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文档简介

123741检具方案戴利波2017.1.11整体部分第5页(作为C基准定位)使用塞规检测第7页(用百分表检测)第8页(用百分表检测)第6页(用塞规检测)第10页(用塞规检测)第9页(用塞规检测)定位部分A1B定位部分A2C3MM间隙1.检测7#KPC尺寸2.用活动式模拟块,与理论3MM间隙(3-0.2=2.83+0.2=3.2)用止通规G2.8-NG3.2检测,3.通规2.8制造公差为+0.01,止规3.2制造公差为-0.01轮廓度上面的五个打表点1.检测4#KPC尺寸2.使用百分表检测,判定方法为,用校零块对百分表校正,5#尺寸在+/-1,6#尺寸+/-0.7则合格,反之则不合格轮廓度侧面的五个打表点内侧不容易实现检测,现放入外侧检测1.检测5#KPC尺寸2.使用百分表检测,判定方法为,用校零块对百分表校正,5#尺寸在+/-1,6#尺寸+/-0.7则合格,反之则不合格手持块检测1.检测9#KPC尺寸2.用手持式检测块,G9.2,NG9(理论9.1,通规9.1+0.1=9.2.止规9.1-0.1=9)3.通规9.2制造公差为-0.01,止规9制造公差为+0.01GNG手持块检测GNG1.检测11#KPC尺寸2.用手持式检测块,G9.2,NG9(理论9.1,通规9.1+0.1=9.2.止规9.1-0.1=9)3.

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