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G-M计数器特性研究10300190088林秩先指导教授：乐永康实验仪器萊宝X光机多功能脉冲分析仪数字示波器控制电脑G-M计数器原理柱状对称电场雪崩放电阳极周围“正离子鞘”放电终止引自《近代物理实验补充讲义》死时间恢复时间分辩时间“正离子鞘”减弱电场，阻止放电场强恢复至可持续放电脉冲强度超过触发阈值引起计数正离子达到阴极，电场恢复死时间分辨时间恢复时间脉冲间隔小于分辩时间引起漏计！

参数对输出脉冲的影响采样电阻R电源电压U脉冲的强度，宽度随采样电阻R增大而增大脉冲强度随电压U呈线性增大，宽度无明显关系R增大微分积分过程对脉冲影响微分积分原输出原输出DIV＝0.01uFINT＝0.01uFDIV＝0.22uFINT＝0.22uF脉冲变窄，有下冲测量分辨时间微分不经微分经微分分辩时间t＝261uS分辩时间t＝145uS光管HV＝16.7kVGM计数管＝500VR＝25kΩ

直接计数与微分处理后计数对比分辨时间减小在高计数率的情况下，线性关系良好

微分无微分坪曲线特性时间统计分辨规律泊松分布光管HV＝17.6kVGM计数管＝500VR＝25kΩ电流I＝0.20mA高斯分布离散性概率分布当泊松分布中时，两者接近，泊松分布可以用高斯分布来描写

实验测量了采样电阻25kΩ,X光机电压16.7kV，电流0.20mA，GM计数管电压515V，情况下相邻N＋1个计数脉冲之间的时间间隔t分布N＝1N＝5N＝10N＝5N＝15数值模拟：随即产生3000个正整数，保证这些数值的平均值恒定，对生成数据进行统计与先前的统计曲线重合度较高，说明时间间隔统计是一个比较好的泊松分布N＝5N＝15总结引入微分电路，减小分辨时间，改善计数特性研究采样电阻，电源电压对脉冲影响测量分辩时间验证GM计数器时间统计服从泊松分布，且泊松分布在平均值较大的时候与高斯分布相近致谢感谢乐永康老师的指导感谢秦佳俊同学关于统计分布规律，归一化处理与模拟高斯分布的指教感谢所有在334作实验同学的陪伴参考资料戴道宣.近代物理实验[M].北京:高等教育出版社,2006.9-17.近代物理实验补充讲义复旦大学教学实验中心刘国才.GM计数管死时间及其对辐射测量的影响[J].核电子学与探测技术1990(10).292-96JorgW.MullerGeneralizeddeadtime,NuclearInst

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