾犲

仪器在正常工作条件下,测量空白样品的指示值。

3.5

本底计数犫犪犮犽犵狉狅狌狀犱犮狅狌

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